芯片检测高低温交变湿热试验箱

芯片检测高低温交变湿热试验箱

芯片检测高低温交变湿热试验箱

产品用途

本系列试验设备是航空、汽车、家电、科研等领域必备的测试设备，用于测试和确定电子电工、材料及其他产品在进行高温、低温、或恒定湿热试验的温度环境变化后的参数及性能。

芯片检测高低温交变湿热试验箱

满足哪些标准？

符合标准: GB/T5170.5-2008、GB/T10586-2006、GB/T2423.3-2006

芯片检测高低温交变湿热试验箱

箱体结构特点

( Constanttemperature and humidity test chamber )
箱体采用数控机床加工成型，造型美观大方、新颖并采用无反作用把手，操作简便。
箱体内胆采用进口高级不锈钢（SUS304）镜面板或304B氩弧焊制作而成，箱体外胆采用A3钢板喷塑。
采用微电脑温度湿度控制器，控温控湿精确可靠。（TT-5166）
大型观测视窗附照明灯保持箱内明亮，且采用双层玻璃，随时清晰的观测箱内状况。
设有独立限温报警系统，超过限制温度即自动中断，保证实验安全运行不发生意外。
可选配记录仪，打印机能打印记录设定参数和扫描出温湿度变化曲线，4～20mA标准信号。
箱体左侧配直径50mm的测试孔。

芯片检测高低温交变湿热试验箱

 规格与技术参数
型号:SMD-150PF

工作室尺寸(W*H*D)MM  500*600*500

外形尺寸(W*H*D)MM 750*1550*950 

功率:  4.0(KW)
温度范围:   -70℃～150℃
湿度范围;   20～98％R.H
波动/均匀度:  ±0.5℃/±2℃
湿度偏差: ＋2、-3％R.H
升温速率:  1.0～3.0℃/min  
降温速率:  0.7～1.0℃/min
控制器:    触摸屏集成控制器（TT-5166）
精度范围:  设定精度：温度±0.1℃、湿度±1％R.H，指示精度：温度±0.1℃、湿度±1％R.H
传感器:   铂金电阻.PT100Ω/MV
加热系统:全独立系统，镍铬合金电加热式加热器
加湿系统:外置隔离式，全不锈钢浅表面蒸发式加湿器
除湿系统:采用蒸发器盘管露点温度层流接触除湿方式
供水系统:加湿供水采用自动控制.且可回收余水.节水降耗
制冷系统:法国原装“泰康”全封闭风冷式压缩机制冷方式
循环系统:耐温低噪音空调型电机.多叶式离心风轮
外箱材质:优质碳素钢板.磷化静电喷塑处理/SUS304不锈钢雾面线条发纹处理
内箱材质: SUS304不锈钢优质镜面光板
保温材质:聚氨酯硬质发泡/超细玻璃纤维绵
门框隔热:双层耐高低温老化硅橡胶门密封条
标准配置:附照明玻璃视窗1套、试品架2个、测试引线孔（25、50、100mm）1个
安全保护:漏电、短路、超温、缺水、电机过热、压缩机超压、过载、过电流保护/控制器停电记忆
电源电压:AC220V±10％50±0.5Hz
使用环境温度: 5℃～＋30℃≤85％R.H
注：1、“SM”为恒温恒湿试验箱型号。
    2、以上数据均在环境温度（RT）25℃工作室无负载条件下测得