激光共聚焦扫描显微镜能够实现样品普通光学显微观察(如明场, 暗场,偏光, C-DIC ,荧光等)的同时,也能够实现样品快速原位的高分辨三维表面成像,是材料研究分析的多维度和多尺度分析的解决方案,配置共聚焦荧光、 FLIM、STED、DLS和CRS等模块还能够实现生物材料样品高分辨荧光表征、荧光寿命、超分辨观察等研究。
01观察更多的洞察力
洞察入微
收集准确数据
Power HyD检测器系列提供更高的光子检测效率(PDE),较低的暗噪声,以及从410到850纳米的广域高灵敏度检测。
增强的图像质量
STELLARIS兼顾了图像的亮度、分辨率和对比度,可进行高分辨的金相分析。
光谱自由
新一代白激光允许同时使用多达8条来自整个光谱的单一激发谱线。与其他任何共焦平台相比,您可以对更多的荧光体组合进行成像,并同时使用更多的标签,同时将选择范围扩大到近红外范围。
信号检测超灵敏
与传统的光电倍增管 (PMT) 相比,光子检测效率 (PDE) 提高到2倍,在近红外一区内更是提高3倍。
02探索更多的高潜力
全新信息维度
尽在眼前
STELLARIS独特的TauSense技术能够从每个样品中提取额外的信息,并增加你的研究的科学影响。TauSense由基于荧光寿命的面向应用的成像工具组成,可以对材料进行表面缺陷定位和分析以及发光缺陷观察。
STELLARIS搭载荧光寿命成像功能,一种正交于荧光强度并可相互参照的成像模式。
崭新的信息维度
运用 TauContrast 可提供即时的功能信息,例如代谢状态、酸碱度和离子浓度,获得额外的维度以及崭新的、未曾探索过的深入视角,为您的研究带来巨大的潜在价值。
超越光谱的多维度
即使发射光谱波段完全重叠,TauSeparation技术也可能将样品组分分离。基于荧光寿命的信息可补充光谱信息,从而扩大同时检测通道的数量。
运用 TauGating 技术在保留目标信号的同时去除多余的自发荧光,从而提高检测效率。
即使有内在干扰信号,您仍可轻松地从样品中提取相关信息。
03完成更多的生产力
复杂成像
亦可化繁为简
简化的设置和采集。ImageCompass是STELLARIS的智能用户界面,为用户提供了一种简单直观的方式,即使是复杂的实验也只需点击几下就能设置好。
简单快速
通过LIGHTNING高分辨率、动态信号增强(DSE)和强大的AI功能AiviaMotion,实时、全速地提供高质量的图像。
直观的用户界面
ImageCompass引导你从实验设置到采集全流程。
优化你的实验
整合LAS X Navigator工具,快速概览全局,直观成像。
“拖-放”添加荧光探针
自动优化激发和检测
直觉化操作设计
自动配置成像参数
04共聚焦显微镜STELLARIS 5 & STELLARIS 8
STELLARIS 5
STELLARIS 5是一个重新设计的核心系统,树立了共聚焦显微领域的新标准。它是仅有的一个内置WLL的共聚焦系统,并与声光分光器(AOBS)以及新的Power HyD S探测器相结合。STELLARIS 5采用独特的TauSense新技术,在图像质量和所产生的信息数量方面树立起新的标准。智能用户界面ImageCompass可轻松、直观地引导您通过所有实验装置采集数据,获得优异的成像性能。
STELLARIS 8
STELLARIS 8是未来导向性系统,具有扩展光谱的WLL和专有的Power HyD系列探测器选项,不仅提供STELLARIS 5核心系统的所有优势,还有额外增添的功能。STELLARIS 8能够与所有徕卡显微系统模块相结合,包括快速寿命成像(FALCON)、光谱式多光子显微镜(DIVE)、nm显微镜STED、光片(DLS)和CARS。STELLARIS 8的新特点可更大程度利用这些模块的潜力,使您能够为科学研究树立起新的标准。
05产品应用领域
金属 / 高分子 / 陶瓷材料
表面粗糙度分析,高分辨金相分析,摩擦磨损分析, 断口分析,腐蚀研究, 原位分析。
微纳加工
结构分析,表面粗糙度分析,高深宽比结构表征,膜厚测量。
半导体和微电子
表面缺陷定位和分析、发光缺陷观察,表面粗糙度分析,膜厚测量等。
医疗器械检测
表面粗糙度分析,金相分析,膜厚测量,微生物观察等。
生物材料和医学
金属表面细胞生长研究,微生物金属腐蚀研究,植入物表面细菌生长表征等。
领拓仪器于2012年开始代理徕卡品牌,拥有十多年的经验积累和强大的技术支持团队。目前领拓仪器是徕卡显微镜的华南、西南授权代理商。
了解更多新一代共聚焦显微系统STELLARIS相关产品信息,欢迎前来咨询沟通。
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