芯片测试三箱式冷热冲击试验机

 三箱式冷热冲击试验机用于光伏组件、LED灯管、LED灯具、电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业，测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件，无一不需要可程式冷热冲击试验箱的鉴定。

 芯片测试三箱式冷热冲击试验机详细参数：

一、产品属性

1.1容积：100L

1.2工作室尺寸

500*400*500mm    (宽×高×深)

1.3 外形尺寸

1400*2000*2100mm (宽×高×深)

1.4 冲击形式

低温高温按程序自动交变，气动风门切换，换气式.

1.5供电电源

380V&plsmn;10%,50Hz&plsmn;1 三相四线+接地线，保护接地电阻小于 4Ω

1.6 总功率

15KW

二、主要技术参数

2.1 高温室

高温蓄温箱温度范围

+60℃～＋200℃

高温冲击温度

+60～150℃

2.2 低温室

低温蓄温箱温度范围

-10℃～-65℃

低温冲击温度

-10℃～-40℃

2.3.工作室

温度波动度

≤0.5℃

温度偏差

≤&plsmn;1℃

温度均匀度

≤2.0℃

高低温转换时间

5~15S

高低温恢复时间

3~5min（空载下非线性）

预热区升温速度

≥3℃/min（非线性）

预冷区降温速度

≥2℃/min（非线性）

2.4噪音

65dB

2、GB/T 2423.22环境试验 第2部分：试验方法 试验N：温度变化,

3、GJB 150.5军用装备实验室环境试验方法第5部分：温度冲击试验,

4、JESD 22-A106B.01-2016温度冲击 等