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真空衰减法无损微泄露密封性测试仪
DRK 真空衰减法无损微泄露密封性测试仪，仪器适用标准如下：ASTM F2338使用真空衰变法无损检验包装密性的标准试验方法、SP1207美国药典标准。
DRK 真空衰减法无损微泄露密封性测试仪，完全符合 FASTM F2338-09标准和USP40-1207法规要求,基于双传感器技术,双循环系统的真空衰减法原理。将微泄漏密封性测试仪主机连接到一个特别设计用来容纳需要被测试的包装物的测试腔内。仪器对测试腔进行抽真空,包装物内外形成压力差,在压力的作用下包装物内气体通过漏孔扩散至测试腔内,双传感器技术检测时间和压力的变化关系,与标准值进行比较,判断试样是否泄漏。
产品参数：
真空度：0--100kPa
检测灵敏度：1-3um
测试时间：30s
设备操作：自带HM1
内部压力：常压
测试系统：双传感器技术
真空来源：外接真空泵
测试腔：根据样品定做
适用产品：西林瓶、安瓿瓶、预灌封(及其他合适样品)
检测原理：真空衰减法/无损检测
主机尺寸：550mmx330mm320mm(长宽高)
重量：20 Kg
环境温度：20℃-30℃
仪器配置
配:主机、真空泵、微型打印机、触摸液晶屏,测试腔
注：因技术进步更改资料，恕不另行通知，产品以后期实物为准。
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