菲希尔荧光光谱仪

产品名称】 菲希尔 X-RAY XAN® 150荧光光谱仪

【备　　注】 FISCHERSCOPE X-RAY XAN 150是一部多功能的能量分析光譜儀，特別適合用於非破
壞樣品下測量鍍層的厚度及物料成份的測量。 
FISCHERSCOPE X-RAY XAN 150 是一部十分簡易操作的桌面式測量儀器，樣品對位十分簡單、快捷，儀器的 X-RAY 射線管及接收器都是安裝在儀器的底部，X-RAY 射線通過透明膠紙照射至樣品的底部，再配合專利的 DCM 計算功能這樣便可以測量一些不平或甚至內彎曲的樣品，操作時只需要對準需要測量的位置，之後再對測量點設定對焦，儀器便可以檢測到不同的測量距離，再在測量厚度時作出計算上的補償。內置的影像顯微鏡，可以清楚顯示及放大高至184倍的影像，及影像也包括了對測量點的位置﹝十字線﹞及測量點的大小。
在整體上，簡單易用的電腦軟件WinFTM，使測量的所有數據十分清楚顯示出來。XAN 150 光譜儀是採用完全密封式設計的儀器，符合德國的出口規定 8222;DeutscheRöntgenverordnung-RöV“。 

菲希尔 X-RAY XAN® 150荧光光谱仪一般技術規格
使用的範圍 能量散佈式的 x-射線光譜儀用於測量十分薄的膜層厚度，在合金中測量不同元素的含量。
元素的範圍 鋁 Al (13) 至 鈾 U (92) - 同時檢測多至24 元素。
設 計 桌面式，測量室的門是向上打開的。
測量的方向 由底向上照射
X-射線源
X-射線 管 微焦距管及採用鈹金屬為發射窗口
高壓可調節 10 kV, 30 kV, 50 kV
光束 大小 4x 可變更的 Ø 0.2 mm, Ø 0.6 mm, Ø 1 mm, Ø 2 mm, 或是可要求其他大小
基本 濾片 6x 可變更的(Ni; 無; Al 1000 μm; Al 500 μm; Al 100 μm; 密拉100 μm)
測 量 點 由準直器的孔至樣品面的測量距離來決定的，實際的測量點大小會顯示在樣品影像中的
十字線中間位顯示出來。
最小的測量點大小為約 Ø 0.3 mm
測量距離 0 ... 25 mm, 專利的DCM計算方法，在已校正的範圍內。 X-射線的接收 X-射線的接收器 硅元素偏移式接收器﹝須配合內置的制冷功能﹞
解像度 ≤ 150 eV (fwhm 在Mn-Kα線計算)
樣品的定位
摄像镜头 高解像的 CCD 彩色攝影機安裝在X射線的同一軸上，所以可以在測量中很準確的顯示測
量的位置。 對位的十字線及顯示測量點 的實際大小是可以校正其刻度
樣品燈光的照明是使用可調光度i 的 LED 燈
放大倍率 34x ... 184x (光學: 34 x… 46x; 數碼: 1x, 2x, 3x, 4x)
樣品的測量台
設 計 固定的測量台
可使用給樣品的面積 318 x 327 mm
最重的樣品重量 2 kg
最高的樣品高度 86 mm
電源的要求
電壓、頻率 AC 115 V 或 AC 230 V 50 / 60 Hz
耗電功率 最大120 W ( 不計算PC部分)
保護級別 IP 40 

菲希尔 X-RAY XAN® 150荧光光谱仪尺寸
外圍尺寸 闊 x 深 x 高 [mm]: 380 x 576 x 340
內部測量室尺寸 闊 x 深 x 高 [mm]: 合共: 318 x 307 x 29 – 86
不計算斜面面積: 318 x 203 x 86
重量約 42 kg
環境條件
溫度: 工作 10°C – 40 °C / 50 °F – 104 °F
溫度: 儲存/運輸0 °C – 50 °C / 32 °F – 122 °F
環境濕度 ≤ 95 %, 不凝結
計算器
電腦 Windows® PC 可加插擴充線路板
軟件 基本: Fischer WinFTM BASIC + PDM
可選配: Fischer WinFTM SUPER
標準
CE 認證 EN 61010
X-射線標準 DIN ISO 3497 及 ASTM B 568
認可 符合德國國家規則8222;Deutsche Röntgenverordnung-RöV“