TPDRO 低金属含量分析

从中药中提取分离化合物，第一步需要将中药材中的成分用有机溶剂提取出来，包括常规的有机溶剂浸泡，超声提取，超临界提取和加速溶剂萃取（Aseeker-600型加速溶剂萃取仪）等，得到一份总提物。

Using Bruker’s Hysitron PI 88 SEM PicoIndenter equipped with tilt and rotation stages in conjunction with the QUANTAX EBSD system enables a more robust characterization of metallic materials by combining high resolution phase and grain orientation mapping capabilities with targeted nanomechanical property measurements. This combination could also be used to extend the scope of research related to other advanced textured, anisotropic, or multi-phase materials.

磷酸中杂质的监测对于其应用至关重要。除其它参数外，总有机碳还作为总量参数应用于质量控制中，用于评估有机杂质的整体污染情况。 本文主要对紫外-过硫酸盐氧化法和NDIR检测器对磷酸中TOC杂质的全自动质量控制进行验证。

近几年来，随着国内科技产业的不断升级，对微电子器件的需求日益增加。特别是高科技产品的快速发展，比如智能手机、电脑、无人机、新能源汽车、智能机器人等，对高性能微电子器件的需求更是呈指数级增长，这使得微电子器件自然而然就成为人们研究的热点材料。在微电子器件的研究中，通常需要对微电子器件表面进行各种加工、改性处理，来使其具有不同的性能。由于X射线光电子能谱仪（XPS）是一种表面分析技术，随着商业化XPS设备的普及，其在微电子器件研究中的应用越来越广泛，逐渐成为微电子器件研究中不可或缺的分析手段。 本方案通过赛默飞最新一代XPS表面分析平台Nexsa G2，对半导体器件表面形成的窄条形SnOx成分进行小束斑+特色SnapMap快照成像测试，展示如何通过设备小束斑+成像功能，快速全面分析这类特殊小尺寸半导体器件表面成分及其在面内分布情况，来辅助评估表面处理效果及器件质量。