CERN 的 Medipix 研究小组将为使用 ADVACAM MiniPIX EDU 探测器的老师、学校和机构举行在线会议，主讲人将分享 MiniPIX EDU 的使用经验，并一起讨论更多的应用。我们诚挚地邀请 MiniPIX EDU 的用户或对光子计数成像技术感兴趣的老师参与此次活动。时间：2022 年 9 月 23 日下午 2 ：00（欧洲中部时间），北京时间 23 日晚上 8：00时长: ~ 2 小时 点击链接参与课程：https://indico.cern.ch/event/1200638/MiniPIX EDUMiniPIX EDU 是一款为以教育为用途而设计定价的掌上 USB、光子计数型 X 射线探测器。教育版初始为实验教学而设计，此外也能用于某些工业应用。它把现代的辐射成像技术带进课堂，让学生可以探索我们周围看不见的电离辐射世界。学生可以探索不同类型辐射的起源，并了解放射性同位素如何在自然环境和像人类房屋、城市、工业的人造环境中迁移，他们可以了解人们如何从电离辐射和放射性中受益：医学成像方法，工业中的非破坏性测试，用于治疗癌症的核医学方法，安全应用，核电……MiniPIX EDU 可记录非常低的放射性强度，这种强度无处不在。学生可以记录到普通材料和物体的放射性强度，如口罩上、花岗岩、灰烬或纸袋上的放射性强度。目前我司备有大量 MiniPIX EDU 现货，欢迎感兴趣的老师咨询我们！最新到货—超高性价比教育版辐射粒子探测器MiniPIX EDU来咯！Advacam S.R.O.源至捷克技术大学实验及应用物理研究所，致力在多学科交叉业务领域提供硅传感器制造、微电子封装、辐射成像相机和X射线成像解决方案。Advacam最核心的技术特点是其X射线探制器（基于CERN Timepix、Medipix芯片），没有拼接缝隙（No Gap），因此在无损检测、生物医学、地质采矿、空间探测、艺术品鉴定及中子成像方面有极其突出的表现。Advacam与NASA（美国航空航天局）及ESA（欧洲航空航天局）保持长期良好的项目合作关系。2021年，spin off子公司Advascope专为电子显微镜EM应用提供定制化粒子探测系统。北京众星联恒科技有限公司作为捷克Advacam公司中国区的总代理，也在积极推广Timex / Medipix芯片技术，并探索和推广光子计数X射线探测技术在中国市场的应用，目前已有众多客户将MiniPIX、AdvaPIX和WidePIX成功应用于空间辐射探测、X射线小角散射、X射线光谱学、X射线应力分析和X射线能谱成像等领域。同时我们也有数台搭载Timpix、Timepix3芯片的MiniPIX探测器样机、Medipix3 芯片的WidePIX 1*5 CdTe探测器样机，我们也非常期待对我们探测器感兴趣或基于探测器应用有新的idea的老师联系我们，我们可以一起尝试做更多的事情。

X 射线光谱成像已获得医疗用途认证2022年第六届X射线光谱探测器医学应用研讨会已落下帷幕。该研讨会于 2011 年启动，每两年举办一次，致力于推动一项新成像技术的发展（也就是“光子计数成像”，一种使彩色计算机断层扫描成为可能的技术）十一年前，人们还对X射线光谱成像的技术可行性和临床发展持怀疑态度。CERN 研讨会形成了一个充满活力的专家社区，推动这些想法具体化，他们相信该技术的潜力。CERN作为世界上最大的物理实验室，在微电子和粒子探测器方面具有行业领先的能力以及全球化科研合作的悠久历史，这使其成为举办此类研讨会的最佳场所。本次研讨会汇集了相关领域超过 100 名参与者，如临床医生、放射科医生、医学物理学家、生物学家、示踪剂研发者、成像系统专家以及探测器和 ASIC 开发人员。今年的研讨会，大家在这里庆祝了一个重要里程碑：美国食品和药物管理局 (FDA) 于 2021 年批准“近十年来CT成像领域的第一个重大技术改进”，西门子光子计数CT。这是世界上第一台正式批准用于常规医疗用途的X射线光谱成像扫描仪。 “CERN 研讨会在推进这项技术并将其从实验室带到临床方面发挥了重要作用。”华盛顿大学放射学系教授兼主席 Dushyant Sahani 医学博士说，“X射线光谱成像将通过向患者提供更低剂量、更好的图像来彻底改变医学诊断成像，从而实现优化宝贵医院资源的新模式。”在更接近CERN的瑞士洛桑大学医院，来自MARS Bioimaging 公司的 3D 彩色 X 射线手腕扫描仪正在等待批准开始临床试验。CERN 和新西兰 MARS Bioimaging 公司于 2008 年共同合作开发了这款基于 Medipix3 技术的 3D 彩色 X 射线扫描仪。使X射线光谱成像成为可能的许多技术都源于基础科研，特别是来自用于高能物理实验的探测器研发。CERN 知识转化小组负责人 Giovanni Anelli说：“CERN 制定了积极的知识转化政策，我为 Medipix 项目参与者和我们的商业合作伙伴在开创高分辨率X射线光谱成像方面所发挥的作用感到自豪。”上图展示了已组装到CdTe传感器的 Medipix3 ASIC芯片。CdTe能有效吸收用于医疗诊断成像能段的 X 射线。（图片来源：Advacam Oy）Advacam Oy团队源自芬兰 VTT 技术研究中心，在传感器研发、加工，晶圆焊撞和倒装焊接等领域拥有30多年的经验。目前众星已在中国市场推出相应技术支持，为国内探测器的研发团队（包括企业）就传感器加工、各种类型晶圆的焊撞和不同形状的混合像素探测器的倒装焊接等方面需求提供工艺服务。#为什么X射线光谱探测器是一项突破性技术？医疗设备中使用的 X 射线通常涵盖很宽的能段，可以将不同能量段的X射线视为不同的颜色。在传统探测器中，拍摄的图像是基于每个像素吸收的总 X 射线能量而形成的黑白图像。当使用光谱探测器时，图像还包含入射 X 射线的“颜色”，使用更少的放射剂量的同时提供更好、更清晰的图像，在诊断疾病时具有显着优势。在某些情况下，MRI（磁共振成像）甚至可能变得多余。或者，将附着在生物标记上的金属造影剂注入体内，可以避免昂贵的 PET-CT（正电子发射断层- 计算机断层）扫描。使用 X 射线能量信息的概念首先应用于双能 CT (DECT) 系统。DECT需要在不同的 X 射线管电压 (kVp) 下依次拍摄两张图像。由于每张图像具有不同的平均 X 射线能量，因此与单张图像相比，这些图像可以结合起来产生更清晰的图像。但是，两次拍摄扫描通常要求患者接受更高的辐射剂量，所以通常仅在必要时使用 DECT。另一方面，光谱探测器会比 DECT 系统显示更多的信息，只需拍摄单个图像，无需使用额外剂量，始终可以获取能量信息。免责申明此篇文章内容（含图片）均来源于网络。文章版权及观点归原作者所有，北京众星联恒科技有限公司发布及转载目的在于传递更多行业资讯与网络分享。若您认为本文存在侵权之处，请联系我们，我们会在第一时间处理。如有任何疑问，欢迎您随时与我们联系。

我们有幸在此宣布，经过双方密切的交流与探讨，众星已与荷兰 ISTEQ 落实并达成了合作协议。众星联恒将作为中国地区的独家代理，全面负责激光驱动高亮EUV光源 TEUS 系列产品在中国市场的产品售前咨询，销售以及售后业务。ISTEQ 将对众星联恒提供全面、深度的技术培训和支持，以便更好地服务于中国客户。我们将继续为中国广大科研用户及工业用户带来更多创新技术及前沿资讯！ ISTEQ 荷兰 ISTEQ 坐落于埃因霍温的高科技园区，在开发和制造各种类型的尖端产品方面拥有广泛的专业技术与丰富的经验。ISTEQ 致力于为各种工业应用尤其是半导体、材料分析和光谱学应用开发广泛的现成解决方案，公司产品包括：激光驱动高亮EUV光源 TEUS、激光等离子体白光光源、用于 X-Ray/EUV/VUV 波段的定制化光谱仪及等离子体诊断设备等。1激光驱动高亮 EUV 光源 TEUS 系列来自荷兰 ISTEQ 的 TEUS，LPP EUV 光源基于快速旋转液态金属靶，这种新型 LPP 光源结合了传统的碎片抑制技术，是清洁极紫外光源的绝佳解决方案。型号EUV收集角（sr）激光平均功率（W）脉宽（ns）重频（kHz）等离子体尺寸（μm）亮度（W/mm2sr）EUV功率（mW）TEUS-S1000.051001.525601105TEUS-S2002005022010TEUS-S40040010045020特征优势高速旋转液态靶，提供了：— 避免液滴类碎片污染— 激光-靶材作用面不受干扰，输出参数（亮度/通量/空间位置）高效稳定— 无需同步的连续靶材多种碎屑抑制技术共同作用，提高收集器镜片预期寿命连续工作时间长，维护间隔长耗时短，自动化程度高的交钥匙工程典型应用掩膜及表面检测图形化掩膜检测掩膜空间像检测材料科学晶圆检测极紫外扫描光刻工艺链中的极紫外光学器件检测2激光等离子体白光光源 XWS 系列ISTEQ 的等离子体白光光源产品可应用于各种应用，包括光谱学，高分辨率显微镜，薄膜测量，表面测量等。多种类型可选基础款XWS-65高亮款XWS-X可调谐Hyperchromator高功率XWS-R紧凑型XWS-30双光束XWS-Dual port主要优点连续激光脉冲放电宽光谱范围: 190 – 2500 nm高光谱亮度: up to 50 mW/(mm2·sr·nm)高时空稳定性: STD高使用寿命 :10000 小时结构紧凑，设计简洁通过软件扩展控制和监控参数，Windows界面应用领域吸收和荧光光谱学微电子学中的诊断系统-污染和缺陷控制表面测量，椭偏测量和散射测量显微镜，包括共聚焦和荧光光学组件检测色谱检测器，微流体，晶圆实验室，液滴光谱仪，细胞荧光计等3X-Ray/EUV/VUV光谱仪LSP-X 射线校准光谱仪▪ 射谱范围：0.3-1.6nm▪ 光谱分辨率（λ/δλ）：100-400▪ 探测器：多种 CCD 可选XUV- VUV光谱仪AGS▪ 可单次测量极宽的光谱范围▪ 掠入射振幅光栅提供高的灵敏度▪ 光谱分辨率（λ/δλ）：50▪ 探测器：高量子效率 CCDHD-1射线光谱仪▪ 射谱范围：0.04-1.6nm▪ 光谱分辨率（λ/δλ）：100▪ 探测器：多种 CCD 可选VUV-QFF 光谱仪▪ 射谱范围：5-150nm▪ 光谱分辨率（λ/δλ）：三光栅配置，分辨率高达500▪ 探测器：CCD/MCP

8月26日，第八届高能量密度物理青年科学家论坛在浙江省宁波市成功举行。此次会议邀请了国内活跃在高能量密度物理研究领域的中青年学者共同探讨最新研究进展，为中青年学者的交流合作提供了良好的学术平台，推动这一新兴交叉学科的迅速发展。  //  会议从26号正式开始，为期两天。众星联恒有幸作为大会赞助企业，携手我们的所代理的国外厂商共同参与了此次会议，并在现场展示了许多产品样机。我们也在现场与老师们进行了产品交流，以及对行业发展的激烈讨论。其中，来自捷克 Advacam 的掌上型光子计数辐射成像或粒子追迹装置 MiniPIX 凭借其独特的优势获得了现场的大量关注。这款小巧又功能强大的探测器可应用于很多领域: 标准 X 射线成像、X 射线能谱成像(XRF、XRD、SAXS、WAXS)、伽马相机、康普顿相机、辐射监测(识别粒子类型、能量、光谱)、飞行时间测量等。我们在现场：在本次活动中，众星联恒聆听了来自各地专家学者的讲座，了解了高能量密度物理研究领域的最新动态，对相关的发展有了进一步的认识。期待下一次更加深入的交流！相关阅读MiniPIX TPX3-掌上型的光子计数辐射成像或粒子追迹装置；ADVACAM再添新成员，MiniPIX TPIX3即将面世！ADVACAM辐射检测相机 -应用于粒子追迹；用于快速定位辐射源的无人机系统-来自ADVACAM和捷克理工的专家正在将未来的愿景变为现实维也纳自然历史博物馆在线辐射展示

Timepix3芯片介绍Timepix3 是一款由 Medipix3 Collaboration 开发的，用于粒子探测的像素化探测器读出芯片。Timepix3 读出芯片采用 130nm CMOS工艺设计，分割成为 256×256 像素，像素间距为 55μm。不同的传感器材料（如 Si, CdTe 或 CZT）通过 bump-bonded 技术与读出芯片相连。与它的前身 Timepix 相比，Timepix3 允许使用 data-driven 的读出模式，并且能在每个单独的像素中同时测量时间分辨率为 1.56 ns 的相互作用时间和能量沉积，Timepix3 芯片原理及应用介绍(原理篇)。由于 Timepix3 可以同时获得入射粒子的时间、空间及能量信息，因此 Timepix3 在粒子轨迹测量领域被广泛使用。本文将简单介绍使用基于 Timepix3 芯片的粒子轨迹重建原理，并且讨论 Muon、Pion、电子的 3D 轨迹重建。3D粒子轨迹重建原理Timepix3 的粒子轨迹重建类似于 TPC(Time Projection Chamber)，入射粒子的横向2D 位置可以直接从 Timepix3 芯片获得(命中像素位置)，但垂直位置(相互作用深度)必须利用载流子向像素电极漂移的时间进行重建。在半导体传感器中，内部电场均匀，电荷收集过程中的漂移速度是恒定的，因此电荷漂移时间与相互作用的深度成正比。二者的关系通常可以通过经验公式计算得出，也可通过测量宇宙线 Muon 得出。如下图，高能宇宙线 Muon 几乎是沿直线斜穿过传感器的整个厚度，在多个像素上产生能量沉积。通过测量粒子轨道两端像素之间的时间差，可以确定载荷子在整个传感器厚度的漂移时间。累积多个 Muon 事件后，可以拟合得到漂移时间与相互作用深度的关系。时间修正问题实际上，在粒子轨迹重建过程中还需要考虑时间修正的问题，下图展示了Timepix3测试数据的时间戳和时间间隔。tinteraction 是入射粒子与传感器产生相互作用的时间戳，tdrift 是载荷子的漂移时间，tmeas 是 hit 被指定的时间戳。由于电荷感应，在载流子到达收集像素电极之前，电荷敏感放大器中的脉冲成形就已经开始了，因此引入了 tinteraction。从脉冲成形开始到命中被指定的持续时间用偏移时间 toffset 来近似，因为轨迹重建是基于测量形成轨迹的像素集合内的时间差，所以该偏移时间可以被抵消，不影响轨迹重建。此外，前置放大器输出脉冲上升时间恒定，而不同振幅信号的脉冲上升沿斜率不同，会引入一个延迟时间 ttime_walk，如下图。ttime_walk 和 tinteraction 的大小系统性的受沉积能量影响。当像素能量低于 30keV 时， ttime_walk 修正是必要的；当能量高于 30keV 时，tinteraction 修正是必要的。粒子轨迹重建捷克理工大学的 Benedikt Bergmann 和他的研究团队利用 2mm 的 CdTe 传感器搭配 Timpix3 芯片的混合像素探测器，对 Pion，Muon 和电子轨迹进行重建，同时由 Pion 产生的次级 δ 电子轨迹也被清晰地记录下来。高能 Pion 和 Muon 几乎无偏转地穿过传感器，其阻止本领(dE/dX)由沉积能量，轨迹长度，传感器密度(CdTe=5.85g/cm3)共同决定，如下图。电子的轨迹特点是沿弯曲的路径通过传感器，如下图所示。第一张图是电子从外部进入并且穿过整个传感器；第二张图中的电子在传感器内部产生的，是康普顿散射产生的康普顿电子；第三张图则是电子对效应产生的一对正负电子的轨迹。此外，由于 Timepix3 能够实现电子轨迹重建，近年来捷克Advacam 公司的 MiniPIX TPX3 探测器已经被验证可以用于单层的康普顿相机。其关键在于 Timepix3 能够精确测量康普顿电子的轨迹，找到相互作用点，并且利用电子轨迹算法还可以显著提升康普顿相机的角分辨率。Advacam S.R.O.源至捷克技术大学实验及应用物理研究所，致力在多学科交叉业务领域提供硅传感器制造、微电子封装、辐射成像相机和X射线成像解决方案。Advacam最核心的技术特点是其X射线探制器（基于CERN Timepix、Medipix芯片），没有拼接缝隙（No Gap），因此在无损检测、生物医学、地质采矿、空间探测、艺术品鉴定及中子成像方面有极其突出的表现。Advacam与NASA（美国航空航天局）及ESA（欧洲航空航天局）保持长期良好的项目合作关系。2021年，spin off子公司Advascope专为电子显微镜EM应用提供定制化粒子探测系统。北京众星联恒科技有限公司作为捷克Advacam公司中国区的总代理，也在积极推广Timex / Medipix芯片技术，并探索和推广光子计数X射线探测技术在中国市场的应用，目前已有众多客户将MiniPIX、AdvaPIX和WidePIX成功应用于空间辐射探测、X射线小角散射、X射线光谱学、X射线应力分析和X射线能谱成像等领域。同时我们也有数台搭载Timpix、Timepix3芯片的MiniPIX探测器样机、Medipix3 芯片的WidePIX 1*5 CdTe探测器样机，我们也非常期待对我们探测器感兴趣或基于探测器应用有新的idea的老师联系我们，我们可以一起尝试做更多的事情。相关阅读Timepix3芯片原理及多种应用介绍(应用篇)Timepix3芯片原理及应用介绍(原理篇)光子计数、像素化X射线探测器-Widepix在成像、谱学等领域的应用Timepix3 |易于集成的多功能直接探测电子探测器纳米卫星 VZLUSAT-2 发射，ADVACAM小型探测器开始新的宇宙探险RaDron|用于自主搜索并快速定位伽马辐射源的辐射探测无人机系统项目进展顺利参考文献：1. Bergmann, Benedikt, et al. "3D track reconstruction capability of a silicon hybrid active pixel detector." The European Physical Journal C 77.6 (2017): 1-9.2. Bergmann, Benedikt, et al. "3D reconstruction of particle tracks in a 2 mm thick CdTe hybrid pixel detector." The European Physical Journal C 79.2 (2019): 1-12.3. Turecek, D., et al. "Single layer Compton camera based on Timepix3 technology." Journal of Instrumentation 15.01 (2020): C01014.4. Wen, Jiaxing, et al. "Optimization of Timepix3-based conventional Compton camera using electron track algorithm." Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment 1021 (2022): 165954.免责声明此篇公众号文章内容（含图片）部分来源于网络。文章引用部分版权及观点归原作者所有，北京众星联恒科技有限公司发布及转载目的在于传递更多行业资讯与网络分享。若您认为本文存在侵权之处，请联系我们，我们会在第一时间处理。如有任何疑问，欢迎您随时与我们联系。

第八届高能量密度物理青年科学家论坛将于2022年8月26日—8月28日在浙江省宁波市举行。“高能量密度物理 (High Energy Density Physics, HEDP)”研究对惯性约束聚变、材料物理、天体物理、加速器物理、国防等具有极其重要的意义。此次会议拟邀请国内活跃在高能量密度物理研究领域的中青年学者共同探讨最新研究进展，为中青年学者的交流合作提供良好的学术平台，以期推动这一新兴交叉学科的迅速发展。众星联恒有幸作为会议赞助商参与本次会议，诚挚邀请各位专家学者莅临众星展台交流洽谈，期待与您不见不散！会议时间地点1时间：2022年8月26日—8月28日（8月26日报到）2地点：宁波阳光豪生大酒店会议主题“高能量密度物理 (High Energy Density Physics, HEDP)”是研究能量密度大于10¹¹ J/m³的极端状态下物质特性和运动规律的新兴物理学前沿交叉学科。随着高能量高功率激光技术的突飞猛进，实验室激光装置能输出10⁶焦耳量级的纳秒激光脉冲，10⁴焦耳量级的皮秒、拍瓦激光脉冲，10²焦耳量级的飞秒、十拍瓦激光脉冲（峰值强度可达10²³ W/cm²）。这为人们在实验室条件下进行极端物理状态的自主可控研究提供了重要的实验手段。1强激光驱动粒子加速及新型辐射源2惯性约束聚变物理3高能量密度物理现象与物质特性4实验室天体物理和光核物理5强场量子电动力学过程会议日程

X射线吸收结构（X-ray Absorption Fine Structure, XAFS）是一种先进的 X 射线应用技术，通过对 X 射线通过材料前后能量吸收系数的变化分析，能够从原子尺度上给出某一特征原子价态及局域结构（尤其在0.1 nm范围内）的信息。因此，XAFS 技术是研究化学反应过程中材料局域结构转变的重要方法，在材料、催化、能源和环境科学等热门领域发挥着难以替代的作用。然而，与大多数其他光谱方法不同，XAFS 技术通常依赖高通量的同步辐射光源，并不为一般实验研究人员所获得。近年来实验室台式 XAFS 谱仪的出现，使得在普通实验室使用 XAFS 技术进行材料的精细结构分析成为了可能。第一台基于 von Hamos 几何的非扫描式实验室台式 XAFS 谱仪由德国 HP Spectroscopy推出，并在仪器的设计和性能方面进行了多方改进（详情请见图1）。图1 (a) von Hamos几何结构设计；(b) hiXAS型号XAFS谱仪内部结构图XAFS在催化剂材料中的应用作为一种广泛而极具前途的应用领域，催化剂的研究和发展离不开 XAFS 技术的表征。X 射线吸收近边结构（X-ray absorption near-edge structure, XANES）对催化剂在催化反应过程中的电子结构变化非常敏感，对研究催化剂材料的构效关系以及催化反应机理的阐释都发挥着举足轻重的作用。与此同时，多个催化反应过程的研究证实催化剂材料可作为实验室 X 射线吸收谱的理想系统，这一方面是由于原位催化反应过程的表征通常需要数小时，实验室 X 射线长时间曝光对于催化剂材料的辐射损伤效应能够显著减弱，另一方面催化剂材料的活性中心通常为 3d 过渡金属或镧系金属元素，其 K 边能量足够高，使得部分空气衰减能够接受。1、COFs 材料德国柏林工业大学 Arne Thomas 教授[1]采用模板诱导策略合成了一例具有多级孔结构的高结晶 COF 材料 macro-TpBpy，并通过联吡啶和金属 Co2+ 的引入，使得 COF 材料的 OER 活性得到了极大提高。该课题组通过利用 von Hamos几何结构的实验室台式 XAFS 谱仪获得了 Co K边的吸收谱图，成功揭示了 COF 材料 OER 活性的改善，一方面源于多级孔结构的传质特性，另一方面也得益于金属 Co2+ 的引入在 macro-TpBpy-Co 中形成的 Co-联吡啶的活性位点。该项研究为 COF 催化剂材料在 OER 中的应用及催化剂材料性能的改善具有重要的借鉴和指导意义。图2 (a) macro-TpBpy 和 macro-TpBpy-Co 的高分辨 N 1s谱图；(b) 使用实验室台式 XAFS 谱仪测得的 Co，Co3O4 及macro-TpBpy-Co 的 Co K 边吸收谱图；(c-d) 相应的通过傅里叶变化得到的 R 空间变换谱图。2、钙钛矿材料奥地利因斯布鲁克大学 Simon Penner 团队[2]通过Sr掺杂研究了碱土金属掺杂对钙钛矿催化剂材料的结构稳定性及甲烷干法重整（DRM）反应的影响。该团队综合利用了原位 X 射线光电子能谱（XPS）和 von Hamos 几何结构的实验室台式 X 射线吸收精细谱（XANES）等技术表征，揭示了碱土金属 Sr 在钙钛矿材料 DRM 反应中的双重矛盾作用，即一方面 Sr 的掺杂有利于钙钛矿结构的稳定，但另一方面也促进了 Ni 金属颗粒的烧结，使催化剂材料失活。图3 (a-b) 使用实验室台式 XAFS 谱仪测得的 DRM 反应前后 Sm1.5Sr0.5NiO4 材料的 Ni K 边 XANES 谱图对比；(c-d) 使用实验室台式XAFS谱仪测得的DRM反应前后 Sm1.5Sr0.5NiO4 材料的 Sm L3 边及 Sr K 边 XANES 谱图对比。3、金属间化合物材料德国柏林工业大学 Matthias Driess 教授[3]首次采用 MnGa4 作为金属间化合物前驱体材料进行原位电催化反应。出乎意料的是，在电化学反应过程中伴随着金属 Ga 的不断消耗，形成了富缺陷的多孔结构 MnOx 基催化剂材料。该课题组利用高分辨 TEM，X 射线光电子能谱（XPS）及 von Hamos几何结构的实验室台式X射线吸收精细谱（XANES）等多种形貌和结构表征技术，证明了 MnOx 相中 Mn（III）/Mn（IV）活性位点的丰度和稳定性是该类催化剂材料表现出良好催化效率和催化稳定性的关键。图3 (a) OER 反应后 MnGa4 的 HR-TEM 图；(b) OER 反应前后 MnGa4 的 Mn 2p 谱图；(c-d) MnGa4 粉末，预沉积样品及 OER 反应后 MnGa4 的 Mn/Ga K 边 XANES 谱图对比。关于HP Spectroscopy公司德国 HP Spectroscopy 公司成立于2012年，致力于为全球科研及工业领域的客户定制最佳X射线解决方案，是全球领先的科研仪器供应商。现可提供 5-12keV 的实验室硬 X射线吸收谱仪 hiXAS，以及 200-1200eV 的软 X 射线吸收谱仪proXAS，产品线还包括 XUV/VUV/X-ray光谱仪，beamline 产品等。主要团队由 X 射线、光谱、光栅设计、等离子体物理、beamline 等领域的专家组成。长期与全球领先的研究机构的科学家维持紧密合作，关注前沿技术，保持产品的迭代与创新。众星联恒科作为 HP Spectroscopy 中国区 XAS 系统授权总代理商，为中国客户提供所有产品的售前咨询，销售及售后服务。我司始终致力于为广大科研用户提供专业的EUV、X 射线产品及解决方案。如果您有任何问题，欢迎联系我们进行交流和探讨。‍参考文献‍[1] Zhao X. J., Pachfule P., et al., Macro/Microporous Covalent Organic Frameworks for Efficient Electrocatalysis. J. Am. Chem. Soc. 2019, 141, 6623−6630.[2] Nezhad P. D. K., Bekheet M. F., et al., Elucidating the role of earth alkaline doping in perovskite-based methane dry reforming catalysts. Catal. Sci. Technol., 2022, 12, 1229–1244.[3] Menezes P. W., Walter C., et al., Boosting Water Oxidation through In Situ Electroconversion of Manganese Gallide: An Intermetallic Precursor Approach. Angew. Chem. Int. Ed. 2019, 58, 16569 –16574.免责声明此篇公众号文章内容（含图片）部分来源于网络。文章引用部分版权及观点归原作者所有，北京众星联恒科技有限公司发布及转载目的在于传递更多行业资讯与网络分享。若您认为本文存在侵权之处，请联系我们，我们会在第一时间处理。如有任何疑问，欢迎您随时与我们联系。

您是否对基于Timepix芯片的混合像素X射线探测器感兴趣？您是否想要咨询关于电子显微镜的探测器升级解决方案？来自捷克的Advacam公司将欧洲CERN 开发的 Medipix/Timepix 技术商业化，为全球客户提供从硅传感器制造、微封装加工到混合像素光子计数探测器的X射线全产业链解决方案。同时在应用方面不断扩展，先后成立了衍生子公司 Radalytica 和 InsightART，分别从事复合材料诊断和艺术品分析。现在，衍生家族将再添一员- AdvaScope！电子显微镜的诞生，使人类的微观视野达到了原子精度的水平。经过五十多年的发展已成为现代科学技术中不可缺少的重要工具，被广泛应用到生物学、医学、材料科学、地质勘探、灾害鉴定以及工业生产等多种领域。AdvaScope正是瞄准这一应用，专为从事EM (Electron Microscopes)应用研究的客户提供定制化粒子探测系统，以及从客户痛点出发，提供专业的电子显微镜升级开发咨询服务。AdvaScope的成立，也标志着Advacam正式进军国际电子显微镜市场。我们能提供什么OUR TECHNOLOGY /AdvaScope可定制适用于EM应用的单粒子灵敏探测器，与常规探测器相比，拥有更优的分辨率、更快的速度和数量级的灵敏度改进。(4D )STEM in SEM/TEMµED (micro electron diffraction)EBSDEELSMicro/nano CTPtychographyX-ray irradiation systemsAND加速粒子探测系统的定制开发基于Timepix 探测系统的电子显微镜开发咨询diffraction pattern measured for Si sample aligned to [100] zone axisEBSD difraction pattern acquired in Thermo Fisher Scientific EM with a Timepix detector团队介绍OUR TEAM /AdvaScope创始团队汇集了来自电子显微镜和混合像素探测器两个领域的专家。其母公司Advacam与CERN Medipix Family有着密切合作，在混合像素光子计数X射线探测器开发领域始终保持着国际领先地位。同时公司与电子显微镜制造商，如FEI，TESCAN等国际巨头达成了战略合作关系。Pavel Stejskal- Scientific DirectorPavel 拥有核物理、高速数字和射频电子、信号处理和数据采集方面的专业背景，获伦敦帝国理工学院高能物理学博士学位。曾任职于CERN及FEI（现为赛默飞世尔科技），担任研究科学家一职。拥有直接电子探测、算法开发和信号处理等方向的多项专利。Michael Pohl- Managing DirectorMichael 毕业于捷克理工大学。在生产、工程、质控、项目管理方面拥有三十年的经验。Jan Jakůbek来自母公司Advacam的Jan负责监督研发工作及开发新的成像方法。Jan从事辐射成像和探测器研发多年，在实验和粒子物理、算法、电子和软件方面拥有丰富的经验。Jan 在布拉格捷克理工大学获得核物理博士学位，曾任捷克理工大学实验与应用物理研究所的创始成员和前系主任。Jan Sohar同样来自母公司Advacam的Jan 是一名业务开发专家，负责内部和外部流程改进。Jan 的背景是供应链管理、融资和公司运营。他在与技术初创企业合作方面拥有丰富的经验。SW专家团队AdvaScope软件团队在使用 Timepix 探测器开发定制解决方案方面拥有丰富的经验。他们为基于帧或数据驱动的采集策略开发了无损和加速的数据处理程序。他们对系统控制、监控、调节和校准的各个方面都有深刻的理解。合作伙伴Partners /北京众星联恒科技有限公司作为捷克Advacam公司中国区的总代理，也在积极探索和推广基于Timepix / Medipix芯片的混合像素X射线探测技术在中国市场的应用，目前已有众多客户将MiniPIX、AdvaPIX和WidePIX系列探测器成功应用于电子探测、空间辐射探测、X射线小角散射、X射线光谱学、X射线应力分析和X射线能谱成像等领域。我们也非常期待从事EM研究的客户联系我们，我们可以一起尝试做更多的事情。相关阅读Timepix3 |易于集成的多功能直接探测电子探测器Timepix3芯片原理及多种应用介绍(应用篇)Timepix3芯片原理及应用介绍(原理篇)

本篇短述主要介绍了基于双流气喷靶的激光产生(LPP) EUV和SXR等离子体光源的不同应用。这类光源可以由聚焦后的纳秒激光脉冲与双流气体喷靶相互作用，可以有效的产生真空极紫外（EUV）和软 X 射线（SXR）辐射。普通的商业化激光器（如单脉冲能量 ~1J，脉宽 3~4 ns）即可满足此类光源的要求。如果想要得到更高能量或更短波长的光源，可以选择单脉冲能量更高、脉宽时间更短（如单脉冲能量 ~10J，脉宽 ~1ns）的激光器。过去的二十年里，此类光源在不断地发展，也应用到了不同领域，如计量学、全场 EUV 和 SXR 纳米成像，激光等离子体光谱，XAFS 谱学，聚合物表面改性，X 射线相干断层扫描等。本文主要介绍激光等离子体光源在纳米成像领域和吸收谱领域的应用。✦纳米成像✦在纳米尺度成像方面，一般有两种成像系统。分别利用 EUV 和 SXR 辐射在空间上获得纳米尺度物体的高分辨率图像。在 EUV 全场显微镜中，其系统可实现纳米成像，工作波长为 13.8nm，空间分辨达到 50nm。该系统实验装置布局如图1所示。系统中采用 Mo/Si 多层膜椭球聚焦镜，将 EUV 聚焦并单色化到物体上。在透射模式下，利用菲涅耳波带片镜将放大后的图像传输到 EUV 敏感 CCD 相机上。最终，在一个非常紧凑的装置中，通过 EUV 射线，获得了样品（带孔的 Carbon/Au 箔）图像，如图2所示，其空间分辨率接近 50 nm。关于 EUV 显微成像实验细节可参考文献[1]。图1 (a)方案;(b) EUV显微镜的实验布置图2 穿孔碳/金箔EUV图像，其中a,c为Ar等离子体和b,d为Xe 等离子体照明。(c,d)为EUV图像中选中区域的放大单个孔洞细节 而 SXR 全场显微镜[2]中，其实验装置布局如图3所示。在该系统中，作者将脉宽 3ns，能量 0.74J 的 Nd:YAG激光，聚焦到双流气体喷靶上，由此产生软 X 射线。再用一种轴对称的、镀镍的掠入射椭球镜，将对软 X 射线有效的反射到样品处。其中，十字交叉的铜线置于椭球镜后方，用于阻挡直通光；200nm 厚的 Ti 滤片置于样品前，用于过滤、限制软 X 射线带宽，使其成为准单色光。再将物镜菲涅耳波带片置于样品后方，作为物镜将样品成像到后方的 CCD 相机上。最终，作者利用 2.88 nm 的软 X 射线，在相对较短(秒)的曝光时间内，获得了 ~60 nm 空间分辨率的图像，如图 4 所示。通过 SXR 图像，可以看到网格结构中的一些缺陷(在嵌入图像中放大，约 200nm 宽的特征)，而这些缺陷尺寸，已经超过可见光显微镜的理论衍射极限。关于 SXR 显微成像实验细节可参考文献[2]。图3  SXR 显微镜系统的示意图(a)和实物图(b)图4 (a)铜网的 SXR 图像，空间分辨率 ~ 60 nm。(b)铜网相同区域的可见光显微镜图像。 (c) 是 SXR 图像中白色方块区域的插图。✦吸收谱✦激光等离子体光源也可广泛应用于材料科学，比如 NEXAFS（近边吸收谱）和 EXAFS（扩展边吸收谱）。NEXAFS 一般可以给出价态、电子未占据态、吸收原子的局域结构、结构对称性及局域结构畸变缺陷等信息。EXAFS 则可以给出中心原子与配位原子的键长、配位数、无序度等信息。在文献[3]中，作者对氪/氦靶激光等离子体光源的 1.5 ~ 5 nm 波长范围内，进行了有效的软 X 射线优化。并在透射模式下，测量结果揭示了 PET 薄膜碳 K-α 吸收边附近的特征。实验装置如图 5 所示. 基于图 5b 的双流气喷靶激光等离子体光源，有效的实现了氪气靶的软X射线输出。软 X 射线再进入整套设备的光谱仪部分。在光谱仪内部，软 X 射线通过 200nm 的 Ti，250nm 的 Al 以及 200nm 的 Zr 滤片之后，部分照射到样品上作为样品光束，部分直通光作为参考光束，再通过狭缝、反射光栅，最后有位置灵敏探测器记录，如图 5a 所示。图5  a同时获取参考光谱和样品光谱的光学装置; b基于双流气喷靶的激光等离子体源NEXAFS实验系统方案整个实验对光谱仪的校准也是至关重要。作者采用了不同的气体靶（SF6, N2, 和 Ar）光源对光谱仪进行能量刻度，如图 6 所示。图6  a SXR光谱仪方案校准示意图; b用已知波长de 三种气体对光谱仪进行校准:SF6、N2和Ar ; c光谱仪校准曲线。最后，作者通过氪/氦等离子体 SXR 光源在 10 秒内产生了 100 次脉冲，同时获得了 PET 箔样品光谱和参考光谱，如图 7 所示。更多实验细节可以参考文献[3]。图7 用100次 SXR脉冲获得1 μm厚的PET箔上光谱。写在最后在上述的等离子体纳米成像和吸收谱中，大量采用了不同的光学部件，包括但不限于 Mo/Si 多层膜片、椭球聚焦镜、菲涅尔波带片、光栅、CCD 相机等等。众星联恒致力于引进高端的 EUV/SXR/X 射线产品、提供定制化的 EUV/SXR/X 射线解决方案以及新孵化高新技术产品，为中国同步辐射，研究所，高校及高端制造业的客户提供优质的咨询及解决方案。关于 Mo/Si 多层膜片：13.5nm Mo/Si 多层膜、高性能极紫外光学元件：实测反射率高达70%关于聚焦镜：以创新为先导，聚焦EUV极紫外/X射线光学器件的研发- 捷克RITE关于菲涅尔波带片：NTT-AT X射线菲涅尔波带片加工技术及在显微成像技术中的应用关于光栅：当LIGA技术与光栅法X射线相衬成像相遇关于CCD相机：德国Greateyes全新平台Alex！全帧、深度制冷CCD 相机参考文献[1] P. W. Wachulak, A. Bartnik, H. Fiedorowicz, J. Kostecki, “A 50nm spatial resolution EUV imaging–resolution dependence on object thickness and illumination bandwidth”, Opt. Express 19, 10, 9541–9550 (2011)[2] P. Wachulak, A. Torrisi, M. F. Nawaz, A. Bartnik, D. Adjei, Š. Vondrová, J.ana Turňová, A. Jančarek, J. Limpouch, M. Vrbová, H. Fiedorowicz, “A Compact “water window” microscope with 60 nm spatial resolution for applications in biology and nanotechnology”,Microscopy and Microanalysis 21, 5, 1214-1223 (2015)[3] P. Wachulak, M. Duda, T. Fok, A. Bartnik, Z. Wang, Q. Huang, A. Sarzyński, A. Jancarek, H. Fiedorowicz, ‘Compact system for near edge X-ray fine structure (NEXAFS) spectroscopy using a laser-plasma light source’ Materials 11, 1303(2018)

胸部 X 光检查是目前新生儿重症监护室最常使用的放射学医学成像方式。但是由于新生儿对辐射比成人更加敏感，且他们将要生存的时间更长，后期患癌风险更大。保护新生儿免受辐射危害成为至关重要的待解决问题。根据6月21日发表在《Radiation Physics and Chemistry》上的一项使用拟人模体的研究，使用高电压技术可以显著降低新生儿接受胸部 X 光检查的辐射剂量。通讯作者、阿拉伯联合酋长国沙迦大学医学诊断成像系教授 Wiam Elshami 博士领衔了一个国际研究团队模拟了一名新生儿在接受不同的加速电压 (kVp) 设置和采集时间的数字胸部 X 光检查。他们发现，使用高加速电压技术可使辐射暴露降低 40%，同时保持足够的图像质量。胸片是新生儿重症监护病房中最常用的放射检查方式。目标是确保这些患者的辐射剂量不高于所需的剂量，同时保持图像质量以诊断潜在的发现。这需要调整机器 X 射线管中的电压 (kVp) 以及用于获取高质量图像的时间，以毫安秒 (mAs) 为单位。增加电压可以降低 mAs（曝光时间），但也会降低图像质量。目前对接受前后位 (AP) 胸部 X 光检查的儿科患者的指南建议在 60-80 kVp 和 1-2 mAs 之间。然而，作者写道，由于新生儿再次入院和随后检查的可能性较高，他们面临着更高的辐射暴露风险，目前还没有针对新生儿的具体建议。新生婴儿模体在这项研究中，Elshami 及其同事使用他们开发的新生儿模体来模拟一个新生儿在沙迦大学医学影像实验室接受胸部 X 光检查。该模体模拟了一名新生儿患者，其身高和体重分别为 50.9 厘米和 2.4 公斤。辐射剂量面积乘积 (DAP) 记录在DICOM 图像中，而图像质量由三位放射科医生确定，他们评估了模型肺部四个感兴趣区域 (ROI) 中的图像。研究人员在 40、50、60 和 70 kVp的加速电压下测量了 DAP。作者发现，kVp 和 mAs 的优化对降低患者辐射剂量有显著影响。根据调查结果，当 kVp 从 40 增加到 50 时，平均 DAP 下降了 26.7%，然后在 60 kVp 时下降了 22.9%，在 70 kVp 时下降了 40.3%。40 kVp 对患者的有效辐射剂量范围为 0.13 至 0.23 µSv，而 70 kVp 的有效剂量范围为 0.08 至 0.17 µSv。此外，由评估放射科医师使用的评分系统确定的图像质量没有显着差异。“使用高 KVp 可显着降低辐射剂量，同时保持图像质量，”作者写道。尽管这是一项使用体模的实验研究，限制了图像评估，但该研究强调了分析新生儿患者图像并计算不同暴露的风险的必要性，以确保安全实践。“对患者的辐射剂量应始终保持在尽可能低的水平（ALARA），同时提供足够的图像质量以支持正确的诊断和治疗过程，”Elshami 及其同事总结道。免责申明此篇文章内容（含图片）均来源于网络。文章版权及观点归原作者所有，北京众星联恒科技有限公司发布及转载目的在于传递更多行业资讯与网络分享。若您认为本文存在侵权之处，请联系我们，我们会在第一时间处理。如有任何疑问，欢迎您随时与我们联系。

拓展边界，开阔视野众星联恒2022综合素质提升系列讲座学习是企业进步的源泉，有别于传统的内部业务培训，众星联恒定期举办的综合素质提升系列讲座面向内部全体员工，旨在提升大家的综合素质，扩展各领域知识储备，增强企业核心竞争力。今年，我们再次邀请到了数位来自金融、医疗、法律领域的专家学者们，为我们带来了两天精彩的讲座，从不同学科、多个维度看当下与未来。站在世界的不同位置我们对世界的认识不尽相同会议详情：《股权策略逻辑分享》时间：2022.7.16  上午主讲人：赖新予老师在《股权策略逻辑分享》的主题讲座中，赖老师着力于投资中国科技创新，从需求端、技术端分析市场存在的机会，并提出适合创新型企业发展的投资策略建议。《民法典》中婚姻家庭编之法律的理解与运用时间：2022.7.16  上午主讲人：贺喜律师来自上海市汇业律师事务所的贺喜律师，在本次《民法典》中婚姻家庭编之法律的理解与运用讲座中，对婚姻关系的处理原则、财产关系、人生关系及离婚问题进行了详细讲解，例举实际案例来阐述相关法条。《半导体材料及物理简介》时间：2022.7.16  下午主讲人：张教授张教授从半导体材料、器件为源，深入讲解其实际应用及前景发展。讲座结束后，张教授与大家共同探讨半导体行业的发展前景。《下半年宏观经济展望》  时间：2022.7.17  上午  主讲人：马林老师中金财富成都天府大道证券营业部总经理马林老师从2022年经济高频词再到如何构造资产配置的战术框架，分析当下经济热点及形势，结合生活实例深入浅出将下半年宏观经济展望娓娓道来。《医工融合新应用》   时间：2022.7.17  下午   主讲人：宋海波教授来自华西医院的宋海波教授从二尖瓣的构造引入主题，列举实例，向我们分享了医工融合解决临床难题的新应用。君子之学必好问，问与学，相辅而行者也。非学，无以致疑；非问，无以广识。本次讲座在公司全体成员与专家热烈的沟通交流中落下帷幕。众星联恒一直致力于为国内X-RAY/EUV领域的朋友提供优质尖端的产品和专业高效的服务。我们始终保持着对全球最新技术的关注与学习，通过定期的内部培训，持续的输入，保证团队的不断成长。但人类是习惯性的动物，我们每天都会走同样的道路，去同样的地方喝咖啡，坐在同样的椅子上，做着相似的工作，接受着同样的信息。习惯可能让我们感到舒适，但是一成不变的思维会让我们乐于偏安一隅，扼杀我们的创造性思维。因此我们也希望借此机会通过多学科的融合交流，引发团队更多的新反应和新思考。

本月，KA Imaging 将出席以下系列的国际医学会议，并在会议上展示世界上首款可用于固定和移动/便携式应用的单曝光双能X射线探测器 Reveal™ 35C，KA Imaging 的技术专家也将为大家讲述双能量剪影（DES）X 射线为医学成像带来的增益，也会展示Reveal™ 35C 在临床试验中提高检测灵敏度和病变可见度的真实数据，敬请期待。会议详情：2022 年第 50 届美国医学影像管理协会年会（AHRA）时间：2022年7月10-13日地点：美国 菲尼克斯（凤凰城）会议简介：美国医学影像管理协会（AHRA）成立于1973 年，是代表各级医院影像科室、独立成像中心管理者的专业组织。目前 AHRA 在世界各地拥有超过 5000 名成员。2022 年欧洲放射学大会 (ECR2022)时间：2022 年 7 月 13-17 日地点：奥地利 维也纳会议简介：ECR 始于1967 年，由欧洲放射学会（ESR）主办。ECR是欧洲最大的国际性医学会议之一，也是世界第二大放射学会议。2022年美国国际医疗器械展览会（FIME）时间：2022 年 7 月 27-29 日地点：佛罗里达州 迈阿密会议简介：FIME 作为全美最大医疗器械展览会，是美洲最大的医疗保健和贸易专业人士聚会。随着 FIME 展商的持续增加及不断引进新的国家展区，其国际观众也在持续增长。FIME 现已成为美洲最负盛名的医疗商贸交流平台。About Reveal™ 35CReveal™35C 是世界上首款可用于固定和移动/便携式应用的单曝光双能 X 射线探测器。它采用 KA Imaging 独有的双能专利技术 SpectralDR™：双能量剪影 ( DES) X射线内部有两种不同的能量：一种善于突出软组织，另一种则是突出骨骼。可以得到 3 种不同的图像（常规DR、软组织和骨骼），在没有骨骼阻挡视野的情况下看到肺部和软组织，并识别钙化组织。Reveal™35C 具有独特的三层堆叠设计，便于集成， 量子效率高。与其他双能解决方案不同，Reveal™35C只需要一次 X 射线曝光，即使用与常规胸部 X 光相同的辐射剂量，就能消除运动伪影，实现骨和组织的区分，首次实现横向双能图像。Reveal™35C已经获得美国FDA 510(k) 认证和加拿大卫生部许可。特点优势◆ 单次曝光                                  ◆ 固定和移动/便携式应用◆ 独家技术                                  ◆ 与胸部 X 光相同的辐射剂量◆ 多视图：正位、侧位、斜位临床应用◆ 肺结节                                     ◆ 肺炎◆ 气胸                                        ◆ 冠状动脉钙◆ PICC线                                    ◆ 静脉肾盂造影 ( IVP)◆ 尘肺病（黑肺）主要参数应用案例胸部正位X光片发现隐性肿块侧位胸片发现隐藏肿块KA Imaging 源自滑铁卢大学，成立于 2015 年。作为一家专门开发创新 X 射线成像技术和系统的公司，KA Imaging致力于利用先进 X 射线技术为医疗、兽医学和无损检测工业市场提供解决方案。KA Imaging其他产品详情请点击：跨向理想X射线探测器的一小步-高分辨、非晶硒X射线探测器及其应用KA Imaging高性能、非晶硒X射线探测器交付美国阿贡国家实验室

2022年IMXPX射线、相衬&光子计数医学应用国际研讨会IMXP—X射线、相衬&光子计数医学应用国际研讨会每年举行一届，去年因疫情取消，今年已重新恢复线下举办。2022 IMXP会议由慕尼黑工业大学等主办，聚焦X射线相衬成像、光子计数及暗场成像等技术在医学领域的应用。将邀请来自全球的专家学者，带来最新的技术发展及在生物医学中的最新研究成果。作为本次会议赞助商之一的Microworks GmbH 致力于为客户提供高精度、高纵横比、高度定制的X射线相衬光栅、相衬&暗场成像套件TALINT、分辨率测试卡、针孔、CRL镜、beamstop等微结构。X射线LIGA技术目前在世界处于领先水平。会议时间1输入文字输入文字会议时间：2022年8月4日至8月5日—Europe/Berlin时区会议地点：Munich，GermanyThe Technical University of Munich Institute for Advanced Study(TUM-IAS) 会议内容2输入文字输入文字KEYNOTE SPEAKERSProf. Philippe DouekProfessor of Cardio-Vascular Radiology, teacher and researcher on the organization chart of CREATISLeader of France Life Imaging research network in LyonProf. Cynthia McColloughDirector of Mayo Clinic's CT Clinical Innovation CenterProf. Franz PfeifferDirector of the Munich School of Biomedical Engineering Chair of Biomedical Physics TUMINVITED SPEAKERSTheresa UrbanPhD Candidate specialist on the new Dark-Field Imaging modalityDr. Jenny RomellBiomedical and X-ray Physics KTH Royal Institute of Technology, SwedenDr. Christel SundbergResearch Engineer Prismatic Sensors / GE HealthcareHOST INSTITUTIONS1、Technical University Munich2、Klinikum rechts der Isar相关阅读如此轻松！30分钟快速搭建X射线相衬、暗场成像光栅装置当LIGA技术与光栅法X射线相衬成像相遇Microworks光栅助力新冠病毒肺部诊断德国Microworks高衬度x射线分辨率测试卡Microworks 代理产品>德国Microworks公司基于及独特的LIGA技术，向广大科研用户提供定制化的微结构加工服务。其中，它的X射线透射光栅在相衬成像领域，有着极高的声誉。

引言计算机断层扫描 (CT) 在医学领域已经普遍用于评估传统计算机轴向断层 (CAT) 扫描中的人体解剖结构。它也是评估骨小梁结构以诊断骨质疏松症等疾病的非常常用的工具。最近，高分辨率 CT (micro-CT) 在材料科学中越来越多地用于评估工业应用中各种先进材料的内部结构。了解这些材料的微结构对于更好地了解它们的性能非常重要。Micro-CT 是一种无损 3D 表征工具，它使用 X 射线通过对被扫描物体内不同密度的成像来确定物体的内部结构。基于实验室的高分辨率 micro-CT 或 nano-CT 可提供 ~50 nm 量级的图像分辨率。如此高的分辨率允许人们可视化精细特征的内部 3D 结构。来自 micro-CT 的数据可以对正在研究的对象进行虚拟渲染，这允许人们以任何方向和角度穿过物体，从而揭示对象内复杂的隐藏结构。为了获得更高的的分辨率，科研工作者做了许多的尝试，包括减小 X 射线源的焦斑，提高 X 射线探测的分辨率，开发更优的重建算法，同时纠正各种伪像等。目前实现X射线显微（微米/微米）的技术路线主要有：1. 投影几何放大技术2. 基于菲涅尔波带片的扫描透视显微技术或全场透视显微技术等全场透视显微光路扫描透视显微技术更高的测试精度在微纳 CT 的制造和使用中，对 CT 系统分辨率的测试，体素的校正及不可避免的转台摆动的校正，是获得高质量，高精度 CT 数据的必要步骤。CactuX 捷克 CactuX 公司成立于 2020 年 3 月，由 CEITEC布尔诺理工大学 X 射线微纳米 CT 实验室的研究人员组成，得益于在计算机断层扫描领域丰富的研发经验，CactuX 为广大工业和实验室 X 射线计算机断层扫描(CT)系统研发和生产 CT 附件，并提供 CT 咨询服务。CactuX 公司用极小的红宝石球制造的模体工具，可用于微纳 CT 系统的转台几何错位校正、分辨率测试表征、体素校正等以及提高 CT 数据质量。其中 Spirit 系列是用于微纳 CT 计量表征和校准的模体和 Shadow 系列是经过认证的 CT 模体，即使视野 (FOV) 低于 1 毫米，也可以进行体素尺寸校准。Spirit系列— 纳米CT体素校准模体 Voxel-Spirit Voxel-Spirit 是一种独特的，经过认证的CT模体，专为nanoCT应用而开发，甚至可以对1毫米以下的视场(FOV)进行体素大小校准。▪ 0.06 μm 校准精度▪ 缩短校准时间▪ ▪ 简单快速易用主要参数视场要求0.6 mm x 0.7 mm球规格直径: 0.3 mm距离0.45 mm (认证精度: 0.06 μm)模体支架规格可选直径: 1.5 mm, 3.0 mm, 5.0 mm长度50 mm使用材料红宝石，碳，不锈钢校准流程任何用于CT数据的图像处理软件— 微纳CT分辨率测试模体 Spirit resolution Resolution-spirit 通用模体组适用于纳米CT和微米CT的空间分辨精密评估。▪ 4 种尺寸可选▪ 快捷、易用▪  10 μm 体素尺寸CT应用▪ 遵从 ASTM E1695-95 标准主要参数模体IIIIIIIV球直径 * [mm]0.51.02.55.0最大市场宽度 [mm]1.02.05.010.0支架尺寸 [mm]1.51.53.05.0支架长度[mm]50.050.050.050.0使用材料红宝石，碳校准流程任何用于CT数据的图像处理软件— 微纳CT转台摆动校正样品架 R1-Shadow带有用于 nanoCT 和 microCT 测量的基准标记的样品架，可以快速直观地校正旋转台的不准确性和 CT 数据配准，适用于双能量 CT 或 4D CT 等应用。R1-Shadow 是一种多用途解决方案，适合可变视场 (FOV) 限制和高精度要求。▪ 4 种尺寸可选▪ 快速，简单，易用▪ 数据匹配精度小于1个像素▪ 数据质量和精度增强主要参数尺寸可选项IIIIIIIV基准尺寸 [μm]252550100最大像素尺寸[μm]*2.52.55.010.0支架尺寸r [mm]1.53.05.010.0支架长度 [mm]50.550.550.550.5使用材料碳, 聚酰亚胺胶带, 不锈钢包装可选项3 片, 5 片, 10 片平移台误差校正和配准流程imageJ plugin/ 任何CT数据采集软件更高的测试效率除了高精度以外，测试效率对于 X 射线显微无损检测也显得格外重要。因此 CactuX 专为微米 CT 的样品定位设计了 XY 电动平移台 SaguaroX，可快速固定样品，使得样品与 X 射线管的中心对准极其容易。SaguaroX 可以从 CT 机柜外部进行无线控制。SaguaroX S无线控制允许360°旋转最大载重7Kg8h连续稳定工作快速简单的样品固定SaguaroX M无线控制允许360°旋转最大载重15Kg16h连续稳定工作快速简单的样品固定SaguaroX M Heavy无线控制允许360°旋转最大载重30Kg16h连续稳定工作快速简单的样品固定主要参数SaguaroX SSaguaroX MSaguaroX M Heavyx,y 轴行程50 mm × 50 mm100 mm × 100 mm100 mm × 100 mm样品区域135mm × 135 mm220 mm × 220 mm220 mm × 220 mm最大载重7 kg15 kg30 kg重量4.5 kg9 kg11.5 kg尺寸140 mm × 140 mm × 58 mm（不含适配器）229 mm × 229 mm × 82 mm（不含适配器）229 mm × 229 mm × 82 mm（不含适配器）电池Li电池 (14.6 V/3.4 Ah)Li电池 (14.6 V/5.54 Ah)Li电池 (14.6 V/5.54 Ah)运行时间约8 h 连续运行（取决于电池状态）约16 h 连续运行（取决于电池状态）约16 h 连续运行（取决于电池状态）运行速度9 mm /s (快速移动)10 mm /s (快速移动)10 mm /s (快速移动)供电参数24V/2.5A with barrel connector (DC Jack) 5.5 x 2.1 mm输入功率50WIP代码IP20RF功率北京众星联恒科技有限公司作为捷克 CactuX 公司中国区授权代理商，全面负责 CactuX 所有产品在中国市场的产品售前咨询，销售以及售后业务。我司始终致力于为广大科研用户提供专业的 EUV、X 射线产品及解决方案。如果您有任何问题，欢迎联系我们进行交流和探讨。

Widepix 系列是由捷克 Advacam 公司开发的无缝拼接的大面积光子计数、像素化（HPC）X 射线探测器。其每一个像素都对应了一套完整的信号处理电路。入射 X 光在传感器中直接转换成电子空穴对后，电信号被每一个像素单元的电路进行处理和计数。相较于传统的积分式 X 射线探测器，它具有零噪声、高动态范围、高灵敏度（单光子）、低点扩散和能量窗口鉴别能力等特点。相较于传统的 X 射线成像，它主要由两大优势：高对比度加上清晰的图像和 X 射线的光谱信息，使材料的特定信息以颜色显示。同时它还内置了数据时间延时积分功能（TDI）以用于工业扫描应用。如下视频展示了传统间接 X 射线探测器、直接探测器、积分式探测器和光子计数、像素化 X 射线探测器的不同点。捕获的图像质量主要在空间分辨率、图像噪声和材质鉴别方面存在差异。数字时间延迟积分(DTDI)允许对被检查的样本进行持续扫描，而不需要对无法匹配相机视野的单个图像进行拼接。当样本在相机的视场中移动时，形成高质量和分辨率的图像。不同类型传感器探测器效率 无边缘传感器技术允许从各个方面将所有的模组紧密地放在一起，因此，相机的整个成像区域对辐射完全敏感——图像中的模组之间没有缝隙。该相机坚固耐用，可满足工业用户及科研工作者的各种使用需求。非常适合于工业无损检测、X 射线成像、X 射线衍射、散射及光谱等应用。实物展示WidePIX 2(1)X5 - MPX3Industrial Spectral Imaging CameraWidePIX 2(1)X5Industrial Scanning CameraWidePIX 5X5Industrial Large Area CameraWidePIX 2(1)X5 探测器放置于工业CT中WidePIX 2(1)X5 - MPX3 探测器与机器人扫描仪及 50KV X射线联用用于艺术品，轻材料飞机机翼的无损检测主要参数1主要应用之 X 射线成像XRM-II nanoCT SEM based computed tomography来自德国弗劳恩霍夫集成电路研究所和维尔茨堡大学及德国企业的研究团队于2019年在International Symposium on Digital Industrial Radiology and Computed Tomography 报道了他们基于 SEM 改造的纳米 CT 系统-XRM-II nanoCT，该系统基于几何放大的原理，主要应用于材料研究。该系统由扫描电子显微镜 JEOLJSM7900 组成，用于将电子聚焦在针状钨或钼靶上，尖端直径约为 80 nm。通过这种方式，作者生成了相同大小的 X 射线源点，以实现低于 100 nm 的空间分辨率。探测器方面，作者选用了捷克Advacam公司的具有1 mm厚CdTe 传感器层和1290 x 512 像素的光子计数、像素化探测器。由于纳米X射线源的电子通量只有400nm所以参数X射线强度是非常弱，同时为了得到足够的放大倍率，样品需要离光源非常的近，探测器需要离样品足够的远，这样一来到达探测器单个像素的X射线光子数就非常的少，这也是选择，单光子灵敏、高探测器效率、高帧率的 widepix 探测器的主要原因。 参考链接：https://www.ndt.net/search/docs.php3?id=247382主要应用之 X 射线谱学A novel robust pulsed laser driven x-ray source suitable for medical application来自法国的研究团队在 2022 年 4 月 4 日报道了他们开发的用于医学应用的激光驱动脉冲 X 射线源，其中激光的参数为 25 mJ, 1.7 ps at 100 Hz，X 射线的能量为 17KeV，焦斑尺寸为 20 μm x33 μm，其特别适用于乳房 X 光相衬成像。为了设计一种坚固，耐用的医学成像设备，研究激光与目标相互作用所发射的 X 射线的特性是至关重要的。对于硬 X 射线辐射的测试，作者选用了捷克 Advacam 公司的 CdTe 像素化、光子计数 X 射线探测器 WidePix 2x5 和 Amptek 的CdTe 光谱仪。其中前者放置于离光源1m的距离，选择光子计数模式用于测量 X 光的强度，并监测了光强所时间的变化。得益于 Widepix CdTe 探测器的高帧率，在 17keV 的高量子效率使用监测 X 射线源的强度成为可能。参考链接：https://www.spiedigitallibrary.org/conference-proceedings-of-spie/12031/1203148/A-novel-robust-pulsed-laser-driven-x-ray-source-suitable/10.1117/12.2607282.short?SSO=1来自上海科技大学和上海高能研究院的翁祖谦教授等在 2022 年 3 月 27 报道了他们建立的一个基于罗兰圆几何结构的设备，在在轴和离轴罗兰圆开的情况下，研究了 Si(444) sbc 在 60°—86° 不同布拉格角下的聚焦性能。Advacam 公司的CdTe像素化、光子计数X射线探测器 WidePix 1x5 用于探测、研究球面Si（444）镜子在弧矢面和子午面的聚焦性能。结论显示，球面弯曲晶体由于在罗兰面（弧矢面）和非罗兰面（子午面）的焦长不同，显示除了不同的聚焦性能。Widepix 的高空间分辨能力（55 微米像素及 1 个像素的扩散）、高探测效率、高动态范围使得对聚焦光斑的分析更为灵敏、精确。参考链接：https://www.spiedigitallibrary.org/conference-proceedings-of-spie/12169/121697H/X-ray-focal-properties-of-spherically-bent-crystals-for-synchrotron/10.1117/12.2625018.short3主要应用之 X 射线衍射In situ X-ray and acoustic observations of deep seismic faulting upon phase transitions in mantle olivine2022 年初来自日本 spring8、同步辐射研究所和爱媛大学的研究团队在 Research Square 预发表了他们的研究成果。深层地震的活动，随着深度的增加，从~400公里到~600公里处达到峰值，在680公里处突然减少到零，这是一个谜，因为在13-24 GPa的相应压力下，不太可能发生脆性破坏。基于压力下的相变实验，有人提出俯冲板块中橄榄石的压力诱导相变是深层地震发生的原因。然而，大多数实验是使用地幔橄榄石的类似材料在低于~5 GPa 的压力下进行的，这并不直接适用于实际的板片。在这里，作者报告了在 11-17 GPa 和 860-1250 K 下（Mg，Fe）2SiO4 橄榄石的相变实验，该实验结合原位 X 射线观测和声发射测量，该温度，压强条件相当于俯冲板片较冷区域进入地幔过渡区。 对于X射线衍射实验，作者使用 MAR-CCD 相机拍摄单色 X 射线（能量 60 keV）的二维径向衍射图案，曝光时间为 8-9 分钟。为了提高测量的时间分辨率，在后来的四次运行 (M3423-3426) 中采用了带有 CdTe 传感器的 WidePix 5x5 成像探测器 (Advacam Co.)。使用 WidePix 检测器将二维衍射图案的曝光时间缩短至 70 秒。得益于WidePix 5x5 的探测器的高灵敏度和高探测器效率使的更高的时间分辨成为可能。参考链接：https://www.researchsquare.com/article/rs-1186850/v1

“持续追求更优的设计，不断提高相机性能。”日前，我们的合作伙伴 greateyes 正式发布了用于 EUV、VUV、X 射线的全帧内真空 CCD 相机 LOTTE。greateyes 已经为客户成功定制了这样的内真空相机，并在今年的慕尼黑国际光博览会（LASER World of PHOTONICS）上向大家首次公开展示了 LOTTE：LOTTE覆盖5eV - 20keV的能量范围，采用封装式不锈钢外壳，超高真空兼容，低至10-9mbar；18 bit 的模数转换能够利用 CCD 传感器的全动态范围达到更高的信噪比。这款内真空 CCD 相机 LOTTE 集成了目前最前沿的低噪声电子系统和超低温制冷技术，深度制冷至 -100℃，低噪声使之成为极弱信号条件下的理想相机，将给光谱学和影像研究带来前所未有的可能性。特 点•  可至 -100 °C 的超低温半导体制冷系统    产生极低的暗电流来达到更佳检测极限•  千兆以太网 GigE 数据接口   您可选择本地或远程进行操作•  至 5MHz 的快速读取速度   高帧率搭配低噪声电子系统•  超高真空（UHV）兼容性   密封设计达到极低的材料释气率•  高达 98% 的量子效率   灵敏的传感器适合弱光应用•  灵活的软件选项   原装 Vision 软件或各类开发包 SDK极紫外、软 X 射线内真空 CCD 相机LOTTE-s 光谱系列型号参数典型应用▪ 极紫外光刻▪ 软 X 射线光谱▪ 等离子体发射光谱▪ 高次谐波（HHG）光谱▪ X 射线近边吸收精细结构光谱共振非弹性 X 射线散射量子效率极紫外、软 X 射线内真空 CCD 相机  LOTTE-i 成像系列型号参数典型应用▪ 极紫外光刻▪ X 射线层析成像/ 荧光成像▪ 傅立叶变换全息术▪ X 射线衍射▪ X 射线相衬成像▪ 掠入射小角 X 射线散射（GISAXS）量子效率灵活定制我们也可以根据客户的需求灵活定制您的专属相机！例如改变传感器的位置和倾角，修改相机尺寸及冷却系统等等，更多具体要求欢迎与我们交流。德国Greateyesgreateyes 开发、生产并销售高性能科学相机。其作为精确探测器，被广泛应用于成像与谱学应用领域。同时，greateyes 公司也生产用于太阳能产业的电致荧光与光致荧光检测系统。成立于 2007 年的greateyes，以德国柏林洪堡大学的技术为基础，迅速发展成为国际知名的先进探测器生产企业。如今，其科研与工业客户群体已遍布多个国家。 北京众星联恒科技有限公司作为 greateyes 公司中国区授权总代理商，为中国客户提供 greateyes 所有产品专业的售前咨询，销售及完整的售后服务。欢迎各位对 CCD 相机感兴趣的老师随时联系我们。

加拿大 KA Imaging 公司的工程师 Chris Scott 和 Jesse Schmidt 于上周在美国阿贡国家实验室完成了具有其专利技术的非晶硒 X 射线探测器- BrillianSe™的交付及使用培训。工程师 Jesse 正在进行培训“对于相干衍射成像（CDI），微米级像素的非晶硒 CMOS 探测器—BrillianSe™ 将专门解决大体积晶体材料中纳米级晶格畸变在能量高于 50 keV 的高分辨率成像。目前可用的像素相对较大的（〜55μm 像素），基于 medipix3 芯片光子计数、像素化、直接探测技术无法轻易支持高能布拉格条纹的分辨率，从而使衍射数据不适用于小晶体的 3D 重建。” 美国阿贡国家实验室先进物理光子源探测器物理小组负责人 Antonino Miceli 博士讲到。 相干 X 射线衍射成像作为新兴的高分辨显微成像方法，摆脱了由成像元件所带来的对成像分辨率的限制，其成像分辨率理论上仅受限于 X 射线的波长。利用第三代同步辐射光源或 X 射线自由电子激光，可实现样品高空间分辨率、高衬度、原位、定量的二维或三维成像，该技术在材料学、生物学及物理学等领域中具有重要的应用前景。作为一种无透镜高分辨、无损成像技术，CDI 对探测器提出了较高的要求：需要探测器有单光子灵敏度、高的探测效率和高的动态范围。目前基于软 X 射线的相干衍射成像研究工作开展得比较多，在这种情况下科研工作者通常选用是的基于全帧芯片的软 X 射线直接探测相机。将 CDI 技术拓展到硬 X 射线领域（>50keV）以获得更高成像分辨率是目前很多科研工作者正在尝试的，同时也对探测器和同步辐射光源提出了更好的要求。而这次交付的非晶硒、高分辨 X 射线探测器（BrillianSe™）能很好的解决的这一问题。关于 BrillianSe 更多介绍详见之前的推文：“跨向理想 X 射线探测器的一小步-高分辨、非晶硒 X 射线探测器及其应用”与此同时，加拿大 KA Imaging 公司的技术总监于2021年在 Journal of Synchrotron Radiation 发表了一篇名为“High-energy micrometre-scale pixel direct conversion X-ray detector”的文章，详细地介绍了 BrillianSe 的性能及特点。链接如下：https://journals.iucr.org/s/issues/2021/04/00/gy5022/index.html 北京众星联恒科技有限公司作为加拿大KA Imaging公司中国区独家授权代理商，全面负责BrillianSe™及inCiTe™在中国市场的产品售前咨询，销售以及售后业务。我司始终致力于为广大科研用户提供专业的EUV、X射线产品及解决方案。如果您有任何问题，欢迎联系我们进行交流和探讨。

2022年6月26日至30日-europe/rome 时区riva del garda, italyiworid 第23届辐射成像探测器国际研讨会iworid 辐射成像探测器国际研讨会每年举行一次，其目的是为从事辐射成像探测器领域的科研学者提供一个分享新进展新成就，探讨未来发展和深化交流合作的国际化平台。研讨会聚焦半导体、气体和闪烁体探测器，主题包括探测器材料的处理和表征、混合和互连技术、计数或集成电子器件的设计、读出和数据采集系统，以及科研及工业领域的多项应用。来自advacam s.r.o研究团队成像应用专家stepan polansky的文章high-resolution large-area medipix3 camera for x-ray spectral imaging of fast-moving objects已被收录。该文主要介绍了捷克advavam公司为欧洲x-mine项目定制的新一代高分辨光子计数型x射线探测器widepix 1x30及相关实验结果，该探测器已被欧洲委员会列为项目重点创新产品。由欧洲“地平线2020计划”资助的x-mine项目旨在开发最先进的矿物开采技术，通过将x射线荧光技术、x射线透射成像技术、3d视觉技术集成到矿物实时x射线分析系统中，在减少对环境产生负面影响的同时，提高采矿作业的效率并实现矿物资源的可持续发展。基于medipix3芯片的widepix 1x30探测器可以在延时集分（time-delayed-integration）模式下工作，允许对快速移动的物体(如传送带上的岩石)进行连续成像，宽度为42厘米，相当于7680个像素（每个55μm），用于分析矿石开采过程中特别是贵重矿物的组成，识别其含量。55 μm的空间分辨率可以实现对岩石颗粒内部结构的成像和分析，并直接检测矿物和金属的侵入体，如铜、锌、铅甚至金。该相机的理论最大扫描速度约为5米/秒，可对样品进行快速扫描。新一代的widepix探测器可广泛用于连续移动x射线检查和动态x射线机械臂扫描的场景，如矿物分析、临床前医学测试、汽车行业、食品检测、艺术品检测等。相关阅读widepix光子计数x射线探测器-高探测效率、高分辨率工业相机advacam为欧洲采矿项目x-mine定制光子计数型x射线探测器widepix 1x30advacam新品|widepix 2(1)x10-mpx3探测器：双读出网口，170帧/s关于iworid 会议时间：2022年6月26日至6月30日会议地点：riva del garda, italyroom gardariva del garda congress centreloc. parco lidoi - 38066 riva del garda (tn)大会主题applicationsmaterial analysisx-ray diffraction and fluorescenceprotein crystallographytomography, high resolution and fast imagingbiological and medical imagingelectron microscopysecurity systems and other industrial applicationsapplications at x-ray free electron lasersneutron imagingastronomical and space applicationshigh energy physicsnuclear physicsfusion researchdetector systemsthis session covers the wide variety of detector systems from extensive lhc detectors to small single diode systems, from visible light to heavy charged particles.sensor materials, device processing & technologiessilicon (single crystal and amorphous)gallium arsenide, cadmium telluride and other semiconductors3d and edgeless sensorsgaseous detectorsquantum devicesprocessingcharacterizationradiation damagescintillatorsfront-end electronics and readoutmonolithic and hybrid systemssingle photon counting and charge integrating front ends3d asicsmonolithic active pixel sensorsccdsdata readout architectureshardware and softwaredata compression, transfer and storageimaging theory-imaging with ionizing radiationcomplementary imaging techniques at different length scalesfluorescence mapping and tomographylow radiation dose approaches applicationsmaterial & life sciencemulti wavelength techniqueselement mapping in 2d / 3dhigh resolution imagingsub ns imagingtof and particle trackinghigh power laserselectron microscopy

ADVACAM系列产品调价通知我们非常荣幸，自捷克ADVACAM X射线探测器进入中国便受到众多用户的喜爱和认可。众星身为ADVACAM公司在中国区的总代理，多年来我们与ADVACAM一直携手共进，不断打磨产品，开拓更多的应用来回馈广大用户。   自2020年以来，因为种种不可抗力，无论从产品原材料芯片、生产成本到物流运输，各方面都不断上涨。今年以来，核心部件芯片更是出现了严重短缺。我们不愿意在产品品质上妥协，不得不调整全线产品的价格。故自2022年7月1日起，ADVACAM全线产品价格将调整价格。为此给您带来不便，请多海涵。希望此次调整能够得到您的理解，我们将一如既往地提供专业的技术服务回报大家的支持。顺祝商祺！ 众星联恒

引言极紫外( Extreme Ultraviolet) 是处于真空紫外与软 X 射线之间，波长在几纳米至几十纳米的一个特殊波段。不论是对基础研究还是工业领域来说，EUV 光源都是很强大的工具。高次谐波光源(HHG)和 X 射线自由电子激光(XFEL)被用于许多超快和高强度的的光学实验。在工业领域，激光驱动等离子体光源（LPPS）实现了将 EUV 光刻和EUV检测作为大批量生产的工具。从 1976 年 EUV 多层膜的首次出现开始，到今天多层膜的研究和开发取得了较大的进展。尤其是 Mo/Si 多层膜在 13nm 波长附近的峰值反射率超过了 60%，高达 70%。基于 13.5nm 多层膜技术的高速发展，得益于科研人员经过详情的论证及大量的实验，最终13.5nm/92eV 得以成为光刻应用的波长。本文将简要介绍 Mo/Si 多层膜的原理和工艺，及北京众星联恒科技有限公司与德国 optiXfab 公司针对中国市场联合推出的 1 英寸，13.5nm 多层膜镜片的主要参数及性能。紫外多层膜的原理和工艺由于在极紫外波段存在着大量的原子共振线，因此对于所有的固体，液体及气体都会对极紫外光都有较强的吸收。入射光会在很短的距离被吸收，典型的吸收长度为百纳米量级（100nm@水），所以无法制作像针对可见光的折射透镜。目前可以实现对极紫外较高的反射的技术路线主要有两种，一种就是利用入射角大于临界角时产生的全反射现象，实现掠入射光学系统——我们通常镀一层几十纳米的 C，Au 等的镀层。然而掠入射光学系统的收集立体角很小或者需要很大的尺寸来获得较大的有效收集立体角（对于所有材料，极紫外的折射率接近于及 1，所以全反射临界角接近于 90 度，需要掠入射以获得较高的反射率），极紫外多层膜很好的解决了这个问题，通过构建多个反射界面和周期，并使反射界面等周期重复排列，相邻界面上的反射线有相同的相位差，就会发生干涉，如果相位差刚好为 2pi 的整数倍，则会干涉相长，利用此（布拉格衍射）原理可在较为灵活的角度甚至是接近正入射的条件下得到强反射线。从布拉格公式可以看出：多层膜就是通过对 d 值的控制，来实现波长选择（以及加强反射）的人工晶体。而在工艺实现方面，目前制备极紫外多层膜镜的主要工艺有：磁控溅射、电子束蒸镀、离子束溅射。目前optiXfab采用的磁控溅射的镀膜工艺，对于 13.5nm，5 度入射角，我们选取周期交替的 ~2.76nm 的 Mo 和 ~4.14nm 的 Si 材料作为反射膜层。NESSY I / NESSY II 镀膜机 基底尺寸：最大Ø450mm/最大Ø700mm可在曲面基底镀梯度多层膜主要应用：极紫外光学元件/收集镜极紫外多层膜的表征设备1英寸高性能13.5nm多层膜镜片得益于北京众星联恒科技有限公司在中国 X 射线、极紫外的专注与近 10 年的积累，我们对于极紫外光学技术及中国有较为深入的了解。而德国 optiXfab 公司于 2012 年开始商业化 Fraunhofer 研究所的 Mo/Si 多层膜专利技术，至今已经给客户生产了近 3 万片镜片，其中大多数都是半导体工业的客户，如 LLP 光源的收集镜及 Schwarzschild 物镜等。经过双方充分的讨论及密切合作，我们共同决定将在半导体工业应用成熟的镀膜技术推广到基于 HHG，激光驱动等离子小型极紫外光源的科研应用，针对中国市场联合推出 1 英寸的高性能 13.5nm 多层膜镜片，并在中国办公室备有库存，以实现镜片的快速交付。具体参数参数EUV多层膜平面反射镜 AOI = 5 °EUV多层膜平面反射镜 AOI = 45 °EUV多层膜球面反射镜 AOI = 5 °反射率R＞65% @13.5nmR＞67% @13.5nmR＞65% @13.5nm镀膜材料Mo/SiMo/SiMo/SiAOI5°45°5°Bandwidth (FWHM)appr. 500 pmappr. 950 pmappr. 500 pm基底fused silicafused silicafused silica尺寸25.4 ±0.1 mm25.4 ±0.1 mm25.4 ±0.1 mm厚度6.35 ±0.1 mm6.35 ±0.1 mm6.35 ±0.1 mm面形精度λ/20 @ 632.8 nmλ/20 @ 632.8 nmλ/20 @ 632.8 nm表面粗糙度σσσ曲率半径--500 mm 对于有需要的用户，我们还可提供反射率的实际测试服务。典型实测反射性能如下：除了标准的镜片以外，我们还可以根据您的实验需求定制，不同基底面形和尺寸、反射中心波长、带宽的镜片。定制镜片加工示例：13.5nm Schwarzschild物镜中心开孔球面镜B4C and Au 镀层同步辐射镜片北京众星联恒科技有限公司作为德国optiXfab公司中国区唯一授权代理商，为中国客户提供optiXfab公司所有产品的售前咨询，销售及售后服务。我司始终致力于为广大科研用户提供专业的EUV、X射线产品及解决方案。如果您有任何问题，欢迎联系我们进行交流和探讨。

5月17日，欧洲专利局宣布由清华大学副教授王振天和苏黎世联邦理工学院研究员 Marco Stampanoni 牵头的研究团队入选 2022 年的欧洲发明家奖。他们发明了一种新的 X 光诊断方法，可以进行乳腺癌更早期的扫描诊断，从而及早地发现乳腺癌。 这种创新性的诊断方法基于相衬成像技术，不仅能检测出组织吸收了多少辐射，还能检测出当辐射穿过不同密度的组织时是如何轻微地改变方向的，这些附加信息可以被有效捕捉到并处理成图像。这种新的方案在确保安全的辐射剂量前提下，能够极大地改善 X 射线成像效果，产生高分辨率图像。比起传统的乳腺 X 光检查，增强了 X 光图像的对比度，更容易辨别出乳腺癌的早期阶段，以便于医生趁着乳房肿瘤还很小的时候及早治疗。世界卫生组织的数据显示，乳腺癌是女性最常见的癌症，患病的风险也随着年龄的增长而增加。虽然受影响的主要是女性，但男性也可能患上乳腺癌。与任何形式的癌症一样，越早发现，存活的机会就越大。癌症的早期检测可以降低死亡率，王教授的研究有望帮助患者更快康复，降低治疗成本。免责声明：此篇公众号文章内容（含图片）部分来源于网络。文章引用部分版权及观点归原作者所有，北京众星联恒科技有限公司发布及转载目的在于传递更多行业资讯与网络分享。若您认为本文存在侵权之处，请联系我们，我们会在第一时间处理。如有任何疑问，欢迎您随时与我们联系。

引 言根据 X 射线和物质作用的不同原理和机制，目前主流的 X 射线光学元件可以大致分为四类：以滤片、窗片、针孔光阑为代表的吸收型组件；基于反射，全反射原理的各种镜片以及毛细管、波导等反射型器件；还有基于折射原理的各种复折射镜；最后是于衍射原理，如晶体、光栅、波带片等。吸收型反射型折射型衍射型滤片窗口针孔/光阑镜片：KB、Wolter、超环面镜……毛细管：玻璃毛细管、金属镀层毛细管复折射镜：抛物面CRL、菲涅尔CRL、马赛克CRL、……晶体光栅多层膜波带片今天我们将给大家介绍一下基于衍射机制的 X 射线晶体光学元件。X 射线与晶体作用原理由于 Si 和 Ge 等晶体的原子间距和X射线的波长相当，都在埃量级，所以 X 射线与晶体作用时就相当于是一个三维的体光栅，根据布拉格定律，X 射线会在晶体的晶格平面发生衍射，并满足以下公式。2d sinθ = kλ其中， λ 是入射 X 射线光束的波长；θ 被称为布拉格角，即满足上述布拉格公式时，X 射线被晶体衍射时的角度；λ 和 θ 两个参数通过晶面间的原子间距 d，在物理上联系在了一起。一旦为特定的衍射选择了确定的晶体材料后，晶面间距d就确定了；2d 值则规定了该晶体能发生衍射的最长波长；一般而言, 常用的布拉格角被限制在85°以内。从布拉格定律出发， X 射线光学晶体材料的选型原则如下： 波长范围和布拉格角共同决定了 2d 值的选择；材料能够耐受 X 射线束的通量及能量的能力；例如，有机晶体不能耐受高通量的 X 射线束，或反复的（较高通量的）X 射线束曝光；当需要对其进行弯曲时，有足够的机械能力；晶体的衍射/反射能力；然后可以通过晶体的成本来确定最经济的选择。Si、Ge 和 Quartz被公认为是具有最高质量晶格的晶体，在耐受高通量 X 射线光束的同时，其力学特性使得它们可以被加工成各种形状。同时，它们完全与传统晶体的波长范围范围相当。所以法国 Alpyx 公司选择了这三类晶体来制作高性能的 X 射线晶体光学元件。硅、锗和石英锭不同晶面可分析的波长范围，其他晶面请咨询我们Alpyx SAS法国Alpyx SAS成立于2015年6月，经过初始两年R&D项目的实践探索，2018年拿到了两项Johann / Johansson的设计专利。Alpyx 始终在探索晶体的各种可能性：通过探寻新的几何构型来提高晶体性能，根据仪器特性提出新颖的光学器件设计，并不断精细其工艺，尽可能交付接近理论值的理想晶体。通过对晶体的科学设计与塑形，将其集成到光学系统中，从而大大提高仪器的分析性能。至今，Alpyx 已经为许多科研院所以及工业客户供应了高质量的晶体，凭借其精巧的晶体几何/机械设计与卓越的晶体处理工艺，Alpyx 的产品得到了客户的高度认可，在业内也积攒了良好的口碑。产品线◾ 平面 X 射线晶体GeSi定向精度（二维）： +/- 5 min of arc （+/- 30 sec of arc 可咨询）取向，尺寸及厚度灵活可选◾◾ 一维、二维 Johann 和 Johansson 型晶体Johann非点对点聚焦工艺较简单、成本较低分辨率、灵敏度较差Johansson点对点聚焦工艺难、成本高分辨率、灵敏度高Johann 和 Johansson 晶体理论上可以在 X 射线束的子午方向上产生聚焦。Johann 构型也可用于 Von Hamos 结构中，垂直于 Rowland 圆平面以产生聚焦光谱。这两种可能性之间的选择很大程度上取决于罗兰圆的半径值和晶体的长度。只有 Johansson 才能完美聚焦，它要求高精度的加工，而 Alpyx 正是这方面的专家。 下图是使用 Alpyx 生产的大尺寸 Si(111) Johansson 晶体的测试结果，可以看到 Johansson 晶体绝佳的单色性：除常见的柱面 Johann /Johansson 外，二维聚焦的 Johann / Johansson 对 Alpyx 来说也是可能的。对于二维的 Johann / Johansson 来说，有子午面半径 Rm 和弧矢面半径 Rs 两个概念：Rm = 2 x RrowlandRs = Rm x sin2θ （θ为布拉格角）从以上公式可以看出对于低布拉格角，Rs m, 那么双曲就变得不可能了；弧矢曲率的使用仅限于一个布拉格角；弧矢曲率会给晶格带来额外的应力。基于目前的二维聚焦镜片的局限性，Alpyx 提出了两种专利新构型以解决以上问题：1. 当弧矢弯曲困难时，晶体将工作在固定的布拉格角度；2. 将多块晶体固定在测角仪上，以适用于一定范围内的每个布拉格角度。1. Alpyx专利的固定布拉格角镜片二维全聚焦光学镜片▪ XRD，同步 WDXRF 或 EDXRF(光束整形)▪ 更低的弯曲应力▪ 在子午方向 Johann or Johansson 构型将固定的晶体片段装配为柱面的 Johann 或 Johansson 构型：▪  使得二维晶体可以在在低布拉格角度工作▪  用于同步 WDXRF▪  低的弯曲应力▪  非点对点聚焦2. Alpyx 专利的自适应 X 射线晶体:  布拉格角度可调的 X 射线晶体Johann 或 Johansson 构型弧矢方向曲率半径可以调整到每个布拉格角的对应值此外球面，超环面，椭球面及锥形，对数螺旋面的弯曲晶体都是可以提供的。交付实例：Johann 110 mm x 30 mm R 500 mm   Johansson 20 mm x 8 mm RRow 50 mm典型应用：粉末衍射Simultaneous WDXRF/EDXRF精细光谱◾◾◾ Channel cut由于 channel cut 晶体是从一块晶体切割来的两个面，故两个面的物理性质完全一致，每次衍射曲线完全重合，有很高的积分反射率；经过多次衍射后能够有效减小晶体自身的角宽度，因此，降低光束线的各级单色器的衍射角分辨可以有效提高出射线的能量分辨率。channel cut 具有调谐快、传输效率高、能带窄、准直性高、消色散和结构简单等优点。Alpyx 拥有切割和生产各种几何形状和尺寸的 channel cut 的专有技术，且其自有的 channel cut 表面处理工艺在晶体表面不抛光的情况下也能获得良好的强度和分辨率。交付实例： 典型应用：X 射线微探针扫描 X 射线光刻 HRXRD，SAXS常规和同步加速器上的光束聚光器◾◾◾◾ 零背景衍射板利用单晶衍射只产生衍射斑的原理，只需要选定合适的晶面切割便可在探测器上避开特定位置的衍射。使用晶体作为背景板，得到的 XRD 图是绝对干净的(X 射线上没有衍射)。即使在非常低的强度下，也可以很轻易地探测到样品的布拉格反射。零背景衍射板是粉末 XRD 完美的样品支架（在10 ~ 120°(2θ角Cu Ka)无背景噪声），且与大多数 XRD 设备兼容。同时 Alpyx 还可以提供晶体维修服务北京众星联恒科技有限公司作为法国 Alpyx 公司中国区授权总代理商，为中国客户提供 Alpyx 所有产品的售前咨询，销售及售后服务。我司始终致力于为广大科研用户提供专业的 EUV、X 射线产品及解决方案。如果您有任何问题，欢迎联系我们进行交流和探讨。

近年来，XAFS技术，包括X射线近边结构吸收谱XANES/NEXAFS (X-ray absorption near-edge structure) 和X射线精细结构吸收谱EXAFS (Extended X-ray absorption fine structure)，已成为在原子层面研究材料局域结构和化学反应过程的强有力手段，广泛应用于材料、催化、能源、纳米等热门领域。在实现对中心吸收原子周围化学环境分析的基础上，XAFS技术能够进一步研究原子尺度下的新奇的物理化学反应过程。然而，与其他常规光谱仪不同的是，这类表征技术通常需要依赖高通量的同步辐射光源。目前我国有XAFS表征需求的科研人员众多，但我国的同步辐射XAS表征线站机时极其有限，远远不能满足现有的测试需求，没有易获取的实验室级仪器设备极大地限制了XAFS技术在各领域的广泛应用。于是，越来越多的高端科研用户开始聚焦实验室桌面式XAFS系统。然而，实验室桌面XAFS与同步辐射XAFS技术相比，最大的挑战就是要发展具有高能量分辨率的实验室XAFS谱仪，从而获得高质量的XAFS谱图。德国HP Spectroscopy公司推出的高分辨率的实验室桌面NEXAFS系统proXAS，极大地提高了平场光栅元件有限的光谱分辨率，同时保留了较宽的光谱能量采集范围。得到的高质量NEXAFS谱图实现了E/ΔE = 1535的能量分辨率。另外，proXAS能够同时进行样品多个吸收边的测试，极大地推进了实验室桌面NEXAFS技术在材料化学分析领域的应用。proXAS采用激光驱动的XUV光源，并设置一定宽度的狭缝和像差校正凹面平场光栅对X射线能量进行调制和反射，能量范围可覆盖200eV - 1200 eV。相较于电子打靶产生硬X射线的成熟方法，在实验室内高效的产生软X射线的技术相对较新。proXAS利用脉冲激光轰击Kr气产生的1-6nm软X射线，来进行sXAS实验。截止发稿日期，proXAS仍是目前首台商业化的软X射线吸收谱仪（200-1200eV能段/透射模式）。以下是proXAS对几种有机物（PMDA-ODA聚酰亚胺、木质素、聚苯乙烯泡沫、黄原胶和乳酸钙）的C K边、Ca L边和O L边的测速结果。值得一提的是，为了得到高质量的NEXAFS谱图，每个样品均经过多次重复测试，而其化学性质并未因辐照损伤而发生改变。proXAS测得的几种有机物的 (a) C K边、(b) Ca L边及 (c) O K边吸收谱以下是proXAS的实测样品结果与相同样品的同步辐射测试结果对比1proXAS对4种含铁矿物（针铁矿、赤铁矿、水铁矿和Cca-2绿泥石）的O K边NEXAFS 测量结果（左）与同步辐射同类测试结果（右）2proXAS对PMDA-ODA聚酰亚胺的C K边NEXAFS 测量结果（左）与同步辐射同类测试结果（右）3proXAS对CeO2的O元素的K边的NEXAFS 测量结果（左），包含同类样品的同步辐射测量结果（右）毫无疑问，proXAS的出现，使得在常规实验室内利用XAFS技术进行软X射线范围内的固体材料结构分析成为可能，是在同步辐射以外进行XAFS光谱测试最理想的替代方案。让广大科研用户在实验室里实现足不出户，走进XAFS，对实现有机和无机化学领域材料XAFS技术的实验室应用具有积极的推动作用。关于HP Spectroscopy德国HP Spectroscopy公司成立于2012年，致力于为全球科研及工业领域的客户定制最佳X射线解决方案，是全球领先的科研仪器供应商。现可提供5-12keV的实验室硬X射线吸收谱仪hiXAS，以及200-1200eV的软X射线吸收谱仪proXAS，产品线还包括XUV/VUV/X-ray光谱仪，beamline产品等。主要团队由x射线、光谱、光栅设计、等离子体物理、beamline等领域的专家组成。长期与全球领先的研究机构的科学家维持紧密合作，关注前沿技术，保持产品的迭代与创新。众星联恒科作为HP Spectroscopy中国区XAS系统授权总代理商，为中国客户提供所有产品的售前咨询，销售及售后服务。我司始终致力于为广大科研用户提供专业的EUV、X射线产品及解决方案。如果您有任何问题，欢迎联系我们进行交流和探讨。免责声明：此篇公众号文章内容（含图片）部分来源于网络。文章引用部分版权及观点归原作者所有，北京众星联恒科技有限公司发布及转载目的在于传递更多行业资讯与网络分享。若您认为本文存在侵权之处，请联系我们，我们会在第一时间处理。如有任何疑问，欢迎您随时与我们联系。

混合像素探测器技术最初是为了满足欧洲核子中心（CERN） 大型强子对撞机LHC 粒子追迹需求而开发的。来自CERN和一些外部合作小组的研究人员看到了将混合像素探测器技术应用到高能物理以外领域的机会，于是Medipix1 Collaboration 诞生了。Timepix系列是从 Medipix系列开发演变而来的，用于探测单个粒子的探测以获得时间、空间、能量信息，历经Timepix2，Timepix3，目前Timepix4正在开发中，其目标是获得更好的空间和时间分辨能力。Timepix3 是一种通用集成电路，适用于读出半导体探测器和充气探测器，可以同时获得入射粒子或辐射的到达时间、空间及能量信息。与 Timepix1 相比，Timepix3具有更多功能、更好的时间分辨率和更先进的架构，可用于零抑制的连续稀疏数据读出。上一篇文章我们着重介绍了有关Timepix3芯片原理的基础知识：Timepix3芯片原理及应用介绍(原理篇)。这一章为应用篇，主要内容是基于Timepix3/Timepix芯片的光子计数、像素化探测器的最新应用。基于Timepix3/Timepix芯片探测器/相机 应用篇1基本Timepix3芯片的AdvaPIX TPX3电子探测器用于4D STEM四维扫描透射电子显微镜(4D STEM)可详细记录了电子在材料中的散射。4D STEM提供的好处是巨大的，它提供了丰富的数据，例如，通过质心或ptychography为基础的分析提供了高精度、高电子剂量效率的相位成像。然而，长期以来，需要在每个探头位置记录二维散射图像严重限制了4D STEM的扫描速度。近年来相机技术的进步大大提高了扫描速度，直接电子探测器的探测效率特别适合4D STEM。然而，即使是高帧率像素探测器，数据容易漂移，用于4D STEM，扫描速度仍然受到了显著限制，得到的数据容易漂移。高帧率像素探测器也不适合用于低剂量光束敏感应用。比利时安特卫普大学jo.verbeeck教授和他的研究团队基于Advacam公司的AdvaPIX探测器改造了一台基于事件驱动的 Timepix3 直接电子探测相机，将 4D STEM 停留时间降至 100 ns，比基于帧读出直接电子探测相机快几个数量级。同时用不同加速电压对探测器进行了表征，结果表明Timepix3直接电子探测相机特别适用于低剂量成像，和传统的 STEM 成像技术相比，可以在不影响停留时间的情况下提供丰富的数据。参考文献：Jannis, Daen, et al. "Event driven 4D STEM acquisition with a Timepix3 detector: microsecond dwell time and faster scans for high precision and low dose applications." Ultramicroscopy 233 (2022): 113423.2基于Timepix3/Timepix芯片的MiniPIX TP3探测器用于辐射源的探测RaDron项目旨在开发一种小型设备，用于快速定位静态或移动的伽马辐射源，并将其集成到一架小型自主飞机(无人机)中。将来，探测器将被改装成手持辐射成像仪，并作为手机附件使用。相关报道：用于快速定位辐射源的无人机系统-来自ADVACAM和捷克理工的专家正在将未来的愿景变为现实RaDron|用于自主搜索并快速定位伽马辐射源的辐射探测无人机系统项目进展顺利3用于软x射线成像和光谱应用的光子计数MCP/Timepix探测器微通道板 (MCP)探测器有以高空间分辨率 (参考文献：Tremsin, Anton S., et al. "Photon-counting MCP/Timepix detectors for soft X-ray imaging and spectroscopic applications." Journal of Synchrotron Radiation 28.4 (2021).4一种简单的实验表征和验证质子束轮廓的方法-基于MiniPIX TPX探测器MiniPIX TPX探测器，采用Timepix ASIC和 300 μm Si传感器（左）和从测量中获得的示例图像（右）。团簇是由水中铅直质子束混合辐射场中的不同粒子产生的。低LET、窄、卷曲的团簇是电子的典型特征，高 LET、宽、直的簇是高能带电重粒子（如质子）的特征，而低 LET、直的簇是光子的典型特征。在图像的右侧，显示了重叠簇的示例。质子治疗铅直束的精确表征对于任何治疗程序系统 (TPS) 的调试都是必不可少的。剂量分布特征包括在所谓的低剂量包络中测量质子束中心和远离中心的剂量剖面，并且需要具有几个数量级动态范围的复杂检测系统。来及芬兰、法国、捷克和意大利的研究团队使用了单光子灵敏的 MINIPIX TIMEPIX 探测器以及内部设计的支架来测量空气和水中的质子束剂量分布。研究人员使用各种能量质子束，验证了 MINIPIX TIMEPIX 探测器出厂能量刻度，将得到能谱与蒙特卡罗 (MC) 模拟能谱进行了比较。剖面剂量分布测量的精度用克拉科夫质子设施调试数据进行了验证，用 MC 代码 GATE/Geant4 和 FRED 进行剂量分布模拟。MINIPIX TIMEPIX 测量和模拟之间有极好的一致性，证明了该系统对质子束进行简单表征和验证的可行性，表明此方法可以在任何质子治疗设施中实施，以获取调试、验证分析和基于蒙特卡罗(MC) 的治疗计划系统(TPS)所需的实验数据。参考文献：Stasica, Paulina, et al. "A simple approach for experimental characterization and validation of proton pencil beam profiles." Frontiers in Physics (2020): 346.5使用 CdTe Timepix3 探测器的能量敏感 X 射线相衬成像CdTe Timepix3 是一种光子计数半导体探测器，能够同时测量每个入射 X 射线光子的能量和到达时间。高空间分辨率和CdTe 的高量子效率，高效率使其可用于多种成像应用，例如 X 射线相衬成像 (XPCI)。XPCI 依赖于 X 射线在穿过样品时的相移。本研究侧重于自由空间传播 XPCI 和单掩模边缘照明 XPCI 方法，这两种方法非常适合实验室实施。由于这两种技术都对电荷共享高度敏感，基于Timepix3探测器获得的每个光子能量和时间信息，使用像素簇分析方法可以将电荷共享的影响减小到最低程度。此外，研究人员使用探测器的能量分辨能力研究了两种 XPCI 技术在 30kVp 源光谱中的性能。在这两种情况下，相位对比度和信噪比 (SNR) 都被评估为能量的函数。最后，对两种 XPCI 技术，证明了像素簇分析和能量选择用于相位衬度是可行的。参考文献：Navarrete, C., et al. "Energy sensitive X-ray phase contrast imaging with a CdTe-Timepix3 detector." 2019 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference (NSS/MIC). IEEE, 2020.6带有板载数据处理的小型化辐射相机用于宽强度范围混合辐射场在线表征-MiniPIX Timepix3 空间、放射治疗、环境和辐射监测等应用需要紧凑型仪器的远程和简化部署，同时需要实时评估数据。直接在探测器上处理数据，而不是在外部计算机/PC中处理，将是有价值且非常实用的。性能、处理速度、分辨率、功耗和检测器操作占空比之间的平衡是必要的。来自捷克、荷兰和波兰的研究团队基于MiniPIX TP3探测器设计这一套系统，提供了对于主要辐射成分、粒子通量和剂量率的有限分辨能力。参考文献：T. Poikela , et al., Timepix3: a 65K channel hybrid pixel readout chip with simultaneous ToA /ToT and sparse readout, J. of Instrum .JINST 9 (2014) C05013.C. Granja, J. Jakubek, S. Polansky, et al., Resolving power of pixel detector Timepix for wide range electron, proton and ion detection, Nuclear Instr. Methods A 908 (2018) 60 71.Granja, C., et al. "MiniPIX Timepix3—a miniaturized radiation camera with onboard data processing for online characterization of wide-intensity mixed-radiation fields." Journal of Instrumentation 17.03 (2022): C03019.相关报道：纳米卫星 VZLUSAT-2 发射，ADVACAM小型探测器开始新的宇宙探险时隔半个世纪NASA重启登月计划，如何保护机组人员免受太空辐射伤害Advacam S.R.O.源至捷克技术大学实验及应用物理研究所，致力在多学科交叉业务领域提供硅传感器制造、微电子封装、辐射成像相机和X射线成像解决方案。Advacam最核心的技术特点是其X射线探制器（应用CERN Timepix、Medipix芯片），没有拼接缝隙（No Gap），因此在无损检测、生物医学、地质采矿、空间探测、艺术品鉴定及中子成像方面有极其突出的表现。Advacam与NASA（美国航空航天局）及ESA（欧洲航空航天局）保持长期良好的项目合作关系。2021年，spin off子公司Advascope专为电子显微镜EM应用提供定制化粒子探测系统。北京众星联恒科技有限公司作为捷克Advacam公司中国区的总代理，也在积极推广Timex / Medipix芯片技术，并探索和推广光子计数X射线探测技术在中国市场的应用，目前已有众多客户将MiniPIX、AdvaPIX和WidePIX成功应用于空间辐射探测、X射线小角散射、X射线光谱学、X射线应力分析和X射线能谱成像等领域。同时我们也有数台MiniPIX样机，及WidePIX 1*5 MX3 CdTe的样机，我们也非常期待对我们探测器感兴趣或基于探测器应用有新的idea的老师联系我们，我们可以一起尝试做更多的事情。

来自日本国立量子科学与技术研究所与日本ntt-at公司的研究人员，报告了配备强度监测器的sxrl光束线的开发以及自支撑mo/si多层膜分束器（bs）的效率特性，并对pmma进行了灵敏度评估以确认光束线的性能。结果表明，评估的灵敏度比具有纳秒脉冲宽度的等离子软x射线源的灵敏度高50倍，研究将有助于加速对 sxrl 辐照诱导现象的研究1. 研究背景及简介强烈的短激光脉冲与物质的相互作用使得在固体材料中产生强电子激发态和高温高压。由于这些相互作用，材料可以进行相和结构的修改。例如，激光烧蚀是一种从表面去除材料的过程，是激光脉冲与物质相互作用的直接结果之一。由于在自放大自发发射（sase）激光系统中，每发输出的能量波动较大。因此，为了将软x射线激光实验用于定量分析，必须对实验过程中获得的准确数据进行校正。来自日本国立量子科学与技术研究所与日本ntt-at公司的研究人员，报告了配备强度监测器的sxrl光束线的开发以及自支撑mo/si多层膜分束器（bs）的效率特性，并对pmma进行了灵敏度评估以确认光束线的性能。结果表明，评估的灵敏度比具有纳秒脉冲宽度的等离子软x射线源的灵敏度高50倍，研究将有助于加速对 sxrl 辐照诱导现象的研究。研究成果“soft x-ray laser beamline for surface processing and damage studies”于2020年4月发表在《applied optics》上。研究人员开了一种配备了强度监测器，并专用于烧蚀研究（如表面处理和损伤形成）的软x射线激光光束线装置。sxrl的波长为13.9nm，脉冲宽度7ps，基于ag等离子体增益介质的振荡放大器结构产生的脉冲能力约为200nj软x射线激光通过mo/si多层膜球面镜聚焦到样品表面。为了获得精确的辐照能量/通量，在束线上安装了由mo/si多层膜分束器和ccd探测器组成的强度监测器。mo/si多层膜分束器在45°入射角附近的反射率具有很大的偏振相关性。但是，通过适当评估分束器的反射率和透射率之间的关系，可以得出样品表面上的辐照能量可以从强度监测器上获取。该 sxrl光束线不仅可用于烧蚀现象，还可用于软 x 射线光学器件和抗蚀剂的性能评估。2.装置简介空间相干的sxrl脉冲是由用具有双ag带靶的振荡放大器中的ag等离子体增益介质产生。sxrl的每发脉冲的强度（波长13.9nm，脉冲持续时间7ps，输出平均能量为200nj每发）被厚度为0.1、0.2、0.5、1或者2um的zr filter降低。zr 滤光片可单独插入也可组合插入sxrl光束中。同时，zr滤光片还可用来阻挡来自ag等离子体增益介质的不需要的x射线辐射。强度监测器由mo/si多层膜分束器（bs）、zr filter、和x射线ccd相机组成。bs设计用于波长为13.9nmsxrl的脉冲、其入射角为45°。每个sxrl脉冲分为两束：一束透过bs向多层膜球面镜传输，一束被bs反射到x射线ccd相机上。ccd记录sxrl光束的空间强度分布并用作强度监测器。安装在bs和ccd之间的zr 滤光片可以调节入射到ccd相机光束的强度，以保证其不会饱和，具体布局如图1。图1. 软x射线激光光束线示意图。由等离子源产生的sxrl 光束被分束器分成两束：一束由聚焦镜照射到样品表面，另一束被将传输到强度监测器。3. mo/si 多层膜分束器的光学性能为了从强度监测器获得的能量中推算出送到样品表面的辐照能量，必须确定辐照能量与被监测能量之间的关系。在评估校准比之前，必须了解mo /si多层膜分束器的性能特点。下图2显示了在kek-pf的bl-11d测量的不同时期生产的mo/si多层膜分束器的典型效率曲线。图(a) mo/si多层膜分束器的实测效率。效率曲线显示了s偏振软 x 射线的反射率以及s和p偏振软 x 射线的透射率，其入射角为45°。图(b) mo/si多层膜分束器的计算效率作为入射角的函数，入射软 x 射线的波长为13.9 nm。4. 强度标定为了从强度监测获得的检测值来得到样本表面的辐照强度,必须估计辐照和检测强度之间的关系。为了测量辐照强度，研究人员在球面镜前加了一个zr 滤光片，在球面镜后额外放置了一个mo/si多层膜平面镜和x-ray ccd相机。镀在平面镜上的mo/si多层膜涂层针对13.9nm的软x射线进行了优化，入射角为45°，因此mo/si 多层膜相对于平面镜反射 s 偏振分量。图3(a)和图3(b)分别展示了垂直分量和水平分量测量的实验设置。当平面镜被设置为反射垂直分量[图3(a)]时，可以评估辐照到监测器垂直分量的相对强度。如果将平面镜设置为反射水平分量[图3(b)]，则可以评估照射到监测器水平分量的相对强度。同时对校正实验中使用的mo/si多层平面镜的反射率、ccd相机的灵敏度和zr滤光片的透射率也进行了评估。图3：相对强度测量的实验装置(a)垂直分量，(b)水平分量。图中所示的ccd-4和ccd-5捕捉每个sxrl脉冲的辐照强度和监测强度图4(a)和图4(b)分别显示了sxrl脉冲垂直分量和水平分量的相对强度。 结    论研究开发了用于表面处理和损伤研究的sxrl光束线。束线配备了强度监测器，可提供作用在样品上的激光强度。为了从强度监测器获得的能量中获取辐照能量，研究评估了 mo/si 多层膜分束器的性能特征，然后评估了辐照强度和检测强度之间的关系。sxrl通过球面镜聚焦到样品上，平均焦斑估计约为 100 um2。因此，使用获得的辐照强度和光斑面积计算的最大通量约为 30 mj/cm2。这种能量密度足够高，可以在材料上产生烧蚀（损坏）结构。为了确认 sxrl 光束线的能力，研究展示了抗蚀剂材料的 sxrl 辐照，并研究了 pmma 的灵敏度。结果，获得的皮秒 sxrl 辐照灵敏度比典型的长脉冲 euv 辐照高约 50 倍。这一事实表明特定抗蚀剂设计对于下一代 euv-fel 光刻技术的重要性。sxrl 光束线将有助于加速对 sxrl 辐照诱导现象的研究。免责申明此篇公众号文章内容（含图片）均来源于网络。文章版权及观点归原作者所有，北京众星联恒科技有限公司发布及转载目的在于传递更多行业资讯与网络分享。若您认为本文存在侵权之处，请联系我们，我们会在第一时间处理。如有任何疑问，欢迎您随时与我们联系。

开 发 背 景混合像素探测器技术最初是为了满足欧洲核子中心（CERN） 大型强子对撞机LHC 粒子追迹需求而开发的。来自CERN和一些外部合作小组的研究人员看到了将混合像素探测器技术应用到高能物理以外领域的机会，于是Medipix1 Collaboration 诞生了。Medipix系列是Medipix Collaborations开发的、用于粒子成像和探测的像素化探测器读出芯片系列。Medipix1 芯片使用与 Omega3 粒子追迹芯片相同的前端电路，旨在允许在相当大的像素矩阵上进行单光子计数，其展示了该技术在高能物理以外领域的巨大潜力。为了进一步开发这项新技术并将其带入新的科学领域，Medipix2/3/4 Collaborations由此诞生，目前Medepix4正在开发中，主要目标是实现芯片可四边拼接及更高计数率。Timepix系列是从 Medipix系列开发演变而来的，用于探测单个粒子的探测以获得时间、空间、能量信息，历经Timepix2，Timepix3，目前Timepix4正在开发中，其目标是获得更好的空间和时间分辨能力。关于 Timepix3这里我们着重介绍一下已量产，并在多个应用领域大放异彩的Timepix3芯片。Timepix3 是一种通用集成电路，适用于读出半导体探测器和充气探测器，可以同时获得入射粒子或辐射的到达时间、空间及能量信息。与Timepix1 相比，Timepix3具有更多功能、更好的时间分辨率和更先进的架构，可用于零抑制的连续稀疏数据读出。Timepix3 可用于从 X 射线成像到粒子轨迹重建等多个领域。像素结构与Medipix类似，每个像素包含模拟和数字电路，原理框图如下：模拟部分电荷灵敏放大器(Charge Sensitive Amplifier, CSA), 反馈电容3fF，增益~50mV/ke-。CSA采用Krummenacher体系结构，可补偿探测器泄漏电流。可以处理正电荷和负电荷（由Polarity Bit极性比特设置）。一个比较器，比较基准为全局阀值Global Threshold每个像素的局部阀值调节DAC 4bit数字部分计数器Counter同步和控制逻辑电路(Synchronizer & Clock gating)超像素共用电路 - 高精度时钟(VCO)、像素读出等配置寄存器(Pixel Configuration Register, PCR)，6bit(Test bit、Local Threshold 4bit、Mask bit)处理流程像素收集的电荷经CSA放大，得到幅度与电荷量成正比，即与粒子在像素内沉积的能量成正比的电压信号，送入比较器；比较器的比较基准是全局阀值。当信号幅度超过全局阀值时，比较器输出方波，其上升沿是CSA输出电压超过阀值的时刻，下降沿是CSA输出在下降过程中低于阀值的时刻，也就是说比较器输出高电平的持续时间是信号过阈时间ToT（Time over Threshold）。比较器输出方波上升沿出现的时刻即TOA（Time of Arrival）时间，也是事件计数的时间基准。ToA和ToT数据的获得Timepix 3有两个时钟：全局40MHz低精度时钟（周期25ns），对应14bit ToA计数器。这个时钟一直工作；局部640MHz高精度时钟（周期1.5625ns），对应4bit ToA计数器。这个时钟间歇工作，启、停时刻如下图所示：比较器输出方波上升沿出现时，640MHz时钟开始工作；比较器输出方波上升沿之后、第1个40MHz时钟信号上升沿出现时，停止工作；FToA 累加此期间640MHz时钟脉冲数；比较器输出方波上升沿出现后的第1个40MHz时钟信号上升沿出现时，将全局ToA时钟计数器计数值锁存进像素ToA计数器（Timepix3每列都有一个全局TOA时钟计数器，这个计数器对40MHz时钟脉冲计数）。TOA就包括两个部分：高精度时间戳和低精度时间戳。TOT是比较器输出方波高电平持续期间内40MHz时钟的脉冲数。像素布局Timepix 3与Medipix 3相同，像素矩阵也是256 x 256方阵。为了简化高精度时间戳的实现和像素坐标的获取，256列像素被分为128个双列，每个双列又分成64个超像素（SuperPixel，由4×2=8个55μm×55μm 像素构成）。超像素示意图和像素地址编码如下：其中EoC_address为双列地址，128个双列地址编码需7 bit、SP_address为超像素地址，64个超像素地址编码需bit）、Pixel_address为像素在超像素中的位置，8个像素地址编码需3bit，共需要16bit。数据获取模式Timepix 3有3种获取模式（Acquisition Mode），每种模式又可以分为是否使用高精度时间戳。每种模式的数据包格式不同，即28bit计数器的内容和布局不同，如下表：注：FTOA = Fast TOA精度可达1.56ns，Dummy = 未用到，HitCounter 击中次数计数器读出模式两种读出模式：基于帧读出模式（Frame-based Zero-Suppressed mode），即曝光、读出、曝光、读出、……，类似于全帧式CCD相机的工作模式。数据（事件）驱动模式（Data-driven zero-Suppressed mode）：像素被命中后，数据随机被读出。两种模式都是只读出有数据的像素（zero-Suppressed）这两种模式使用相同的内部数据通路读出数据，只是数据读出的时刻不同。数据驱动模式在事件被记录完成后读出48bit的数据包，而基于帧读出模式在测量结束后读出数据。如下图所示：从上图可以看出，Timepix 3测量的开始和结束是通过“快门”（Shutter）控制的。两种读出模式，数据包都含有16bit像素地址和28bit数据。多芯片拼接时，通过Chip ID来区分是哪个芯片的数据。下期预告Timepix3芯片原理及多种应用介绍(应用篇)基于Timepix3/Timepix芯片探测器/相机的应用1基本Timepix3芯片的AdvaPIX TPX3电子探测器用于4D STEM2基于Timepix3/Timepix芯片的MiniPIX TP3探测器用于辐射源的探测3用于软x射线成像和光谱应用的光子计数MCP/Timepix探测器4一种简单的实验表征和验证质子束轮廓的方法-基于MiniPIX TPX探测器5使用 CdTe Timepix3 探测器的能量敏感 X 射线相衬成像6MiniPIX Timepix3 -带有板载数据处理的小型化辐射相机用于宽强度范围混合辐射场在线表征Advacam S.R.O.源至捷克技术大学实验及应用物理研究所，致力在多学科交叉业务领域提供硅传感器制造、微电子封装、辐射成像相机和X射线成像解决方案。Advacam最核心的技术特点是其X射线探制器（应用CERN Timepix、Medipix芯片），没有拼接缝隙（No Gap），因此在无损检测、生物医学、地质采矿、空间探测、艺术品鉴定及中子成像方面有极其突出的表现。Advacam与NASA（美国航空航天局）及ESA（欧洲航空航天局）保持长期良好的项目合作关系。2021年，spin off子公司Advascope专为电子显微镜EM应用提供定制化粒子探测系统。北京众星联恒科技有限公司作为捷克Advacam公司中国区的总代理，也在积极推广Timex / Medipix芯片技术，并探索和推广光子计数X射线探测技术在中国市场的应用，目前已有众多客户将MiniPIX、AdvaPIX和WidePIX成功应用于空间辐射探测、X射线小角散射、X射线光谱学、X射线应力分析和X射线能谱成像等领域。同时我们也有数台MiniPIX样机，及WidePIX 1*5 MX3 CdTe的样机，我们也非常期待对我们探测器感兴趣或基于探测器应用有新的idea的老师联系我们，我们可以一起尝试做更多的事情。

随着EUV/XUV产业及激光驱动X射线源研究的蓬勃发展，光刻和高分辨显微成像等应用对于极紫外、X射线光学元件提出了更高的需求，RITE掌握了先进独特的光学复制技术，可以提供高精度、高性能的EUV/X-RAY反射式光学镜片及解决方案。►先进的复制技术及超光滑加工技术根据X射线和物质作用的不同原理和机制，目前主流的X射线光学组件可以大致分为衍射、折射、吸收、反射四类。之前我们有对基于衍射的多层膜镜片做了简单介绍，有兴趣的可以戳这个链接：X射线多层膜在静态和超快X射线衍射中的应用。捷克RITE基于其先进独特的复制技术 (Replication technology)，聚焦“超光滑Super Smooth”掠入射反射光学器件的研发设计，定制开发速度快，质量高，工艺水平全球领先。拥有专利技术的工艺，能够商业化生产直径达300mm、段长达250mm，组合拼接后可达1000mm的光学器件。通过复制技术制作的光学元件具有低重量、超高表面精度(低斜率误差)和低表面粗糙度等特点。全反射镜的另一个有趣的特性是使用各种金属层作为涂层，最常用的材料有Ni、Au、Mo和Ru。▶ 超高表面精度和更低的表面粗糙度平均粗糙度 Ra (nm)均方根 RMS (nm)10 μm × 10 μm0.720.911 μm × 1 μm0.270.34Ru镀层的微观粗糙度面形误差精度使用Taylor – Hobson轮廓仪测量,抛光前测得RMS (Δr) = 1.14 μm，抛光后测得RMS (Δr) = 0.109 μm!▶ 更高的反射率金 vs. 钌Ruthenium-coated ellipsoidal optics，340mmx 90mm►►关于RITERigaku Corporation于2008年在捷克首都布拉格成立了Rigaku Innovative Technologies Europe s.r.o. (以下简称“RITE”)，配有多个专业的X射线实验室，作为日本理学在欧洲的 X 射线光学镜片设计、开发和制造中心。 随着EUV/XUV产业发展如火如荼，X射线各领域的研究也不断深入，RITE专为这两大类应用提供性能优越的光学元件。凭借自身在X射线、极紫外光学领域多年的积累，除了承担母公司理学在EUV/XUV、软X射线、硬X射线等设备的研发 (R&D) 任务以外，RITE秉承着开放合作的理念，也直接向全球的工业客户、实验室科研用户提供标准或定制型EUV/X-RAY光学镜片和高分辨间接X射线探测器等。RITE LaboratoryEUV Replicated Optic▶  极紫外、X射线复制镜复制镜典型参数光谱范围: EUV (60 – 200 eV)；软X射线（200-2000eV）；硬X射线 (2 – 10 KeV)镜片面形: 椭球镜（点对点聚焦），抛物面镜（平行光束），也可根据需求定制其他面形光学面材料: Au, Ni, Ru等R ≥50%典型表层粗糙度: Ra≈1- 2 nm典型尺寸: 直径D = 5 – 250 mm；长度L=10-140mm 成像几何椭球面光学元件Wolter la抛物面光学元件  Wolter lb     各类复制镜椭球镜, Au active surface, L-100mm各种不同规格尺寸的复制镜Wolter镜, Au active surface, L=100 mm   微反射镜嵌套镜椭球镜, Ni active surface, L＝100mm优秀性能150 μm圆光斑，水窗，镜长L = 60毫米，镀镍300 μm圆光斑，能量= 600 eV, 镜长L = 100 mm，镀镍300 μm圆光斑，能量= 100ev,镜长 L = 100mm，镀金▶  MFO多箔光学镜 (龙虾眼，KB镜组) -EUV/SXR大视场对于光学复制技术的扩展，RITE可以设计和生产多箔光学镜片(MFO)。多箔光学镜(Multi-Foil Optics, MFO)非常适合软X射线、EUV波段和大视场的应用，由两组相互垂直的极薄反射镜组成，光子通过掠入射角进行反射。可根据客户要求快速定制开发多种形状1D或2D的MFO（如龙虾眼，Kirkptrick-Baez组等）。•大视场：max ±60°•衬底：玻璃或硅•开口孔径：3x3 mm - 300x300 mm•箔层厚度：30μm – 1 mm•表层材料: Au, Ni, Mo, Pt, W, ...加工镜片示例性能展示MFO椭圆 KB系统能量范围: 80 – 120 eV焦长: 440 mm倍率: ~ 1:1视场: 20°聚焦光斑尺寸: ~ 0.5 – 1.0 mm外形尺寸: 100 x 100x 100 mm口径: 75 x 75 mm金镀膜镜片镜片间距：1 到 5 mm镜片间自由空间 (前视): 56%焦点细节 激光驱动氙气和氪气极紫外辐射的聚焦光斑强度分布。 几何构型龙虾眼镜片能量范围5 - 10 keV焦长: 1 000 - 1 200 mm倍率: ~ 1:1视场: 2°聚焦光斑尺寸: ~ 0.5 mm外形尺寸: 30 x 30 x 65 mm口径: 18 x 18 mm镀金镜片镜片间距0.3 mm镜片间自由空间 (前视): 56% 聚焦细节(FWHM = 19 arcmin)，光源80µm，8kev, MEDIPIX2探测器(CTU)。▶  应用方向水窗显微X射线光电子能谱X射线显微成像天文▶  参考用户德国BESSY 光源美国CYMER公司德国哥廷根激光实验室美国海军研究实验室美国国家标准与技术研究院美国加州大学日本NTT韩国LG荷兰国家应用科学研究院爱尔兰都柏林大学北京众星联恒科技有限公司作为捷克RITE公司中国区授权总代理商，为中国客户提供RITE所有产品的售前咨询，销售及售后服务。我司始终致力于为广大科研用户提供专业的EUV、X射线产品及解决方案。如果您有任何问题，欢迎联系我们进行交流和探讨。

混合像素探测器技术最初是为了满足欧洲核子中心-CERN大型强子对撞机LHC的粒子跟踪需求而开发的。来自欧洲核子中心-CERN 和一些外部合作小组的研究人员看到了将混合像素探测器技术转移到高能物理领域以外的应用的机会。于是Medipix1 Collaboration 诞生了。Medipix系列是由Medipix Collaborations 开发的一系列用于粒子成像和检测的像素探测器读出芯片。Timepix系列是从 Medipix系列开发演变而来的。其中Timepix芯片更针对于单个粒子的探测以获得时间、轨迹、能量等信息。 目前基于Timepix和Timepix3的探测器，由于其单电子灵敏、高动态范围及独特的事件驱动模式被广泛地应用于电子背散射（EBSD），4维电子显微（4D SEM）等领域。捷克Advacam公司是一家涵盖传感器制造、微电子封装、混合像素探测器（Timepix，Medipix）及解决方案的全产业链公司，致力于为工业和学术需求开发成像解决方案。ADVAPIX TPX3F与 MINIPIX TPX3F系列是基于Timepix3芯片的多功能探测器，其探测器与读出采用软排线连接，整个设计非常小巧，性价比高，非常适用于电子显微镜厂家将其二次开发并集成到现有系统中，以提升系统性能。▲ MINIPIX TPX3F探测器实物展示▲ ADVAPIX TPX3F探测器实物展示▲ 使用MINIPIX TPX3F探测器鉴别电子、质子，Alpha粒子及μ介子ADVAPIX TPX3F与MINIPIX TPX3F主要规格参数MINIPIX TPX3FADVAPIX TPX3F芯片类型Timepix3像素尺寸55 x 55 μm分辨率256 x 256 pixels传感器100µm，300µm，500µm硅，1mm CdTe 暗噪声无暗噪声接口高速USB 2.0超高速USB 3.0事件驱动模式最大读出速度*2.35 x 10^6 hits/s40 x 10^6 hits / s帧模式速率16fps30fps事件时间分辨能力1.6ns1.6ns*受限于Flex软排线实际长度测量模式类型模式范围描述帧读出模式（曝光后读出所有像素信息）Event+iToT10 bit + 14 bit每次曝光输出两帧数据：1. Events：每个像素中的事件数量2. iToT：每个像素中所有事件的过阈总时间iToT14 bit输出一帧：每个像素中所有事件的过阈总时间ToA18 bit输出一帧：ToA+FToA3 =第一个到达像素事件的到达时间像素/事件驱动模式（在曝光过程中，连续读出被击中像素信息）ToT+ToA10 bit + 18 bit每个像素的每个事件可同时获得: Position, ToT, ToA and FToAToA18 bit每个像素的每个事件可同时获得: Position, ToA and FToA.Only ToT10 bit每个像素的每个事件可同时获得: Position and ToTADVAPIX TPX3F与MINIPIX TPX3F像素/事件驱动模式最大读出速率测试：主要特点单电子灵敏零噪声耐辐射高动态范围无读出死时间主要应用(4D)STEM in SEM/TEMµED(microelectron diffraction)EBSDEELSPtychography应用案例ThermoScientific's™ Helios™ 5 UX DualBeam采用了Advacam的探测技术新一代 Thermo Scientific Helios 5 DualBeam 具有 Helios DualBeam 产品系列领先业界的高性能成像和分析性能。经过精心设计，它可满足材料科学研究人员和工程师对各种聚焦离子束扫描电子显微镜 (FIB-SEM) 的需求—即使是最具挑战性的样品。 Helios 5 DualBeam 重新定义了高分辨率成像的标准：高材料对比度、快速、简单和精确的高质量样品制备（用于 S/TEM 成像和原子探针断层扫描 (APT)）以及高质量的亚表面和3D 表征。新一代 Helios 5 DualBeam 在 Helios DualBeam 系列成熟功能的基础上改进优化，旨在确保系统于手动或自动工作流程下的最佳运行状态。参考发表文章Jannis, Daen, et al. "Event driven 4D STEM acquisition with a Timepix3 detector: microsecond dwell time and faster scans for high precision and low dose applications." Ultramicroscopy 233 (2022): 113423.Foden, Alex, Alessandro Previero, and Thomas Benjamin Britton. "Advances in electron backscatter diffraction." arXiv preprint arXiv:1908.04860 (2019).Gohl, S., and F. Němec. "A New Method for Separation of Electrons and Protons in a Space Radiation Field Developed for a Timepix3 Based Radiation Monitor."Mingard, K. P., et al. "Practical application of direct electron detectors to EBSD mapping in 2D and 3D." Ultramicroscopy 184 (2018): 242-251.ADVACAMAdvacam S.R.O.源自捷克技术大学实验及应用物理研究所，致力在多学科交叉业务领域提供硅传感器制造、微电子封装、辐射成像相机和X射线成像解决方案。Advacam最核心的技术特点是其X射线探测器（应用Timepix芯片）、没有拼接缝隙（No Gap），因此在无损检测、生物医学、地质采矿、艺术及中子成像方面有极其突出的表现。Advacam同NASA（美国航空航天局）及ESA（欧洲航空航天局）保持很好的项目合作关系， 其产品及方案也应用于航空航天领域。北京众星联恒科技有限公司作为捷克Advacam公司在中国区的总代理，也在积极探索和推广光子计数X射线探测技术在中国市场的应用，目前已有众多客户将Minipix、Advapix和Widepix成功应用于空间辐射探测、X射线小角散射、X射线光谱学、X射线应力分析和X射线能谱成像等领域。同时我们也在国内有数台Minipix样机，Widepix 1*5 CdTe的样机可免费借用，我们也非常期待对我们探测器感兴趣或基于探测器应用有新的idea的老师联系我们，我们可以一起尝试做更多的事情。

我们的朋友ADVACAM首席执行官 Jan Sohar 和 CSO Jan Jakůbek 获得了享有盛誉的 2021 年安永企业家奖安永企业家奖由四大之一的安永国际会计师事务所举办，这是唯一每年在六大洲的 60 个国家举办的此类比赛，此前的获奖者群星荟萃，包括戴尔计算机创始人迈克尔·戴尔，eBay创始人彼埃尔·奥米迪亚等。这项全球公认的奖项被商界确认为全球最具影响力的国际商业奖项之一，媲美电影界的“奥斯卡”。安永企业家奖采用国际性的准则作为评选标准，评选标准包括候选人的企业家精神、企业的财务表现、策略发展方向、对国家/全球的影响、创意等。为了在这一类别中获胜，获奖公司需具备创新技术的开发能力，同时以创新的方式孵化产品。通过表彰具有远见、领导力和成功的个人和公司的专业成就，支持企业家释放雄心壮志。来自捷克的科技创新企业ADVACAM一直是全球领先的光子计数、像素化X射线探测器制造商，与欧洲宇航局及美国宇航局保持深度合作，研发项目不计其数，公司数次接待过捷克总理等国家高层访问，产品在捷克及全球范围内多次斩获科技创新奖项。凭借这一荣誉，ADVACAM 再次证明了其在捷克的顶级技术领导者地位！ADVACAMAdvacam S.R.O.源自捷克技术大学实验及应用物理研究所，致力在多学科交叉业务领域提供硅传感器制造、微电子封装、辐射成像相机和X射线成像解决方案。Advacam最核心的技术特点是其X射线探测器（应用Timepix芯片）、没有拼接缝隙（No Gap），因此在无损检测、生物医学、地质采矿、艺术及中子成像方面有极其突出的表现。Advacam同NASA（美国航空航天局）及ESA（欧洲航空航天局）保持很好的项目合作关系， 其产品及方案也应用于航空航天领域。北京众星联恒科技有限公司作为捷克Advacam公司在中国区的总代理，也在积极探索和推广光子计数X射线探测技术在中国市场的应用，目前已有众多客户将Minipix、Advapix和Widepix成功应用于空间辐射探测、X射线小角散射、X射线光谱学、X射线应力分析和X射线能谱成像等领域。同时我们也在国内有数台Minipix样机，Widepix 1*5 CdTe的样机可免费借用，我们也非常期待对我们探测器感兴趣或基于探测器应用有新的idea的老师联系我们，我们可以一起尝试做更多的事情。

模块化 高性价比 X射线相衬 暗场成像套件与传统的X射线吸收成像相比，X射线相位衬度成像能够为轻元素样品提供更高的衬度，特别适合用于对软组织和轻元素构成的样品进行成像。目前主要存在5类相衬成像方式，他们大部分对光源的相干性要求极高，只能在同步辐射光源或者借助微焦点X射线源实现。而光栅法相衬成像，经过十多年的发展，已经成为在实验室实施相衬成像实验的主流技术路线。但是，高深宽比和大视场光栅的制作一直是困扰研究人员的一个痛点，LIGA技术的出现及成熟，使得此类光栅的制作变得更加的容易及可靠。基于X射线相衬成像的光栅利用Talbot自成像效应来获取有关X射线因折射和散射而产生的微小角度偏转的信息。这在医学成像和材料研究等各个领域都有潜在的应用。但是对于刚进入这一研究领域的科研工作者或者单纯想快速获得相衬图片的用户来说，繁琐的光栅参数模拟、全新开模制作光栅价格昂贵、精密平移台的选择及精密调节都将耗费大量的精力。为了解决这个问题，德国microworks公司推出了一套模块化、高性价比的X射线相衬、暗场成像套件-TALINT EDU。-TALINT套件-Microworks的TALINT EDU系统是一款结构紧凑、物美价廉的TALbot干涉仪套件。它是X射线Talbot-Lau干涉仪的巧妙简化形式，包括了建立和微调干涉仪所有必要的硬件，通过相位步进步骤来获得三种成像模式应用：吸收成像、相衬成像和暗场成像。使用者可以在不到半小时的时间内快速组装。对于这个简化的系统来说，图像采集是手动的，在相位步进过程中获得的图像非常适合于图像分析科学家。- TALINT EDU包装一览 -00:16Talint-EDU 套件主要参数套件规格套件尺寸 60cm x15cm x20cm安装EDU套件底板为M6螺孔，孔间距25mm的面包板，可安装于用户的光学平台或任何适合 25mm 间距的装置G0-G1和G1-G2距离 29cm，通过精密定位销固定；对称安装方案1：所有3个光栅角灵敏度的设计能量周期（光栅周期超过光栅间距） 40 keV 6.0 μm 21 μrad方案2：所有3个光栅角灵敏度的设计能量周期 21 keV 4.8 μm 16 μrad光栅有效面积G0: 15 mm ØG1: 70 mm ØG2: 70 mm Ø干涉仪微调可调整G1和G2绕光轴旋转角度两种光栅都可以用精密调节的螺旋千分尺绕光轴旋转样品放置可放置于靠近G1任意一侧相位步进闭环压电平移台，30nm分辨率 （包含控制器）条纹可见度 典型值>15%光栅组选项 （含3块光栅）标准规格参数设计能量-40 keV设计能量-21 keV光栅周期（3块）6.00μm4.80μmG0 G2 吸收材料及高度金＞150μm金＞50μmG0 G2 光栅占空比0.55（容差范围0.5-0.6）0.55（容差范围0.5-0.6）G0 G2 光栅衬底石墨 400μm石墨 400μmG1 相移材料及高度Gold 7.7 μm (40 keV)Nickel 7.4 μm (21 keV)G1 光栅占空比0.5（容差范围0.45-0.55）0.5（容差范围0.45-0.55）G1 光栅基底硅 200μm硅 200μm视场范围（样品）35mm35mmTALINT-EDU 为一维光栅对称结构，除上述标准光栅套组外，还可根据要求提供其他能量段，视场等定制光栅。应用示例1. CFRP拉伸试验试棒吸收像相位像暗场像- 相衬成像增强了空腔折射信号的成像衬度- 暗场成像增强了由纤维束引起的散射信号的成像衬度2. 裂纹损伤吸收像                                       暗场像- 暗场成像增强了发丝状裂纹散射信号的成像衬度3. 3D打印钛波纹管照片吸收像暗场像- 暗场成像增强了残留粉末散射信号的成像衬度Microworks 代理产品>德国Microworks公司基于及独特的LIGA技术，向广大科研用户提供定制化的微结构加工服务。其中，它的X射线透射光栅在相衬成像领域，有着极高的声誉。北京众星联恒科技有限公司作为Microworks公司中国区授权总代理商，为中国客户提供Microworks所有产品的售前咨询，销售及售后服务。我司始终致力于为广大科研用户提供专业的EUV、X射线产品及解决方案。如果您有任何问题，欢迎联系我们进行交流和探讨。