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核心参数
产地类别： 进口
——科研极高精度全自动BRDF/BTDF测量系统
SOC-210是一款高精度科研级BRDF测量系统，可以从可见到中红外波谱范围内全自动测量样品的BRDF，实现光学表面、油漆、涂层、液体和颗粒等双向反射分布函数（BRDF）制图。BRDF 数据可以提供研究材料光学性能所必须的方向反射信息，如表面能量散射的方向和强度。
仪器特点：
※ 光谱范围：0.35~14μm（基于检测器选项）
※ 测量本底噪声：<10-3sr-1
※ 可水平装置粉末和液体样品进行测量
※ 重复性：＜本底噪声的5％
※ 全自动测量四个角坐标（Θ and Φ、入射及反射角）
※ 集成电控单元，用于快速处理、显示和存储数据
※ 自动带通滤光轮，一次性测量十二种多光谱通道
※ 支持斯特林循环冷却的MCT和InSb检测器，可以无人值守地全自动数据采集，自动切换标样样品测量
测量指标：
全半球双向反射分布函数（BRDF）
非偏振BRDF
线性偏振BRDF
双向透射分布函数（BTDF）
应用领域：
※ 航空工业
※ 国防
※ 航天
※ 行星探测
※ 涂层领域
※ 光学材料质量控制
技术参数：
项 目 | 参 数 |
测量项目 | BRDF、BTDF |
光谱范围 | 0.35~14μm |
角度范围 | Incident polar: Theta i Θi = 0° to 85° Incident azimuthal: Phi i Φi = 0° to 350° Reflected polar: Theta r Θr = 0° to 85° Reflected azimuthal: Phi r Φr = 0° to 360 |
角度精度 | 0.1° |
光谱滤波 | 标准商业化1英寸薄膜带通滤光片 |
自动化 | Θi，Φi，Θr，Φr，光源孔径，滤光轮和样品/参照X极 |
光源 | Quartz halogen lamp, and silicon carbide glower |
检测器 | Si, InGaAs, dual InSb/MCT |
本底噪声 | <10-3sr-1 |
样品尺寸 | 直径1英寸圆片、粉末、液体 |
运行 | PC控制，全自动测量 |
尺寸 | 53″W x 53″D x 75″H |
产地：美国
企业名称
北京安洲科技有限公司
企业信息已认证
企业类型
信用代码
91110108797599195N
成立日期
2006-12-19
注册资本
800
经营范围
技术开发、技术咨询、技术服务;数据处理(数据处理中的银行卡中心、PUE值在1.4以上的云计算数据中心除外);销售电子元器件、医疗器械I类、计算机、软件及辅助设备、通讯设备、机械设备、自行开发后的产品;机械设备租赁;货物进出口、技术进出口、代理进出口;测绘服务。(企业依法自主选择经营项目,开展经营活动;依法须经批准的项目,经相关部门批准后依批准的内容开展经营活动;不得从事本市产业政策禁止和限制类项目的经营活动。)
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公司地址
海淀区信息路2号C座7F
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