带您全面了解X射线荧光分析方法（介绍篇）

X射线荧光分析方法的发展历程及现状

01 X射线的发现

1895年——著名的德国物理学家——伦琴发现X射线

1927年——科学家利用“X射线光谱理论”发现了化学元素Hf，证明了使用X射线光谱对

           化学元素进行分析的可行性

1941年——H.PRooks提出采用X射线荧光方法对粉末样品中各元素含量进行分析

1948年——Friedman和Briks应用盖革计数器研制出了波长色散X射线荧光光谱仪

           (WDXRF)

1960年——西方开始在工业部门推广此项技术，同时我国也开始引进商品化的 X 射线荧光

           光谱仪

1963年——陈箎在其文章中阐述了被测样品中各元素间的“吸收-增强”效应，给出了有关

           元素间“吸收-增强”效应的理论计算公式，并通过使用X荧光光谱仪分析Ni-Fe

           二元样品对其理论进行了验证

02 第一台能量色散X荧光光谱仪问世

1969年——美国海军实验室研制出世界上第一台能量色散X荧光光谱仪(EDXRF)

1986年——N.Broll提出了利用“基本参数法”对X射线荧光光谱分析中的基体效应进行校

           正的理论，并通过实验证明了“基本参数法”在基体效应校正方面取得了优良

           效果

1989年——吉昂等使用X射线荧光光谱仪对地质化探样品中主量元素进行测量，并使用理

           论α系数对基体效应进行校正，从而弥补了经验系数法的不足

1990年——G.A.Raab等利用便携式X射线荧光仪对工业废渣进行分析，并实现联网处理测

           量结果，从而大大减少了分析的时间和工作人员的工作量

03 X射线荧光光谱仪和分析技术的进一步发展和完善

21世纪——X 射线荧光分析技术已成为一门相当成熟的分析技术，被广泛的应用与冶金、

           地质、生物、医疗、刑侦、考古等诸多领域。

2006年——C.Kilbride，J.Poole等使用便携式X荧光仪现场测量土壤样中的铜、铅、砷、镉、

           铁、镍，并将结果与ICP-OES测量结果进行比较取得良好效果。

           随着空间、医学、生物、环境和材料科学在西方国家的不断发展，对X射线荧

           光分析技术的应用又提出了新的要求和挑战。

04 X射线荧光光谱仪风靡全球

        X荧光光谱仪广泛应用与各个领域。赛默飞世尔（Thermo Fisher Scientific）尼通（Niton）系列的手持合金分析仪由于它可以快速准确的完成对铝、钛等重金属元素和青铜合金的筛选的优秀性能，使其被主要应用于合金材料鉴别和合金牌号检测等方面，同时此款仪器对于微量元素的测定也同样可以达到优秀的检测效果。此外，尼通（Niton）手持式X荧光光谱仪还广泛应用在玩具及消费品筛选、矿石勘探与生产、环境分析等领域。

        总之，X荧光光谱仪正在沿着仪器体积小型化、仪器系统数字化和智能化、仪器设计人性化、仪器功能多样化、以及仪器维护远程化的方向不断发展与进步，使仪器的检出限更好，稳定性更高，更广泛的应用在野外现场分析当中。

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