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日本三丰
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产品介绍
• 带目镜观察的小巧显微镜单元。适于检测金属表面、半导体、液晶基板、树脂等。
• 多种显微镜镜体通常用作适用于专业器械的OEM (原厂委制)产品，如那些利用YAG (近红外、可见、近紫外或紫外)激光*对半导体晶片进行检测和修补的设备。 *不保证激光系统产品的性能和安全性。
• 应用：切割、修整、校正、 给半导体电路做标记/薄膜(绝缘膜)清洁与加工、液晶彩色滤光器的修复(校正错误)。还可用作光学观察剖面图以便探针分析半导体故障。
• 可用于红外光学系统*。 应用：晶体硅的内部观察；红外光谱特征分析。 *需要红外光源和红外摄像机。
• 支持BF (亮视场)、DF (暗视场)、偏振光及微分干涉对比(DIC)的型号(产品)可用。• 带有孔径光阑的柯勒照明是表面照明光学系统上的标准配件。
• 内倾转塔和超长工作距离的物镜确保了显微镜下的高可操作性。
日本三丰为您提供三丰半导体检测用显微镜单元FS-70系列378系列，三丰FS-70系列378 系列产地为日本，属于其他，除了三丰半导体检测用显微镜单元FS-70系列378系列的参数、价格、型号、原理等信息外，还可为您提供更多其他,日本三丰客服电话，售前、售后均可联系。
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