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X射线探测装置布鲁克扫描电镜用微区计算机断层摄影 MicroCT（Bruker MicroCT）
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SEM Micro-CT 可对样品的微观结构进行二维与三维成像。
以二维和三维方式无损呈现样品内部形貌信息
无需样品制备
分辨率可达 400 nm 像素大小
直观且易于使用的三维渲染和可视化软件
敢为人先！
扫描电镜中真正的3D显微观察技术
不管您的扫描电镜是什么型号，将micro-CT安装在SEM上后，均能为您提供真正的3D显微观察技术。在扫描电镜常见的表面形貌观察之外，micro-CT独一无二的为您揭示样品内部三维结构信息，操作简易且对样品完全无损。
关键特征一览
无损观测样品的内部三维结构信息，且无需任何其它的样品制备
以2D或3D的形式视觉化呈现样品的内部结构，并在此基础上进行测量
在样品任意方向上，对任一截面结构的视觉化显示，如同在样品中任意穿梭观察一般
直观和简单易用的 3D 渲染软件，视觉化为三个正交剖面或切片影片
最大样品直径可达4mm，最大样品长度为10mm
最小可探测400nm的样品细节
布鲁克（北京）科技有限公司
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北京市海淀区西小口路66号中关村东升科技园B区B-6号楼C座8层
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