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三丰表面粗糙度和轮廓测量系统SV-C3200/4500525系列

品牌: 三丰
产地: 日本
型号: SV-C3200/4500525系列
报价: 面议
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核心参数

产品种类: 接触式轮廓仪/粗糙度仪

产地类别: 进口

工作原理: 触针式轮廓仪

产品介绍

表面粗糙度测量功能

●粗糙度测量和轮廓测量一体机,极大的节约了安装空间

●高分辨力型Z1轴检出器作为标准件提供。Z1轴的最高显示分辨力为0.0001μm(测量范围为8μm时)。

●X轴内置高精度玻璃光栅尺,直接读取X轴移动距离,在高精度精准定位下,完成间距参数的评价。●检出器测力有4mN和0.75mN可选。

轮廓测量功能

●Z1轴(检出器)上配有高精度弧形光栅尺和新型测臂。高精度弧形光栅尺能直接读取测针的弧形轨迹,以实现高精度和高分辨力。与传统型号相比,新测臂使Z1轴测量范围增大了10mm同时减少了工件的干扰。测臂安装部采用了磁性链接件,单此接触就能完成测臂的装卸,提高了易用性。 

●专为SV-C-4500系列增加了以下两大特性作为轮廓测量系统的专用功能。 (1)装配双锥面测针,实现垂直方向(上下)连续测量,所获取的数据实现简单分析以往难以测量的内螺纹有效直径。 (2)测力可在FORMTRACEPAK软件中设置。无需调整配重和位置。

图片1.jpg

型号

SV-C3200S4

SV-C3200H4

SV-C3200W4

SV-C3200L4

SV-C3200S81SV-C3200H8ISV-C3200W8

SV-C3200L8

SV-C4500S4

SV-C4500H4

SV-C4500W4

SV-C4500L4

SV-C4500S8 |SV-C4500H8|SV-C4500W8

SV-C4500L8

•测量表面粗隨度时

量围 测范

X轴(驱动部)

100mm

200mm

Z1轴(检出器)

800um/80um/8um

直线度

(0.05+L/1000) pm L:驱动长度(mm)

(0.1+0.002L) pm L:驱动长度(mm)

分辨力IZ1轴(检出器)

0.01pm(800pm), 0.001 pm(80pm), 0.0001 pm (8pm)

测力

0.75mN (仪器货号末尾带"-1 "的型号)

4mN (仪器货号末尾带“2的型号)

测针针尖形状

60°, 2pmR (仪器货号末尾带F"的型号)

90, 5umR (仪器货号末尾带"2的型号)

对应尺寸

JIS1982/ JIS1994/ JIS2001/IS01997/ ANSI/ VDA

评价参数

Pa, Pq, Psk, Pku, Pp, Pv, Pz, Pt, Pc, PSm, PAq, Pmr(C), Pmr, P6c, Ra, Rq, Rsk, Rku, Rp, Rv, Rz, Rt, Rc, RSm, RAq, Rmr(C), Rmr, R(5c, Wa, Wq, Wsk, Wku, Wp, Wv, Wz, Wt, Wc, WSm, WAq, Wmr(C), Wmr, W<5c, Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2, A1,A2, Rx, AR, R, Wx, AW, W, Wte, Ry, RyDIN, RzDIN, R3y, R3z, S, HSC, Lo, Ir, Aa, Aa, Vo, Htp, NR, NCRX, CPM, SR, SAR, NW, SW, SAW

评价轮廓

原始轮廓、粗精度抡廓、滤波波纹轮廓、波纹轮廓、动圆波形原始轮廓、滚动圆波形轮廓、 包络残余线、DF轮廓DIN4776/ISO13565-1)表面粗糙度MOTIF (包络波纹轮廓在评价MOTIF 显示)

分析图

员荷曲线、振幅分布曲线、功率谱、目相关、Walsh功率谱、Walsh自相关、顶峰分布、

倾斜角分布、参数分布僭损量、重叠在抡廓分析可以用于面积等的原始分析)

曲线补偿

最小平方直线、R面补偿、椭圆补偿、抛物线补偿、双曲线补偿、二次曲线补偿.多顶式补偿 (自动或任意2~7次)、无补偿

滤波器

高斯濾波器,2CRPC75,2CRPC50, 2CR75,2CR50,鲁棒样条濾波器

轮廓测量

量围 测范一

X轴(驱动部)

100mm

200mm

Z1轴(检出器)

60mm (测臂水平位置±30mm)

宜线度

0.8um/100mm

2pm/200mm

精度

X轴(驱动部)

±(0.8+0.01 Dpm L:动长度(mm)

±(0.8+0.02L)|jm L =动长度(mm)

Z1轴(检出器)

SV-C3200 系列:±(1.4+|2H|/100)pm, SV-C4500 系列:±(0.8+|2H|/100)pm H:平位置上的测量高度(mm)

分辨力

X轴(驱动部)

0.05 pm

Z1轴(检出器)

SV-C3200系列:0.04,SV-C4500 系列 0.02

Z2轴(立柱)

1 um

测力

SV-C3200系列:30mN (可调使用重量)

SV-C4500系列;10,20,30,40, 50mN (根据软件转换)

测头方向

SV-C3200系列:垂直方向(向上/向下单独测量)

SV-C4500系列:垂直方向(向上/向根据配重调整)

,通用规格

Z2轴(立柱)移动量

300mm

500mm 700mm

300mm I 500mm 700mm

X轴倾斜角度

±45°

驭动 速度

X

0 - 80mm/s外加手动

Z2轴(立柱)

0 - 30mm/s外加手动

测量速度

0,020,050,10.20,51,02.05.01020mm/s


注:虽然天然石材测量桌的外观各有不同,但材料的稳定性是值得信赖的。
 


工商信息

企业名称

日本三丰

企业信息已认证

企业类型

信用代码

310115400084565

成立日期

2001-09-28

注册资本

80

经营范围

区内以精密测量仪器设备为主的仓储(除危险品)、分拨、展示、技术咨询及售后服务;国际贸易、转专口贸易、区内企业间的贸易及贸易代理;区内商业性简单加工及商务咨询服务;精密测量仪器设备及相关零件、附属品与相关软件的批发、佣金代理(拍卖除外)、进出口及其它相关配套业务:提供上述同类商品的维修、安装及技术服务。

日本三丰为您提供三丰表面粗糙度和轮廓测量系统SV-C3200/4500525系列,三丰SV-C3200/4500525系列产地为日本,属于进口轮廓仪,除了三丰表面粗糙度和轮廓测量系统SV-C3200/4500525系列的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供更多轮廓仪,日本三丰客服电话,售前、售后均可联系。
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