牛津涂层测厚仪243E

优势：

1、采用基于相位的电涡流技术，集测量精确、价格合理、质量可靠的优势于一体的手持式测厚仪。

2、专为金属表面处理者设计。配置的单探头可测量，铁质底上所有金属镀层-即使在极小的、形状特殊的或表面粗糙的样品上都可以进行测量。

3、易于用户控制，并且可以同X线荧光测仪的准确性和精密性媲美。

4、为了让客户能以低成本购买OXFORD-243E免去了对多探头、操作培训和持续保养的需要。

测量技术：

        一般的测试方法，例如一般测厚仪制造商所采用的普通磁感应和涡流方式，由于探头的" 升离效应" 导致的底材效应，和由于测试件形状和结构导致的干扰，都无法达到对金属性镀层厚度的精确测量。

        牛津仪器将最新的基于相位的电涡流技术应用到OXFORD-243E,使其达到了±3%以内（对比标准片）的准确度和0.3% 以内的精确度。

        牛津仪器对电涡流技术的独特应用，将底材效应最小化，使得测量精准且不受零件的几何形状影响。

        另外，仪器一般不需要在铁质底材上进行校准。

基本配置包括：

测量范围：

技术参数及功能：

ECP-M探头规格(mm)

OXFORD-243E是一款灵便、易用的仪器，专为金属表面处理者设计。配置的单探头可测量铁质底上所有金属镀层-即使在极小的、形状特殊的或表面粗糙的样品上都可以进行测量。这款测厚仪是紧固件行业应用的理想工具。采用基于相位的电涡流技术。

OXFORD-243E手持式测厚仪易于用户控制，并且可以同X射线荧光测厚仪的准确性和精密性媲美。为了让客户能以低成本购买。OXFORD-243E免去了对多探头、操作培训和持续保养的需要。

牛津涂层测厚仪

牛津仪器公司提供可靠的高一般的测试方法，例如一般测厚仪制造商所采用的普通磁感应和涡流方式，由于探头的" 升离效应" 导致的底材效

应，和由于测试件形状和结构导致的干扰，都无法达到对金属性镀层厚度的精确测量。

牛津仪器将最新的基于相位的电涡流技术应用到OXFORD-243E,使其达到了±3%以内（对比标准片）的准确度和0.3% 以内的精确度。牛津仪器对电涡流技术的独特应用，将底材效应最小化，使得测量精准且不受零件的几何形状影响。另外，仪器一般不需要在铁质底材上进行校准。ECP-M探头专为较难测量的金属覆层设计，此单探头可以测量

铁质底材上几乎所有金属覆层，例如锌、镍、铜、铬和镉。更小的探

针为极小的、形状特殊的或表面粗糙的零件提供了便捷的测量。