快速测量计算扩散层薄层电阻、结深和表面浓度硅太阳能电池纵向载流子浓度分布测试

2017-05-04 10:38

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资料摘要：

快速测量计算扩散层薄层电阻、结深和表面浓度全自动电化学CV 分布仪 CVP21 简介：本设备适用于评估和控制在半导体生产中的外延过程并且以被使用在多种不同的材料上，例如：Silicon, Germanium, III-V including III-Nitrides.CVP 21 的净室和模块化的系统设计结构使得本系统可以高效率，准确的测量半导体材料（结构，层）中的掺杂浓度分布．选用合适的电解液与材料接触，腐蚀，从而得到材料的掺杂浓度分布。电容值电压扫描和腐蚀过程由软件全自动控制

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