JHR-500(A)偏光热台熔点仪

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一、仪器的用途

高精度偏光恒温热台是专为材料学、生物化学、冶金学、有机化学、高分子及纳米材料学研制生产的，它和偏光显微镜配套使用，构成高精度的偏光熔点测量系统。在微观上观察物体溶化、升华、结晶过程中的状态和各种变化。该仪器采用人性化设计，自动化程度高，操作简单，技术先进，性能优秀，结构新颖可靠，在该领域处于领先水平。透射偏光热台显微镜成为了地质、矿产、冶金、石油化工、化学纤维、半导体工业以及药品检验等部门和相关高等院校的高分子等专业最常用的实验仪器。

二、技术参数 

1．目镜

2．物镜

3.总放大倍数：40X---600X
4.目镜管：转轴式（倾斜30°），内置检偏器,可自由切换正常观察与偏光观察,90°旋
　转，带刻度,游标格值12' ,推入式勃氏镜,中心可调,λ补偿器,λ/4 补偿器,石英锲补偿器 
5.载物台：机械式附加旋转台面 尺寸 φ100mm， 360°旋转
6.调焦机构：粗微动同轴，齿轮转动 , 带限位及调节松紧机构   防霉系统:特有防霉
7.聚光镜：阿贝聚光镜NA1.25，升降上下可调                 光源：卤素灯6V/20W，亮度可调
8.高精度偏光热台(XPH-400)
　 ①恒温范围：室温---400℃, 恒温精度：全范围≤±0.5℅, 恒温系统波动度：±1℃
　 ②温度速度：可设置升温速度范围(可调)：0.5---36秒/℃
　　 最大升温速度：室温---100℃≤40秒;  最慢升温速度达36秒/℃,达400℃时间：240分钟
　　 即刻恒温响应时间：≤0.01秒
　 ③热台尺寸: 厚度:12mm; 大小:Φ110mm; 高温区: Φ30mm, 通光孔: Φ4mm
　 ④热台的外体与高温度采用三根陶瓷分开隔热;在中心温度400℃,室温25℃时,热台外
　　 体温度≤70℃,热台最大载物重量：200克
　 ⑤热台传感器:高精度的双传感器,连接热台与温控仪

三、系统组成 

电脑型 (XPR-500V)：1.显微镜 2.适配镜 3.摄像器   4.A/D(图像采集) 5.高精度热台XPH-400
数码型 (XPR-500D)：1.显微镜 2.适配镜 3.数码相机 4.高精度热台XPH-400