梅特勒 XS105DU 分析天平

     XS105DU分析天平展示世界领先的称量性能、无与伦比的符合人体工学的操作体验及先进的数据管理解决方案。

     它们完全遵循行业法规的要求，确保更高的生产效率并使操作更安全。采用高精度、高分辨率后置式传感器(sensor)

技术参数：
量程:双量程
可读性: 0.01/0.1mg
最大称量值: 41/120g
最大称量值重复性:（s） 0.1mg
重复性（s）: 0.02mg
线性: ±0.2mg

典型称量时间: 6s
防风罩有效高度（mm）: 235
秤盘尺寸（mm）: 78×73
天平外形尺寸（W×D×H）（mm）: 263×453×322

主要特点：

?采用高精度、高分辨率后置式传感器（sensor），以获得准确称量结果
?全自动校准技术（FACT）-温度漂移触发的天平自动内校（内部校准），内置两组砝码实现线性误差校准，确保称量结果的准确性
?变量程专利设计（DeltaRange）和双量程（DualRange）设计，满足客户对不同样品的称量需求
?革命性的网格称量盘（SmartGrid）、悬浮在称量室中的后挂称量设计，获得快速、稳定的称量结果
?易巧称量组件（ErgoClips），方便客户使用不同去皮容器进行称量
?触摸屏技术（Touch screen），方便天平称量菜单和参数设置
?可移动的显示控制终端，方便天平使用
?完全可拆卸的防风罩设计，实现天平的快速清洁
?内置RS232（串口）通讯接口，方便连接打印机、电脑等外围设备
?优化天平适应性的称量参数设置，满足不同称量环境要求
?具有简单称量、统计称量、公式称量、密度测定等内置应用程序
?e-Loader II软件，实现更便捷的天平软件更新