Microvision+LCD/ OLED显示屏光学测试系统

Microvision+LCD/ OLED显示屏光学测试系统

系统简介：

SS445是一款LCD/ OLED显示屏光学测试系统专门设计于测量大屏幕显示屏。这个包括了投影显示屏高达电影院屏幕的尺寸，来自于任何一个现有的投影引擎技术。Microvision+LCD/ OLED显示屏光学测试系统采用了电动机械实现移动到所要的测试位置。系统配置了1.4MP CCD相机和/或者一个衍射光栅光谱仪。在操作中，系统是固定在显示屏的前方进行测试的。模式发生器或者Microvision的MVRemote是用于自动显示测试模式或者有需要的话可通过客户的系统生成图像。Microvision+LCD/ OLED显示屏光学测试系统专门设计于从观察器的角度来测量显示屏，由于是真实可见的因此能更好地测量出显示屏的性能。完全定义显示屏可快速地测量出多个观察器的位置。操作员进入到所要的测试位置（X和Y或者像素坐标），测试可实现全自动化，并且系统会自动找到以及在这些位置运行所要进行的测试。

测试性能：

SS445的测试性能包括了大型显示屏的所有类型测试。 这些系统的性能都由安装了什么传感器来决定的（相机和/或者光谱仪）。总的可测试参数如下：

CCD相机：

- MTF

- 线宽

- 几何图

- 收敛测量

- 亮度均匀度

- Jitter, Swim, Drift

- 伽马/灰阶

光谱仪

- 亮度

- 色度和色温

- 亮度和色彩均匀度

- 频谱图

- 伽马

- 对比度

- 色差

SS445 规格参数：

Pan&Tilt组件

- 分辨率：0.0032°

- 承载性能：9 lbs

CCD相机

- 图像传感器：1392x1040 pixels

- 数字视频：12-Bit

- 元素尺寸：6.45 μm square pixels

- 同步：Synchronous Capture

- 视场：20mm @ 1m, adjustable

- 工作区域范围：0.5 to 3.5 meters

- 数字变焦：Up to 32X

- 亮度精度：+/- 4% @ 2856k

- 亮度范围：0.05 to 106 cd/m2 with ND Filters

- 测量时间：<1 sec for most measurements

光谱仪

- 波长范围：380 to 780nm (1000nm opt)

- 亮度范围：0.01 to 500K cd/m2

- 亮度精度：+/-3% @ 2856 illuminant A

- 亮度重复率：RSD over 30 minutes 

- 色彩精度：+/- 0.002 @ 2856K

- 色彩重复率：+/- 0.0005 @ 2856K

- 集成时间：16.7 – 5000 msec (sync@60hz)

- 温度控制：Computer Controlled

- 光学：12mm Collimated

- 接受角度：1.5°

- 光学分辨率：3.8nmFWHM @ 100μm slit

- 校准：NIST Traceable

- 操作温度：5° to 30°C