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领拓聚焦 | 电子样品显微切片与无损检测技术研讨会
随着各行各业对电子产品的需求逐渐增加，电子元器件也逐渐变得更精密。对元器件的外观或更精细的内部微观结构的观察与检测也成为了检验其品质的关键。为加强技术交流，分享先进的制样方法经验。10月26日，电子样品显微切片与无损检测技术研讨会在松山湖材料实验室圆满落幕。
本次研讨会主要是技术交流与现场上机操作指导。参会人员不仅能现场交流分析与探讨电子样品显微切片与无损检测技术，更能现场近距离体验设备的操作与观察样品。
会议的开场由松山湖材料实验室研究员胡伟老师致辞，欢迎各方到来的来宾参加此次会议，并对松山湖材料实验室进行介绍。
随后由领拓的高级应用工程师任飞霖讲解了电子样品切片分析的常见问题解析及应用分享。再由领拓的高级应用工程师邹子康进行电子样品内部无损检测应用分享。最后由徕卡的高级应用工程师包沈源博士进行离子研磨技术在电子元器件的应用探讨。上半场的会议既有深刻的理论深度，又有宝贵的应用案例，干货满满，获得了现场参会人员的一致好评。
下半场对松山湖材料实验室进行参观，并进行现场上机操作指导。参观过程中，工作人员对松山湖材料实验室现有的设备进行了详细介绍。同时，领拓的应用工程师还为参观人员现场演示了样品的检测过程，就现场参会人员咨询的问题进行了详细解答及操作演示。
为了感谢大家的到来，领拓团队还为现场的参会人员派发抽奖券，开展抽奖活动，现场氛围活跃，大家都积极参与抽奖，争当幸运儿。抽奖活动结束后还贴心的为大家准备了茶歇以及午餐券。
领拓仪器对会议完美的安排以及在众多设备的加持与公司实力的并存下，客户的满意度直线上升。不少参会人员表示有机会的话下次还会参加。
领拓仪器精彩不断，只要您有检测需求，领拓仪器即可为您定制专项分析检测解决方案，期待下一个会议我们再相会。
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