XRD 单晶衍射仪

X射线单晶衍射仪

X-ray Single Crystal Diffractometer System

1．用途及特点：

测定新化合物（晶态）分子的准确三维空间（包括键长、键角、构型、构象乃至成键电子密度）及分子在晶格中的实际排列状况；可以提供晶体的晶胞参数、所属空间群、晶体分子结构、分子间氢键和弱作用的信息以及分子的构型及构象等结构信息。它广泛用于化学晶体学、分子生物学、药物学、矿物学和材料科学等方面的分析研究。

精确测定无机物、有机物和金属配合物等结晶物质的三维空间结构和电子云密度，分析孪晶、无公度晶体、准晶等特殊材料结构；可精确测定无机分子、有机分子、矿质材料以及大生物分子的结构，提供全面的结构数据，并可按不同要求提供各种结构图、动态图。

2. 系统总体构成：

高性能混合像素光子直读探测器；

kappa 四圆测角仪；

X 射线金属陶瓷管（Mo 或 Cu）；

X 射线发生器；

单毛细管光学器件；

晶体样品液氮低温系统；

晶体样品监视系统；

X 光管的循环冷却水装置；

计算机控制系统；

系统控制和数据收集及数据分析软件。

3. 主要技术参数：

 3.1 X 射线发生器和光路系统：

3.1.1 X 射线发生器最大输出功率: 3000W；

3.1.2 最大管电压/通道：60 KV；

3.1.3 最大管电流/通道：50 ma；

3.1.4 电流电压稳定度： 8 小时内变化不超过± 0.1%；

3.1.5 X 射线管保护：过电压、过电流、冷却水异常保护；

 3.2 测角仪：

3.2.1 类型: kappa 四圆测角仪，步进马达定位，四个角度均可自由转动，满足常规晶体结构分析和专业晶体学研究需要；

3.2.2 角度分辨率：Omega 和 Theta 0.0001 度，Kappa 0.001 度，Phi 0.001 度；

3.2.3 扫描速度范围 0.005 - 3.0 度/秒；

3.2.4 theta 臂具有通用性，与公司所提供的其他探测器兼容；

 3.3. 晶体对中监视系统：CCD 摄像头加放大镜头，安装在仪器内部用于样品对心与调整；

 3.4 探测器：DECTRIS Pilatus混合像素光子计数探测器；

3.5 高性能计算机实现仪器控制及数据采集；

3.6 系统控制和数据处理软件：包括控制、维护、数据收集、数据还原和数据分析程序，以及处理孪晶和晶面吸收校正等功能。收集数据和还原数据同步进行；

3.7 液氮低温系统：温度范围 120 - 400 K，控温精度：± 0.1 K。