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核心参数
工作原理： 其它
成像方式： 干涉型
使用状态： 地面
产地类别： 进口
光谱范围： /
光谱分辨率： /
成像分辨率： /
视场(TFOV)： /
空间分辨率(IFOV)： /
帧频： /
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SOC-200 是一款高精度科研级BRDF测量系统，可以从可见到中红外波谱范围内全自动测量样品的BRDF，实现光学表面、油漆、涂层、液体和颗粒等双向反射分布函数（BRDF）制图。BRDF 数据可以提供研究材料光学性能所必须的方向反射信息，如表面能量散射的方向和强度。
主要特点：
n 光谱范围：0.35~14μm（基于检测器选项）
n 测量本底噪声：<10-3sr-1
n 可水平装置粉末和液体样品进行测量
n 重复性：＜本底噪声的5％
n 全自动测量四个角坐标 （Θ and Φ、入射及反射角）
n 集成电控单元，用于快速处理、显示和存储数据
n 自动带通滤光轮，一次性测量十二种多光谱通道。
n 支持斯特林循环冷却的MCT和InSb检测器，可以无人值守地全自动数据采集，自动切换标样样品测量
测量指标：
n 全半球双向反射分布函数（BRDF）
非偏振BRDF
线性偏振BRDF
n 双向透射分布函数（BTDF）
应用领域：
n 航空工业
n 国防
n 航天
n 行星探测
n 涂层领域
n 光学材料质量控制
技术参数：
项 目 | 参 数 |
测量项目 | BRDF、BTDF |
光谱范围 | 0.35~14μm |
角度范围 | ? Incident polar: Theta i Θi = 0° to 85° ? Incident azimuthal: Phi i Φi = 0° to 350° ? Reflected polar: Theta r Θr = 0° to 85° ? Reflected azimuthal: Phi r Φr = 0° to 360° |
角度精度 | 0.1° |
光谱滤波 | 标准商业化1英寸薄膜带通滤光片 |
自动化 | Θi，Φi，Θr，Φr，光源孔径，滤光轮和样品/参照X极 |
光源 | Quartz halogen lamp, and silicon carbide glower |
检测器 | Si, InGaAs, dual InSb/MCT |
本底噪声 | <10-3sr-1 |
样品尺寸 | 直径1英寸圆片、粉末、液体 |
运行 | PC控制，全自动测量 |
尺寸 | 53″W x 53″D x 75″H |
产地：美国
北京安洲科技有限公司
公司地址
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