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布鲁克(北京)科技有限公司(BRUKER)

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Bruker Multimode 8 DI 第八代多功能扫描探针显微镜

品牌: 布鲁克
产地: 美国
型号: Multimode 8
样本: 下载
报价: 面议

核心参数

产地类别: 进口

定位检测噪声: <0.3Å RMS (Z方向噪音水平,使用轻敲模式,0纳米扫描尺寸)

样品尺寸: 15mm*15mm

样品台移动范围: 15mm*15mm

产品介绍

MultiMode平台是世界上应用最广泛的扫描探针显微镜(SPM),已经在全球成功安装使用了近万套。它的成功基于其领先的高分辨率和高性能,无与伦比的多功能性,以及已经得到充分证实的效率和可靠性。现在,MultiMode扫描探针显微镜以其独特的ScanAsyst模式,采用其先进的自动图像优化技术,使得用户无论具备什么技能水平,也能在材料科学,生命科学,聚合物研究领域的研究中最迅速地获得符合要求的研究成果。
          SPM的控制电路也是影响性能的重要因素,第五代的NanoScope V控制器具有先进的数字架构:具有高数据带宽,低噪声数据采集和无与伦比的数据处理能力。布鲁克的最先进的技术已经开创工业上的新标准,例如:ScanAsyst 模式 & PeakForce QNM 模式。
         Multimode 的加热和制冷装置能对样品进行加热与制冷,适合于生物学,聚合物材料以及其他材料研究应用。采用加热和制冷装置后MULTIMODE 可在零下35oC到250 oC范围内对样品进行温度控制;并可以在水,溶液或缓冲剂的液体环境中进行扫描。当在气体环境下对样品进行扫描时,采用环境控制舱可以在大气压标准下控制环境气体的成分。



技术参数:

1. 显微镜:多种可选Multimode SPM扫描头
AS-0.5系列:横向(X-Y)范围0.4μm×0.4μm,竖直(Z)范围0.4μm
AS-12系列:横向(X-Y)范围10μm×10μm,竖直(Z)范围2.5μm
AS-130系列:横向(X-Y)范围125μm×125μm,竖直(Z)范围5.0μm
PF50:横向(X-Y)范围40μm×40μm,竖直(Z)范围20μm
2. 噪声:垂直(Z)方向上的RMS值<0.3埃 (带防震系统的测量值)
3. 样品大小:直径≤15mm, 厚度≤5mm
4. 针尖/悬臂支架:
   ? 空气中轻敲模式/接触模式(标准)
   ? 液体中轻敲模式/力调制(可选)
   ? 空气中力调制(可选);电场模式(可选)
   ? 扫描热(可选-需要大的光学头或者外加的应用组件)
   ? STM转换器(可选)
   ?  低电流STM转换器(可选);接触模式液体池(可选)
   ? 电化学AFM或STM液体池(可选)
   ? 扭转共振模式(可选)
5. 防震和隔音:
   ? 硅胶共振模式(可选)
   ? 防震三脚架(可选) ;防震台(可选)
   ? 集成的防震台和隔音罩(可选)



主要特点:

1. 世界上最高的分辨率
2. 出众的扫描能力
3. 优异的可操作性
4. 非凡的灵活性与功能性
5. 无限的应用扩展性
Multimode可以实现全面的SPM表面表征技术,包括:
?轻敲模式(Tapping Mode AFM)
?接触模式(Contact Mode AFM)
?自动成像模式(ScanAsyst)
?相位成像模式(Phase Imaging)
?横向力术模式(laterial Force Microscopy, LFM)
?磁场力显微术(Magnetic Force Microscopy, MFM)
?扫描隧道显微术(Scanning Tunneling Microscopy, STM)
? 力调制(Force Modulation)
? 电场力显微术(Electric Force Microscopy, EFM)
? 扫描电容扫描术(Scanning Capacitance Mcroscopy, SCM)
? 表面电势显微术(Surface Potential Microscopy)
? 力曲线和力阵列测量(Force-Distance and Force Volume Measurement)
? 纳米压痕/划痕(Nanoindenting/Scratching)
? 电化学显微术(Electrochemical Microscopy, ECSTM and ECAFM)
? 皮牛力谱(PicoForce Force Spectroscopy)
?隧道原子力显微术(Tunneling AFM, TUNA)
? 导电原子力显微术(Conductive AFM, CAFM)
? 扫描扩散电阻显微术(Scanning Spreading Resistance Microscopy, SSRM)
? 扭转共振模式(Torsional Resonance mode, TR mode)
? 压电响应模式(Piezo Respnance mode, PR mode)
?其他更多模式....

E-mailSales.asia@bruker-nano.com 

产品咨询热线:010-5833 3252     www.bruker.cn\AFM



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工商信息

企业名称

布鲁克(北京)科技有限公司

企业信息已认证

企业类型

信用代码

110000450210731

成立日期

2012-07-16

注册资本

400

经营范围

联系方式
布鲁克(北京)科技有限公司(BRUKER)为您提供布鲁克Bruker Multimode 8 DI 第八代多功能扫描探针显微镜,布鲁克Multimode 8 产地为美国,属于进口扫描探针显微镜SPM(原子力显微镜AFM、扫描隧道显微镜STM),除了Bruker Multimode 8 DI 第八代多功能扫描探针显微镜的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供更多扫描探针显微镜SPM(原子力显微镜AFM、扫描隧道显微镜STM),布鲁克客服电话,售前、售后均可联系。

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