JHR-800(A)偏光热台熔点仪

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一、仪器的用途

透反射偏光热台显微镜是地质、矿产、冶金、石油化工、化学纤维、半导体工业以及药品检验等部门和相关高等院校的高分子等专业最常用的实验仪器。透反射偏光显微镜可供广大用户做单偏光观察，正交偏光观察，锥光观察。高精度偏光热台是针对材料学、生物化学、冶金学、有机化学、高分子材料学的应用需求研制生产的。由它们组成的精度偏光熔点测量系统，广泛用于观察高聚物熔融和结晶过程中的形态；双折射体的光学效应；微生物的形貌；组织细胞核、细胞壁的形态；地质材料的偏光形态；多晶现象和液晶行为等。

二、技术参数 

1．目镜

2．物镜 

3.光学放大倍数：50X--600X
4.目镜管：转轴式（倾斜30°），内置检偏器,可自由切换正常观察与偏光观察,推入式
　勃氏镜,中心可调,λ补偿器,λ/4 补偿器,石英锲补偿器
5.透射照明：6V 20W卤素灯,亮度可调,起偏器可360°旋转有0、90、180、270四个读数
　反射照明: 6V 20W卤素灯,亮度可调, 起偏器可旋转；
6.载物台：机械式附加旋转台面 尺寸 φ100mm， 360°旋转
7.调焦机构：粗微动同轴，齿轮转动 , 带限位及调节松紧机构
8.聚光镜：阿贝聚光镜NA1.25，升降上下可调     防霉系统:特有防霉
9.高精度偏光热台(XPH-300)
　①工作温度：室温 至320℃(可达350℃)
　②起始温度设定速率：50℃至300℃小于12min ; 300℃至50℃小于15min
　③仪器温度最小读数：0.1℃
　④加热台温度控制准确度： 室温-200℃时:±0.5℃; 200-320℃时:±1℃
　⑤起始温度设定准确度：±1℃
　⑥线性升温速率（℃/min）：0.2；0.5 降温速度:可设置降到指定的温度,从而达到在此温度的恒温.
　⑦线性升温速率偏差：±10%　

三、系统组成 

电脑型 (XPR-800V)：1.显微镜 2.适配镜 3.摄像器   4.A/D(图像采集) 5.高精度热台XPH-300
数码型 (XPR-800D)：1.显微镜 2.适配镜 3.数码相机 4.高精度热台XPH-300