高性能多通道全自动比表面积及孔隙度分析仪

产品简介：
TriStar II 3020是全自动三站式比表面积和孔隙度分析仪，能够提高质量控制分析的检测速度，并提供高精度、高分辨率和数据处理功能以满足绝大多数研发的需要。

产品应用：

借助于气体吸附原理（典型为氮气）可进行等温吸附和脱附分析，用于确定比表面积、微孔孔体积和孔面积、中孔体积和面积、总孔体积等。
适用于各种材料的研究与产品测试，包括测量沸石、碳材料、分子筛、二氧化硅、氧化铝、土壤、黏土、有机金属化合物骨架结构等各种材料。

技术指标：
« 同时和独立分析三个样品 - 三个BET表面积分析时间少于20分钟；
« 可用于微孔分析；
« 标配一个专用的饱和压力接口，可选多种规格杜瓦瓶以及样品管；
« 可升级成高真空系统，用于低比表面积以及微孔的测试；
« 可以测定、计算或手动输入自由空间；
« 可以使用任何气体，死体积测试可以不使用氦气；
« 可选满足FDA的要求的Confirm 21 CFR Part 11的软件。 IQ和OQ认证服务，确保该系统的准确性、可靠性和一致性。这些服务保障了分析记录的完整性；
« 仪器配置了液氮液面保持装置---液氮等温夹，以确保整个分析过程中等温夹套以下的温度恒定；
« 仪器可同时进行三个样品的分析，满足测试量大的用户，不是多个工作站的"排队分析"，每个分析站都配有独立的传感器，保证三个分析站分析的同时进行；
« 配备了大容量杜瓦瓶，结合专利的液氮等温夹，保证至少60小时无人介入操作。最大无上限的连续分析；
« 仪器软件包含了目前所有的数据处理方法：
     · 单点和多点BET比表面积，Langmuir比表面积；
     · Temkin and Freundlich等温线分析；
     · 多种厚度层公示计算的BJH中孔和大孔的孔体积、孔面积对孔径的分布；
     · 孔体积和用户指定孔径范围内的总孔体积；
     · MP法的微孔孔径分布和t-plots、αs-plots得到的微孔总孔体积；
     · f-Ratio plots，D-R，D-A；
     · H-K法(包括Cheng & Yang校正，Saito & Foley校正)；
     · DFT密度函数理论，包括NLDFT等。