Xeva-1.7-320 TE3
在SWIR成像领域内的研究
稳定的TE3制冷型SWIR研究设备,准确记录每个光子
![](http://12124543.s21i-12.faiusr.com/4/ABUIABAEGAAgieuWxAUowOiuyQQw-AI4rAI.png)
在一个紧凑的外壳内, Xeva-1.7-320 (TE3)系列数码摄像机 集成了一台热电制冷型InGaAs探测器装置以及控制和通讯电子部件。
Xeva-1.7-320(TE3)系列可配备标准(可达1.7 μm)InGaAs 探测器阵列,并可提供各种速度版本: 60 Hz、100 Hz和 350 Hz。 其可允许您为您的特定应用选择最适合的探测器摄像机配置。
该摄像机装置可通过标准的USB 2.0或CameraLink接口连接到个人电脑。
每款摄像机均随附图解式用户界面软件Xeneth,其对各种摄像机设置进行直接读写,例如曝光时间和工作温度。 该软件套件包括两点均匀性修正和坏点替换功能。
优点和特点
1)制冷运行,可用于微光成像
一款具备更低暗电流的制冷型SWIR探测器,并且可用于更长积分时间
2)CameraLink和触发功能,适用于高速成像
CameraLink接口可适用于高数据速率——触发功能可用于高帧速率下的同步操作
3)从SWIR到可见光波段的扩展覆盖范围
VISNIR或可见光增强型InGaAs传感器,可实现从500到1700 nm范围的扩展响应
4)可将SWIR成像扩展到可见光范围
VISNIR或可见光增强型InGaAs传感器,可实现从500到1700 nm范围的扩展响应
5)开放性架构,可灵活编程
可为所有摄像机型号提供SDK(软件开发套件)——可提供用于C++、LabView、Linux的范例
6)高灵敏度,可用于微光条件
低噪音、低暗电流探测器,可实现扩展的积分时间
7)兼容光谱仪
这些摄像机配备光谱仪安装孔,使其适用于各种(高)光谱成像应用
8)热物体的热成像
SWIR摄像机是炽热金属(> 300摄氏度)热成像的理想选择
设计用于使用
1)高光谱成像
结合光谱成像和2D成像。 我们的SWIR摄像机可用于高光谱SWIR成像
2)微光分析
使用制冷型SWIR摄像机探测微弱的光线
3)R&D (SWIR领域)
SWIR领域是一个相对未开发的领域,因此可提供较多的研究机会
4)半导体检测
SWIR摄像机能够穿透硅材料
5)太阳能电池检测EL/PL
用于裂缝检测的检测技术或基于电致发光或光致发光效率映射
6)晶片光刻检测
SWIR摄像机能够穿透硅材料
特性
![](http://12124543.s21i-12.faiusr.com/4/ABUIABAEGAAgieuWxAUonqmfigQwQDhA.png)
兼容各种采集卡 Several compatible frame grabbers for CameraLink interface are available | ![](http://12124543.s21i-12.faiusr.com/4/ABUIABAEGAAgieuWxAUo1MWgkwQwQDhA.png)
多种镜头和滤光片可选 Various options for lenses and filters are available with C-mount interface |
![](http://12124543.s21i-12.faiusr.com/4/ABUIABAEGAAgieuWxAUoh936lgQwQDhA.png)
含红外(IR)软件 Xeneth camera control and imaging software is included | ![](http://12124543.s21i-12.faiusr.com/4/ABUIABAEGAAgieuWxAUokKDE3AYwQDhA.png)
触发 External trigger for signal synchronization |
![](http://12124543.s21i-12.faiusr.com/4/ABUIABAEGAAgieuWxAUo7pTQ7gIwQDhA.png)
开窗模式(ROI模式) Imaging in a reduced window of interest for increased frame rates | ![](http://12124543.s21i-12.faiusr.com/4/ABUIABAEGAAgieuWxAUo6NObLjBAOEA.png)
14 bit图像 Digitization: The camera uses a 14 bit ADC |
![](http://12124543.s21i-12.faiusr.com/4/ABUIABAEGAAgieuWxAUo2aHAhwMwQDhA.png)
TrueNUC图像修正 Non uniformity correction for a wide range of integration times | ![](http://12124543.s21i-12.faiusr.com/4/ABUIABAEGAAgieuWxAUoxJ776gQwQDhA.png)
多级制冷 Thermo-electric or Peltier cooling in 3 stages |
![](http://12124543.s21i-12.faiusr.com/4/ABUIABAEGAAgieuWxAUo6tfg7wMwQDhA.png)
高灵敏度 Detection of small signals | ![](http://12124543.s21i-12.faiusr.com/4/ABUIABAEGAAgieuWxAUokKf5mwIwQDhA.png)
高动态范围 High dynamic range mode available |
Array Specifications
Array Specifications | Xeva-1.7-320 TE3 |
Array type | InGaAs |
Spectral band | 0.9 μm to 1.7 μm |
Resolution | 320 x 256 |
Pixel pitch | 30 μm |
Array cooling | TE3-cooled |
Pixel operability | > 99 % |
Camera Specifications
Camera Specifications | 60 Hz | 100 Hz | 350 Hz |
Lens |
Focal length | 16 mm f/1.4 |
Optical interface | C-mount - Spectrograph fixation holes |
Imaging performance |
Maximum frame rate (full frame) | 60 Hz | 100 Hz | 350 Hz |
Integration type | Snapshot |
Integration time range | 1 μs - 100 s |
Noise level: Low gain | 6 AD counts on 14 bit |
Noise level: High gain | 15 AD counts on 14 bit |
S/N ratio: Low gain | 68 dB |
S/N ratio: High gain | 60 dB |
ADC | 12 bit or 14 bit |
Interfaces |
Camera control | USB 2.0 |
Image acquisition | USB 2.0 or CameraLink |
Trigger | TTL levels |
Graphical User Interface (GUI) | Xeneth Advanced |
Power requirements |
Power consumption | < 4 W without TEC operation; Max. 25 W with TE-cooling |
Power supply | 12 V |
Physical characteristics |
Camera cooling | Forced convection cooling |
Ambient operating temperature range | 0°C to 50°C |
Dimensions (W x H x L mm?) | 90 x 110 x 110 |
Weight camera head | +/- 1.8 kg |