DRK-W系列 Mie散射理论德瑞克激光粒度分析仪,设备的***和所测样品的***性使得它在实验室的实验研究和工业生产的质量控制等诸多领域中得到了***的应用。例如:材料、化工、制药、精细陶瓷、建材、石油、电力、冶金、食品、化妆品、高分子、油漆、涂料、碳黑、高岭土、氧化物、碳酸盐、金属粉末、耐火材料、添加剂等以颗粒物作为生产原材料、产品、中间体等。
DRK-W系列 Mie散射理论德瑞克激光粒度分析仪,技术参数:
型号 DRK-W1 DRK-W2 DRK-W3 DRK-W4
理论依据 Mie散射理论
粒径测量范围 0.1-200um 0.1-400um 0.1-600um 0.1-1000um
光源 半导体制冷恒温控制红光固体激光光源,波长635nm
重复性误差 <1%(标准D50偏差)
测量误差 <1%(标准D50偏差,用***颗粒检验)
检测器 32或48通道硅光电二极管
样品池 固定样品池、循环样品池(内置超声分散装置)
测量分析时间 正常条件下小于1分钟(从开始测量到显示分析结果)
输出内容 体积、数量微分分布和累积分布表和图表;多种统计平均直径;操作者信息;实验样品信息、分散介质信息等。
显示方式 内嵌10.8寸工业级别的电脑,可连接键盘、鼠标、U盘
电脑系统 WIN 10系统,30GB硬盘容量、2GB系统内存
电源 220V,50 Hz
工作条件:
1.室内温度:15℃-35℃
2.相对温度:不大于85%(无冷凝)
3.建议用交流稳压电源1KV,无强磁场干扰。
4.由于在微米级的范围内的测量,仪器应放在坚固可靠、无振动的工作台上,并且在少尘条件下进行测量。
5.仪器不应放在太阳直射、风大或温度变化大的场所。
6.设备必须接地,***安全和***。
7.室内应清洁、防尘、无腐蚀性气体。
注:因技术进步更改资料,恕不另行通知,产品以后期实物为准。
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