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奥林巴斯用于腐蚀检测的双线性阵列相控阵探头五大优势

仪景通光学科技

2016/08/12 13:34

阅读:396

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腐蚀检查用DLA探头

   在石油和电力等行业中,结构老化会导致计划外的维护保养和安全问题。使用超声检测(ut)来绘制腐蚀图是结构完整性检测的一个关键步骤。

   使用传统UT时,超声波传递到管材,或其它部件,以检测无法用裸眼观察到的内部缺陷。可以手动使用双晶体UT探头来完成抽查,或使用电动双轴扫描仪来完成C-扫描成像。手动技术很慢,并且探头可能会遗漏缺陷部位。自动系统常常很笨重,并且需要使用既不安全、又不可靠的快速光栅扫描仪。

   为帮助客户能够对具有平滑表面的部件进行管壁缺陷或内部腐蚀检查,我们研制出了采用一发一收技术的新型双线性阵列相控阵(DLA)探头。在与omniscan® sxomniscan® mx系列相控阵缺陷检测仪组合使用时,这种新型探头把双晶超声探头与相控阵成像技术的优势结合在了一起。

    腐蚀检查用DLA探头的五个优势包括:

1.更大的声束覆盖范围

          DLA探头更宽的声束覆盖范围提高了检测的效率和缺陷检出率。常规UT探头的检查声束宽度是4.7 mm0.19英寸),而DLA探头的声束宽度是32 mm1.26英寸),因此,用户能够快速检查大面积区域,增加了探测到小缺陷的概率。


传统ut(左)具有4.8 mm0.19英寸)的有效声束,而dla探头(右)具有32 mm1.26英寸)的声束。

2.不再需要电动光栅扫描仪

   使用DLA探头后用户不需要再购置其它设备,比如电动光栅扫描仪。使用传统UT时,需要电动光栅扫描仪来创建壁厚的彩色编码图像(C-扫描),以评估异常情况。由于DLA探头具有更宽的声束,并且使用了相控阵技术,因此,用户只须用手移动探头,扫过检查区域,即可快速生成C扫描图像。

快速生成c扫描图像,无须购置更多的设备。

3.定位更小的缺陷

   用于监控腐蚀的一种常见传统UT方法就是管件上的手动点厚度测量。检查员通常会使用1/2网格,但这种方法可能导致检查员遗漏落在点测量之间的更小的缺陷。



          DLA探头中使用的更小的元件有助于检查员实施高数据点密度检查,其速度比使用传统双晶ut探头更快。更高的点密度使用户能够降低遗漏小缺陷的概率。

传统ut(左)的数据点密度与dla探头(右)的对比。

4.更好的近表面分辨率

          DLA探头使用了用于增加近表面分辨率的一发一收技术。采用DLA探头,检查员能够定位表面1 mm0.04英寸)以内的缺陷。这种特性对于定位关键缺陷极为重要,比如壁厚减薄和孔状缺陷。

 

发射阵列(左)独立于接收阵列(右),从而减少了界面回波,能够实施更好的近表面探测。

5.寿命长,便于使用

   硬质合金耐磨板有助于保护探头,延长探头的使用寿命。这种探头还拥有集成的探头固定系统,具有快速曲率调节的特性,具有可检测4英寸外径(OD)的曲面直到平面的能力。这种探头使用mini-wheel™编码器或versamouse™扫描仪,可随时实现编码数据获取,并且还提供了omniscan®设置文件,从而使用户能够快速地以最短的设置时间启动检查。

奥林巴斯DLA腐蚀探头。


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