您好,欢迎访问仪器信息网
注册
广州领拓贸易有限公司

关注

已关注

银牌12年 银牌

已认证

粉丝量 0

400-860-5168转2826

仪器信息网认证电话,请放心拨打

当前位置: 广州领拓 > 解决方案 > Silicon carbide ( SiC nano particles)粒度分析报告

Silicon carbide ( SiC nano particles)粒度分析报告

2015/01/29 15:56

阅读:80

分享:
应用领域:
发布时间:
2015/01/29
检测样品:
检测项目:
浏览次数:
80
下载次数:
参考标准:

方案摘要:

We recommend a dispersing time of minimum 30min in the ultrasonic bath LABORETTE 17!Measurement:ANALYSETTE 22 NanoTec plus with Wet Dispersion Unit.Sample preparation:dispersing in diluted tensid + 0,1% Na4P2O7 and 30min ultrasonic duration with LABORETTE 17. Dispersion:Wet in water Theory: Mie Theory Comments:we recommend a dispersing time of minimum 30min in the ultrasonic bath LABORETTE 17!

下载本篇解决方案:

资料文件名:
资料大小
下载
iliconcarbideinanoparticles.pdf
452KB
相关仪器

更多

退火炉 - GLO

型号:GLO

面议

陶瓷纤维箱式炉 - HTK KE

型号:HTK KE

面议

石墨箱式炉 - HTK GR

型号:HTK GR

面议

金属箱式炉 - HTK

型号:HTK

面议

相关方案

应用案例 | 鼎竑离子减薄仪GU-AI9000减薄氧化铝陶瓷

在利用透射电镜观察氧化铝陶瓷的晶粒形貌时,陶瓷的脆性和硬度给制样带来了一定的困难,而离子减薄对比机械减薄、超薄切片等方法可以有效避免样品破碎,因此本文采用离子减薄仪对氧化铝陶瓷进行透射电镜制样。

半导体

2024/06/17

晶圆绑定线的失效检测-离子研磨

晶圆绑定线的失效是非常常见的一种失效,针对此种失效可以先对失效点进行定位,然后选择离子束切割加电镜观察的方式进行切片分析。

半导体

2024/05/29

高质量超薄切片机UC Enuity

Leica UC Enuity 全新上线自动校准和自动修块功能,大大降低常规切片和连续超薄切片技术门槛,让您轻松掌握切片技术,为常规电镜表征和体电子显微学研究赋能。

其他

2024/05/13

利用3D扫描仪提高产品质量检测的效率

尺寸质量控制(QC)是一种测量制造零件尺寸的过程,以确保它们符合一系列规定的质量标准并符合客户的要求。而质量保证(QA)由一套程序组成,该程序用于防止制造过程中的不同阶段出现错误和缺陷,以避免向客户交付不合规的零件。

汽车及零部件

2024/05/10

推荐产品
供应产品

广州领拓贸易有限公司

查看电话

沟通底价

提交后,商家将派代表为您专人服务

获取验证码

{{maxedution}}s后重新发送

获取多家报价,选型效率提升30%
提交留言
点击提交代表您同意 《用户服务协议》 《隐私政策》 且同意关注厂商展位