X射线荧光光谱仪

X射线荧光法是高效的材料分析工具。它广泛应用于镀层厚度测量，同时也适于进行元素分析。可以对几乎任意尺寸和状态的工件进行分析。粉末和糊状材料可以和固体或液体一样进行分析。FISCHERSCOPE® X-Ray XAN® 和XDAL系列是能量分散的高性能X射线荧光光谱仪，它可以对未知材料进行简单，快速而精确的分析。分析范围从铝（Al)到铀（U），即使含量很小也可以测量。
    这些独特的仪器之所以具有如此强大的性能，是因为它使用了带珀耳帖冷却的高光谱分辨率的半导体探测器和用于材料和多镀层分析的WinFTM® V6软件。
     如果与应用工具箱Gold Assay组合在一起，这些仪器系列也是FISCHERSCOPE® GOLDLINE ASSAY的一部分－－珠宝和贵金属领域快速、无损和精确测量金含量的理想设备。
     由于可检测元素范围宽至从铝到铀，使得FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL 的应用范围延伸至从工业到科学领域。无论分析应用于冶金上的，地质上的，石化上的还是其它种类的材料，FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL 都是一款强有力的和经济的光谱仪。
     大测量箱，可编程的X-Y工作台，X-射线从上往下的设计，X-射线发生管和接受器装配系统的Z-轴运行使得设备非常适合于几个被测物体的编程测量和扫描较大工件。
     独特的WinFTM® V6 i软件是该仪器的核心。它可以分析多达24种元素的材料，无须校验标准块，带预估测量精度，以及测量非常复杂的镀层系统。
技术参数
测量方向：          从上到下
Z     轴：          可编程
测试台类型：        可编程XY工作台
测试点放大倍数：    20--180倍
Amount of primary filters:  3
注：有全系列的X射线荧光光谱仪供应。