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当前位置： 仪景通光学科技 > 最新动态 > 通知 | OmniScan X3 MXU / 5.2.0 新版本现已上线

通知 | OmniScan X3 MXU / 5.2.0 新版本现已上线

仪景通光学科技

2020/06/11 18:51

阅读：42

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1-1.jpg▲OmniScan X3


信心满满，昭然可见！ 这是奥林巴斯OmniScan X3探伤仪向用户传递的产品理念。这句话有何深意？它们恰当地描述了OmniScan仪器的强大性能：用户可以根据仪器屏幕上显示的信息，充满信心地做出正确的判读。

日前，奥林巴斯发布可用于OmniScan X3 探伤仪的软件升级版本：

OmniScan X3 MXU / 5.2.0，中国用户可以前往我们的官网进行下载更新。

 5.2.0 中的新功能 

 1. 可离线编辑扫查偏置
可从扫查计划、采集以及在分析过程中离线编辑扫查偏置
1-2.jpg

 2. 可离线编辑的探头方向和步进偏置


1-3.png


 3. 可离线编辑的TOFD的调色板（亮度和对比度）


1-4.png


 4. 在现场或分析过程中可离线编辑闸门


1-5.png

 5. 可离线编辑分析增益

1-6.png

 6. TFM TTT-TT设置 帮助检测管外径缺陷



1-7.png

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