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万深推出SC-X0型面粉粉色麸星检测仪 新品
万深新推出的SC-X0型面粉粉色麸星检测仪或称小麦粉加工精度测定仪、麸星仪专用于测定小麦粉的粉色、麸星面积占比、麸星密度、最大麸星面积、黑点面积占比、白度、加工精度等级等指标。
其可全自动测定小麦粉的粉色（L、a、b表示）、麸星面积占比（试样表面麸星面积与试样表面积的比值%）、麸星密度（每cm2麸星个数）、最大麸星面积（mm2）、黑点面积占比（试样表面黑点面积与试样表面积的比值%）、白度（蓝光白度）。可根据小麦粉加工精度标准样品，全自动判定试样的加工精度等级（特制一级、特制二级、标准粉、普通粉），完全符合国家标准《GB/T 27628-2011粮油检验 小麦粉粉色、麸星的测定》、《GB/T 5504-2011 粮油检验 小麦粉加工精度检验》要求。
其最快30秒内可全自动检测完毕。测量精度达到：粉色0.01，麸星含量0.01%，白度0.01；同一试样两次测定的重复精度达到：粉色△E≤0.2，麸星含量≤0.2%、白度≤0.3。可自动判断筛网是否漏窜（最大单个麸星的尺寸与设定值比较）；其根据国家计量机构检定的标准白板，自动校正仪器；可实时显示检测画面和检测结果，并将检测结果和标记图像保存在电脑上；还可根据时间、品名、检验人等，任意查询数据及分析标记图像，并生成Excel表。
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