高光谱红外成像仪X20P-IR

高光谱成像仪 X20P

X20P机载高光谱成像仪是一款基于光场成像技术的高光谱成像（HSI）设备，其内核为20 MP的超高清CMOS传感器，实现了相当高的空间分辨率。该设备以画幅式成像方式高速获取超过160个光谱通道的高光谱图像，连续覆盖350~1000 nm的波长范围，高性能传感器保证了噪声被控制得非常低，双GigE摄像机接口保证了高达5Hz的图像帧率（1886*1886像素/帧）。

高光谱成像系统X20P-LIR

X20P-LIR 机 载 激 光 雷 达 红 外 高 光 谱 成 像 系 统 是 一 款 多 功 能 无 人 机 遥 感 设 备 ， 集 激 光 雷达 、热 红 外 及 高 光 谱 成 像 为 一 体 ，实 时 同 步 获 取 激 光 雷 达 、红 外 及 高 光 谱 图 像 数 据 。主 要 功能 包 括 :基 于 光 场 技 术 的 高 光 谱 成 像 ，光 谱 范 围 350~1000nm、 3.5MP 高 清 全 色 相 机 、测 距达 450m（ @80%Ref）的 固 态 激 光 雷 达 、大 面 阵 高 精 度 热 红 外 成 像 ；主 机 内 置 控 制 系 统 、高精 度 惯 导 及 固 态 存 储 ， 适 合 多 种 无 人 机 搭 载 使 用 。

X20P-LIR 机 载 激 光 雷 达 红 外 高 光 谱 成 像 系 统

X20P-LIR 机 载 激 光 雷 达 红 外 高 光 谱 成 像 系 统 是 一 款 多 功 能 无 人 机 遥 感 设 备 ， 集 激 光 雷达 、热 红 外 及 高 光 谱 成 像 为 一 体 ，实 时 同 步 获 取 激 光 雷 达 、红 外 及 高 光 谱 图 像 数 据 。主 要 功能 包 括 :基 于 光 场 技 术 的 高 光 谱 成 像 ，光 谱 范 围 350~1000nm、 3.5MP 高 清 全 色 相 机 、测 距达 450m（ @80%Ref）的 固 态 激 光 雷 达 、大 面 阵 高 精 度 热 红 外 成 像 ；主 机 内 置 控 制 系 统 、高精 度 惯 导 及 固 态 存 储 ， 适 合 多 种 无 人 机 搭 载 使 用 。

ET10便携式红外发射率测量仪

ET10 便携式发射率测量仪为一体式设计， 内置积分球、光源、探测器、 AI 芯片及微型控制处理器等组件， 彩色触摸屏操控， 配备金镜标准样品，并可提供 NIST 溯源标定。 ET10 利用内置积分球反射计，同时测量 3-5、 8-12μm两个光谱波段的 20° 方向发射率， 测量方法符合 ASTM E408 和 E1980 标准。美国 NRL 及 NIST 参与了本系列手 持式反射计产品的研发， 目前该系列产品已有众多国防、航空航天、能源、涂层等领域知名用户。 ET10 便携式发射率测量仪整机仅 2.1Kg， 符合人体工学，免按键式触控操作界面，可以在实验室或野外现场精确地测量材料表面的辐射能力。 ET10 主要用于测量不透明样品的发射率， 尤其利于对成型的大件样品检测及目标表面涂层的老化性能检测， 不受样品尺寸及场地限制，可快速测量，极为简便。