ORTEC γ能谱仪

新型数字化谱仪：DSPEC-LF，-jr2.0, -Pro & DigiDART



基本特征：
    小巧的外观，强大的功能。
    一切控制与参数设置由计算机进行。
    高的数据通过率：大于100Kcps (DSPEC-Pro大于130Kcps)。
    数字化稳谱、数字化自动极零、自动最优化、内置虚拟示波器和数字化门控基线恢复等功能。
    用户可预置多个核素的MDA，在所有MDA满足时自动终止计数。统一的“即插即用”式背面板接口，与DIM/Smart-1匹配，相互间具有良好的互换性与兼容
数字化自动极零：
    自动极零技术主要基于解决（中）高计数率情况下分辨率变差的问题。该技术最早与门控基线恢复和脉冲抗堆积功能一起，集中应用于ORTEC 672主放。

自动最优化功能：
    对于样品活度水平完全未知的情况，可以通过软件快速设置“自动最优化”功能，由系统快速选定最佳的参数设置。
零死时间校正（ZDT）：  
    在谱获取中，对于中子活化分析中计数率快速衰减、或是在线测量时突然出现的尖峰信号的情况，ZDT方法采用ORTEC精密的Gedcke-Hale时钟进行零死时间校正，以实现无损失计数（Loss-free Counting）。由软件可以快速选定这一功能。经校正的谱图和未经校正的谱图可以同时保存，以作进一步分析。ZDT在显示校正后的谱图的同时给出与之对应的不确定度。
低频抑制器（LFR）：
    LFR是一项新型的数字化滤波技术，主要用来消除来自于机械制冷、电源电压波动或接地不良等外部因素导致的低频噪声信号，从而使系统的分辨率得到进一步改善。用户可根据情况选择开启或关闭此项功能。
弹道亏损校正/虚拟示波器：(-Pro，-50)
    在系统采用相对效率较高的HPGe探测器或遭遇中子损伤的探测器时，弹道亏损效应（Ballistic Deficit）常导致分辨率变差甚至恶化（尤其在高能端），ORTEC数字化谱仪可以通过其内置虚拟示波器轻松解决这一问题：比如对207%的HPGe探测器，将平顶时间设为0.8μs，就能使分辨率达到理想水平。当然，也可以结合软件通过自动最优化功能轻松完成参数设置。

 技术参数：   
    最 大数据通过率: 大于100kcps; DSPEC-Pro在“增强通过率”模式下大于130kcps。
    增益：粗调：由计算机选定为1,2,4,8,16,或32；细调：由计算机设定为0.45至1.00。
    成形时间常数：上升时间：0.8至23 ms可调，每步0.2ms，由计算机选择；平顶：范围从0.3至2.4ms，每步0.1ms，由计算机选择。在自动最优化功能下自动调整。
    存储器分段（系统变换增益）：由计算机选择为16,384，8192，4096，2048，1024或512道。
    非线性：积分非线性：≤ ±0.025%；微分非线性：≤ ±1%
    数字化稳谱器: 由计算机控制并稳定增益和零点。
    温度系数：增益:<35ppm/°C；零点:<3 ppm/°C。
    过载恢复：在最大增益时，能在2.5倍的非过载脉冲宽度内从1000倍过载恢复至额定输出的2%以内。
    脉冲抗堆积：自动设定域值，脉冲对分辨率为500ns。
    自动数字化极零调节：由计算机控制，可以手动或自动设定，远程模拟示波器方式诊断。
    LLD/ULD：数字下域电平甄别器，以道为单位设置，LLD以下所有各道的计数被卡掉；数字上域电平甄别器， ULD以上所有各道的计数被卡掉。 数字化门控  基 线恢复器：可由计算机调节恢复频率（高、低或自动）。
    数据存储器：16,384道不丢失数据存储器，每道容量2³¹-1（20亿）计数。
    计数率显示：在谱仪或电脑屏幕上显示计数率。
    死时间校正：按Gedcke-Hale 法活时校正，精度（随峰面积而变化）： <+ 3% ( 0 – 50,000 cps)。
    显示/接口：240′160像素(pixel)背光液晶显示(LCD)提供谱的活显示和状态信息。USB2.0接口。
    尺寸与重量：-LF，-jr2.0, -Pro ：24.9D×20.3W×8.1 H cm, 1.0kg; DIM：11.2×3.13×6.5 cm, 240gDigiDart：20×10×7.5cm；重量：＜900克（含电池）；
    工作条件：-LF，-jr2.0, -Pro 5°C到50°C（包括LCD显示）。DigiDART -10°C到60°C
    操作系统：Windows 98/2000/XP/Vista/NT

DigiDART是一款便携式谱仪，但其性能指标好不逊色于实验室谱仪，完全可以代替实验室谱仪工作。