Optikos+SMI表面形貌测量仪+隐形眼镜测量仪

Optikos+SMI表面形貌测量仪+隐形眼镜测量仪

隐形眼镜测量仪

SMI表面测量仪器

重新诠释无接触测试的速度和精度

SMI表面测量仪器

Optikos公司的SMI重新诠释无接触测试的速度和精度。SMI是一台快速测试球面、环面和非球面的表面形貌测量仪器。SMI以波阵面分析技术为测量面形偏差的手段，并且可以容易地测试非球面、环面，而不需要基准面。SMI可以配置测试:
- 微光学元件
- 球透镜
-  隐形眼镜模具

从光学元件到金属模具，可以测试:
-  曲率半径
- 圆环的半径和轴
- 锥形常数
-  表面误差

系统测量结果会用全表面图表来显示在微米量级的形状误差。SMI将从待测元件表面反射的波阵面与理论上完美球面的反射进行对比，然后表面偏移用Zernike多项式来表示。在几秒钟之内，SMI能够测试0.1微米范围内的形状误差、以及3微米范围内的半径误差。

系统标配
- SMI光学仪器
-  电脑系统
-  SMI软件包

SIM仪器的众多优势之一就是它的易用性。用户只需要将被测部件放置在SIM的平台上，然后按下按钮，SIM仪器就完成剩下的所有测试工作。系统会显示被测表面的二维或三维图表，其中包含曲率半径和锥形常数的数值结果。SIM软件包还包括了OLE编程界面，这让SIM仪器与生产线的数据库直接交流，并且可以跟质量监管系统无缝衔接。整个SIM仪器也非常紧凑便携，所需空间只比个人电脑稍大一点。

Optikos也可以定制的部件，扩大仪器的测量范围。

SIM特征：

- 无接触
- 一键操作
- 锥形常数与形状因子
- 精确度在微米范围内的表面测量
- 环面、非球面的测量
- 10秒钟以下的测试周期
- Zernike多项式
-  设计小而紧凑
- 标配0.28和0.42NA（数值孔径）物镜

产品规格：

软件

系统的软件包是整个SIM仪器的核心。SIM软件可以在Window 7 系统下运行。OLE界面提供SIM函数库，用户可以使用多种OLE客户应用程序，譬如Microsoft Word、Excel或者使用像Microsoft Visual Basic等工具来生成的程序，来调用SIM函数。SIM仪器生成的数据是不同应用程序之间可共享的，因此SIM不但是一台功能强大的测量仪器，而且是任何一个质量监控体系中重要的一个环节。全表面测绘可以快速测试环面和非球面，并且也不需要基准面。被测表面的测试结果会直接显示成二维或三维图表，其中包含曲率半径和锥形常数的数值结果。