超越系列XP分析天平

梅特勒-托利多XP分析天平快速安全的满足所有称量需求，特别适合于例如制药行业的严格法规环境。

仪器特点/功能：
1. 采用高精度高分辨率后置式传感器，满足用户高精度的称量需求；
2.
具有中文界面的TFT彩色触摸屏(SmartScreen)，实现安全、便捷的天平操作；
3.
红外感应器(SmartSens)，实现无需用手接触的称量操作：开关门、打印、去皮等；
4.
网格秤盘(SmartGrid)，获得快速、准确的称量结果；
5.
水平控制系统(LevelControl)，在天平偏移水平位置时提供警告提示功能；
6.
专业级全自动校准技术(proFACT),温度漂移和时间触发的自动内置砝码校正和线性校正，获得精确称量结果；
7.
最小称量值(MinWeigh)功能，提供符合法规的称量帮助(需要梅特勒-托利多客户服务工程师现场设置激活)；
8.
天平校验功能(BalanceCheck)，自动提示用户使用外部砝码校正天平，确保称量结果始终准确；
9.
显示屏塑料保护罩，避免散落样品的腐蚀；
10.
标配RS232通讯接口和一个可用于蓝牙、以太网、LocalCAN、RS232和PS/2通讯接口选件插槽，方便连接打印机、电脑等外围设备；

?技术参数：
型号          最大称量值/可读性
XP205        
220g/0.01mg
XP105DR       31g/0.01mg,120g/0.1mg
XP205DR      
81g/0.01mg,220g/0.1mg
XP204         220g/0.1mg
XP504        
520g/0.1mg
XP504DR       101g/0.1mg,520g/1mg

应用领域：
梅特勒-托利多XP分析天平在例如需要符合美国药典(USP)或GMP/GLP规范的制药行业有着广泛的应用，同时也是获得至高称量准确度的完美解决方案。

主要型号：
XP205, XP105DR, XP205DR,
XP204, XP504, XP504DR