2014/07/15 13:48
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城市污水中TOC与COD的关系
TOC与COD的测定方法不同。测定COD是采用强氧化剂和加热回流的方法,只能将水中的有机物部分氧化(氧化率较低),并且测定时间较长,即使目前一些快速的
环保
2017/11/16
Milli-Q IX 纯水系统:溶出度检测纯水解决方案
纯水是制备溶出溶剂或生物相关溶液的重要成分,因此水质的好坏会影响结果。一旦水质选择不当,就会引入污染物,主要有以下几种类型。使用高质量纯水来制备溶出溶剂,是获取精确、可重现结果并满足监管要求的重要保障。
制药/生物制药
2020/07/29
Epsilon 1 国六燃油版——硫氯分析性能媲美波谱仪
Epsilon 1 仪器主机和用户软件,针对燃料中的硫进行了符合ISO 13032 标准的出厂预校准。针对氯分析进行了预校准。验证标准样品。一个启动套件,用于制备 100 个液体样品杯进行分析。监控样品,使校准保持最新状态。
石油/化工
2022/08/11
Nexsa G2小束斑+特色SnapMap快照成像功能分析SnOₓ成分半导体器件
近几年来,随着国内科技产业的不断升级,对微电子器件的需求日益增加。特别是高科技产品的快速发展,比如智能手机、电脑、无人机、新能源汽车、智能机器人等,对高性能微电子器件的需求更是呈指数级增长,这使得微电子器件自然而然就成为人们研究的热点材料。在微电子器件的研究中,通常需要对微电子器件表面进行各种加工、改性处理,来使其具有不同的性能。由于X射线光电子能谱仪(XPS)是一种表面分析技术,随着商业化XPS设备的普及,其在微电子器件研究中的应用越来越广泛,逐渐成为微电子器件研究中不可或缺的分析手段。 本方案通过赛默飞最新一代XPS表面分析平台Nexsa G2,对半导体器件表面形成的窄条形SnOx成分进行小束斑+特色SnapMap快照成像测试,展示如何通过设备小束斑+成像功能,快速全面分析这类特殊小尺寸半导体器件表面成分及其在面内分布情况,来辅助评估表面处理效果及器件质量。
电子/电气
2023/01/10