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Amptek FAST SDD C2 window/快速硅漂移探测器SEM应用
核心参数
仪器种类： 台式/落地式能量色散型X荧光光谱、XRF
行业专用类型： 电子产品
元素分析范围： Na~U
分析含量范围： 1ppm-99.99%
能量分辨率： 小于140ev
重复性： 0.1%
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Amptek FAST SDD™ C2 窗口针对SEM应用开发
图1，X -123快速SDD™C2窗口光谱仪结合真空装置
| Amptek推出全新SDD探测器，针对扫描电镜能谱仪客户应用（EDS SEM）利用全新技术“C”系列X射线窗口(Si3N4)，能够对低能量区域元素快速响应，新Amptek SDD™可以很好的测试元素碳(C)，高效率快速SDD™是EDS光谱仪最理想的方案。 |
图2, C2窗口传输效能图 | 元素C2窗口效能B19.7%C43.9%N59.2%O62%f69%Ne72.9%Na75.1%Mg77.3%Al80.3%Si81.8% |
图3，在真空环境下使用C2窗口快速SDD™，碳(C)元素光谱图
图4，使用快速SDD™ 测试Fe55光谱图4，Amptek低能量C2系列窗口对比 聚合物窗口 效能对比图
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AMPTEK探测器性能对比
理想的探头在极高的计数率下，分辨率时有限制的。在实际探头高计数率下工作时，信号处理中的峰化时间必须很短，而这样就降低了能量分辨率。本文档主要阐述了能量分辨率和计数率相关指标。
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2019/08/02
FASTSDD 规格参数
FAST SDD 是AMPTEK 性能最好的SDD，分辨率低至122eV。在保证分辨率的同时，最大计数率超过1,000,000CPS。FASTSDD 同 样可以搭载C 系列（Si3N4）低能窗口。
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2019/06/06
FASTSDD 探测器的实时数据
AMPTEK公司产品介绍，普通SDD和FAST SDD对比说明，了解AMPTEK最新型探测器的性能，通过FASTSDD实时测试结果显示，告知客户如何实现1000000的计数率。
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2015/01/15
AMPTEK INC.
公司地址
中国（上海）自由贸易区，富特东三路526号1号楼2层
客服电话
公司名称： AMPTEK INC.
公司地址： 中国（上海）自由贸易区，富特东三路526号1号楼2层 联系人： 蒋小虎 邮编： 200131 联系电话： 400-860-5168转2630
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