核心参数
仪器种类: 场发射
分辨率: 0.2nm
加速电压: 0
放大倍率: 0
透射电子显微镜是唯一的提供在较高时间分辨率下得到原子级空间分辨率的实验手段。单倾TEM加热样品杆为TEM铜环样品提供室温到最高500摄氏度高温的原位变温环境的样品杆。
特点与指标:
系统包含加热样品杆与智能控温仪(含控温程序)两部分
电炉加热方式,螺纹环固定,适用于所有3mm铜环样品
铜环与加热器之间为紫铜导热材料,极好的热接触确保样品温度准确
变温范围:室温~500 ℃,温度测量分辨率优于0.1 ℃
系统包含的智能控温仪具有PID控温、模糊逻辑控温、手动控温三种控温方式,自动控温精度优于±0.5℃
不需冷却水,使用方便
样品漂移优于1.5nm/分钟(温度稳定后)
分辨率优于0.21nm
注:以上指标可能根据系统配置不同而略有变化
企业名称
沃根瑞特科技(北京)有限公司
企业信息已认证
企业类型
有限责任公司(自然人投资或控股)
信用代码
911101083397982509
成立日期
2015-04-27
注册资本
100万元
经营范围
技术开发、技术转让、技术咨询、技术服务、技术推广;销售机械设备、电子产品、计算机、软件及辅助设备、自行开发后的产品;货物进出口、技术进出口、代理进出口。(企业依法自主选择经营项目,开展经营活动;依法须经批准的项目,经相关部门批准后依批准的内容开展经营活动;不得从事本市产业政策禁止和限制类项目的经营活动.)
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