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核心参数
产地类别： 进口
高分辨率数字显微镜摄像头
百万图素CCD ·2D测量 ·图像叠加 ·测试报告
ZeeCam提供清晰的实时数字图像,具有高分辨率数字图像处理所需的所有必要工具
多成像功能
自动对焦 ·深度测量 ·Z‐Stacking ·扩展景深 ·3D重构
3D表面测量
表面形状 ·粗糙度 ·波痕 ·阶梯高度
相比复杂，笨重，昂贵的系统，微相技术是表面形貌学测量的最快和最简单的方法
快速&精确的3D表面测量
ZeeCam在执行3D采集和分析时有着卓越和快速简便的方法.非接触式光学表面分析具有高度重复性.
·3D微米和纳米级的表面分析
·具有从光滑表面到粗糙表面的测量能力
·粗糙度和台阶高度测量符合ISO标准
·高吞吐量得益于快速采集和处理时间
广泛应用于材料科学的先进的数字成像技术
这种创新的ZeeCam光学器件实现了在实验室和车间研发，质
量控制的需要
·金属，油漆涂料，陶瓷，聚合物
·半导体材料
·宝石学，博物馆
·资料鉴证
技术规格
| ZeeCam型号 | DMC100 | DMC150 | DMC200 | |||
| 相机 | CMOS 1280 x 1024 5.20μm方形像素 | CCD 1616 x 1216 4.40μm方形像素 | 2560 x 1920 2.20μm方形像素 | |||
| 帧率 | 30fps @全分辨率 | 12fps @全分辨率 | 6fps @全分辨率 | |||
| 性能依赖显微镜的物镜的放大率例子 | ||||||
| 物镜倍率 | 5X | 10X | 20X | 50X | 10X | |
| 测量区域(X,Y)1, mm2 | 1.3 x 1.0 | 066 x 0.53 | 0.33 x 0.27 | 0.13 x 0.10 | 0.065 x 0.05 | |
| 横向X,Y分辨率2, μm | 2.8 | 1.4 | 0.9 | 0.5 | 0.4 | |
| 最大Z轴范围, μm | 1000 | 250 | 62.5 | 10 | 2.5 | |
| 纵向分辨率- DOF3, μm | 0.35 | 0.09 | 0.04 | 0.011 | 0.008 | |
| 纵向分辨率- EDF3, μm | 6.90 | 1.70 | 0.70 | 0.20 | 0.17 | |
| 测量时间4 | < 5 seconds | |||||
| 显微镜接口 | 视频口(C‐安装兼容) | |||||
软件&硬件 需求 | 7, XP or Vista - USB2.0 port | |||||
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