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ELA EM探测器介绍
ELA 是我们用于电子能量损失谱 (EELS) 和四维扫描透射电子显微镜 (4D STEM) 应用的电子计数检测器。它可以检测弱反射和强反射，以实现高级衍射和成像研究，并允许快速元素映射。该探测器集成在 Gatan 4D-STEM 中。
简介 | ELA 是我们用于电子能量损失谱 (EELS) 和四维扫描透射电子显微镜 (4D STEM) 应用的电子计数检测器。它可以检测弱反射和强反射，以实现高级衍射和成像研究，并允许快速元素映射。该探测器集成在 Gatan 4D-STEM 中。 |
像素尺寸 [μm2] | 75x75 |
传感器材料 | 硅 (Si) |
能量范围 [keV] | 30 - 200 |
帧速率 (最大) [Hz] | 2,250 (16-bit); 4,500 (8-bit) |
探测光子效率 | 0.9 at 100 kV, 0.8 at 200 kV |
核心优势 | 这种混合像素电子探测器快速而灵敏，能够在电子能量损失光谱 (EELS) 和 4D 扫描透射电子显微镜 (STEM) 中进行先进数据收集。 |
应用领域 | -电子能量损失谱（EELS） -4D STEM |
介绍手册 | 点击阅读 ELA 介绍手册 |
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