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核心参数
工作原理： 推扫型
成像方式： 三维
使用状态： 地面/机载均适用
产地类别： 进口
光谱范围： 900~1700 nm
光谱分辨率： 2.75 nm
成像分辨率： 640x568
视场(TFOV)： /
空间分辨率(IFOV)： /
帧频： 60~120行/秒
SOC710 SWIR 短波红外高光谱成像仪是原型号SOC720的升级版，更轻便、快捷、精确；是一款高质量、高性能的科研级高光谱成像仪，光谱范围900~1700nm。具有卓越的高光谱分辨率 (2.75nm)， 成像分光计和高灵敏度的制冷型InGaAs 阵列检测器，使得SOC710 SWIR能够以16bit的数字分辨率同时收集640*568像素、288个波段的高光谱信息。其卓越的性能及成像质量，在同类产品中无出其右。
SOC公司具有40余年高光谱成像研发经验，具有多项高光谱成像领域专利。SOC还与美国NASA及国防部长期合作，并参与了多款太空望远镜的光学模块研发工作。
SOC710 SWIR为一体式设计，集成度高，开箱之后即可使用；具备内置平移推扫装置，不需另配扫描台，即可任意方向或直接垂直向下扫描；扫描速度与积分时间自动匹配。独特的内置扫描和双CCD设计，可以直接预览待测区域图像，内置平移式平移推扫设计成功地解决了外置扫描方式无法避免的图像畸变问题。真正的所见即所得！自动暗电流，自动匹配积分时间，预览图像自动提示曝光饱和，自动存储；可按预设的测量间隔长期无人值守全自动监测。系统采用SOC的HyperScanner 操作软件和SRAnal710™校准和分析工具进行标定和数据处理。SOC处理器以最优的测量速度快速获取光谱数据，数据以开放的BIL二进制格式保存，可以兼容ENVI等第三方数据分析软件，适应多种研究应用。严格NIST可溯源校准，数据准确可靠。
农业领域
- 精准农业
- 土地分类
- 水分胁迫
- 作物健康
- 种子品质
遥感科学
- 环境遥感
- 资源勘察
医学领域
- 病变组织分析
- 血糖分析
- X线断层摄影术
温度测量
- 火点监测
- 玻璃检测
- 燃烧分析
--温度分布
国防安全
- 伪装识别
- 边境安全
机械视觉
- 电子学和塑胶
- 晶片检查
- 食品药品
- 化学过程控制
技术参数：
SOC710 SWIR 短波红外高光谱成像仪 | |
光谱范围 | 900~1700 nm |
光谱分辨率 | 2.75 nm |
光谱波段数 | 288 |
数字光圈 | F/2.0 |
镜头焦距 | 8mm、12.5mm、16mm、25mm、35mm和50mm可选 |
扫描速度 | 60~120行/秒 |
测量速度 | ~10秒/Cube |
数字分辨率 | 14 bit |
像素 | 640x568 |
扫描方式 | 内置平移推扫 |
数据接口 | USB |
供电 | DC12V / AC220V |
产地：美国
企业名称
北京安洲科技有限公司
企业信息已认证
企业类型
信用代码
91110108797599195N
成立日期
2006-12-19
注册资本
800
经营范围
技术开发、技术咨询、技术服务;数据处理(数据处理中的银行卡中心、PUE值在1.4以上的云计算数据中心除外);销售电子元器件、医疗器械I类、计算机、软件及辅助设备、通讯设备、机械设备、自行开发后的产品;机械设备租赁;货物进出口、技术进出口、代理进出口;测绘服务。(企业依法自主选择经营项目,开展经营活动;依法须经批准的项目,经相关部门批准后依批准的内容开展经营活动;不得从事本市产业政策禁止和限制类项目的经营活动。)
北京安洲科技有限公司
公司地址
海淀区信息路2号C座7F
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公司名称： 北京安洲科技有限公司
公司地址： 海淀区信息路2号C座7F 联系人： 张先生 邮编： 100085 联系电话： 400-860-5168转2592
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