恒奥德仪器打印型智能单段爆速仪单段爆速仪 爆速时间爆炸平均速度 型号XZZ-BSZ—1

盐雾沉积量监测仪 盐雾浓度检测仪 型号HAD-1104

1. 概述 电子电器产品再沿海或者海上环境服役中，表面盐雾沉积是造成失效的主要 原因，对服役环境的盐雾沉积量测量是环境严酷度分级的重要依据之一。 HAD-1104盐雾沉积量监测传感器使用金属膜探头作为敏感元件，在一定的湿度下，探头的阻抗特征与探头表面沉积的盐雾呈对应关系。通过特定的阻抗测量和分析方法，该传感器可对探头表面的盐雾沉积量进行长期持续的监测、记录和数据输出。测试方法及测量结果符合 《GB/T 10593.2 电工电子产品环境参数测量方法第 2 部分：盐雾》等标准规范。 2. 技术特点 HAD-1104 盐雾沉积量监测传感器采用阻抗测量的原理对沉积到探头的表面的盐分进行监测。设备采用耐腐蚀的贵金属制成的叉指状探头，探头敏感区域沉积的盐雾在一定的湿度下吸收空气中的水分形成导通的盐桥，使得探头阻抗产生变化，探头的阻抗值与所沉积盐雾的种类、沉积量、附近空气的湿度、测量频率相关。设备通过实时监测探头位置湿度（满足 70%RH~90%RH 时测量）及探头阻抗值，结合实验数据进行校准，可有效的对盐雾沉积进行监测。可实现上述测量数据的实时输出和记录，其实时测量结果可通过 RS-4

电磁式硫酸浓度微机化电导率浓度自动分析仪硫酸浓度计 型号HAD-IV

电磁式硫酸浓度微机化电导率浓度自动分析仪硫酸浓度计 型号HAD-IV HAD-IV型微机化电导率浓度自动分析仪，是我院在总结电磁式硫酸浓度测量仪表和现场应用基础上开发的新型产品。传感器结构简单、性能可靠、寿命长、维护量极小，长期使用无损耗品。本信号处理采用具有较强数据和逻辑处理能力的MCS—51系列单片机构成。通过软件实现仪表的无纸记录等功能。 　本仪表允许用户自行根据不同的介质的电导率曲线规律，修改测量计算模型，测量不同介质的浓度。适用于化工、冶金、印染、氯碱、石油、造纸等行业中的酸、碱浓度的连续测量。并可和调节单元、计算机控制系统相结合实现对被测介质的浓度自动控制 技术参数 被测介质压力 ： 流通式0～1Mpa；插入式0～0.3 Mpa 被测介质温度 ： 流通式0～200℃；插入式0～100℃ 电导率最小测量范围： 2000μＳ/cm 电导率最大测量范围： 2Ｓ/cm 测量精度： 电导率误差1%；温度误差1% 仪表稳定性： 24小时输出飘移≤±2% 重现性： ≤±1% 负载电阻： ≤0～500&Omega(4～20 mA) 输出信号： 4～20mA

北京恒奥德仪器UV1200分光光度计操作使用原理

分光光度计是一种用于测量物质在紫外、可见和近红外光谱区域的吸收特性的分析仪器‌。其基本工作原理基于物质对光的选择性吸收，即不同物质对不同波长的光具有不同的吸收能力。当一束单色光通过含有吸收物质的溶液时，溶液对光的吸收程度与溶液的浓度和光程长度成正比‌12。 分光光度计主要由光源、单色器、样品池和检测器四个部分组成。光源提供连续光谱的光，单色器将复合光分解为单色光，样品池用于盛放待测溶液，检测器则测量透过样品后的光强度‌13。 分光光度计的操作原理基于朗伯-比尔定律，即一束单色光通过含有吸收物质的溶液时，溶液对光的吸收程度与溶液的浓度和光程长度成正比。具体来说，当一束单色光通过液层厚度为b的有色溶液时，溶质吸收了光能，光的强度会减弱，减弱的光强与溶液的浓度和光程长度成正比关系‌45。 在实际操作中，首先需要选择合适的波长，因为不同物质在不同波长下的吸收特性不同。然后，将待测溶液放入样品池中，启动分光光度计进行测量。通过测定标准溶液和待测样品溶液的吸光度，可以求出待测样液的浓度。需要注意的是，测量时应控制吸光度在合适的范围内，以减少误差‌45。

北京恒奥德仪器薄膜测厚仪操作使用原理

薄膜测厚仪的操作使用原理主要基于以下几种物理测量方法‌： ‌机械接触式测量方法‌：这种方法将预先处理好的样品置于设备测量台面上，测量头以一定的压力落到试样的另一面上，传感器检测上下测量面之间的距离，即为薄型试样的厚度。这种方法适用于各种单层薄膜材料或者纸张等平面材料的厚度测量‌12。 ‌磁感应法‌：利用磁感应原理，通过测量磁场在薄膜中的变化来推断薄膜的厚度。当测头（带有磁场的部件）接近或接触薄膜时，薄膜对磁场的影响会导致磁通量的变化，通过测量这种变化可以计算出薄膜的厚度。这种方法主要适用于导磁基体上的非导磁覆层厚度的测量，如金属表面涂层、电镀层等‌23。 ‌光学干涉法‌：当一束光波或电磁信号照射到材料表面时，一部分光或信号会被反射，另一部分会透射。在薄膜表面和底部之间，这些光波或电磁信号会经历多次反射和透射，形成干涉现象。通过测量反射和透射光波的相位差，可以计算出薄膜的厚度。这种方法适用于各种材料的薄膜厚度测量‌24。 ‌X射线吸收法‌：使用X射线穿过薄膜，并测量透射的X射线强度。不同厚度的薄膜会吸收不同量的X射线，因此可以通过测量透射X射线的强度来推断薄膜的厚度。这种方法适用