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当前位置： 嘉德利达 > 资料中心 > 采用Ｘ线小角散射法评价亚纳米金粒子大小分布

采用Ｘ线小角散射法评价亚纳米金粒子大小分布

2017-11-20 14:50

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资料摘要：

测试仪器：样品水平式大功率Ｘ线衍射仪 RINT-TTRⅢ＋小角附件＋ 粒径・空孔径解析软件NANO-Solver 想得到什麽？ X线小角散射测试中、可评价粉末及液体分散微粒子、薄膜中分布的粒子及空孔大小分布。尤其可以评价ＴＥＭ及ＤＬＳ等难以评价的亚纳米粒子的平均大小尺寸以及分布。 测试・解析例 如下图所示、分散在有机溶媒中的金纳米粒子的测试结果。右图是根据小角散射测试结果估算出的粒径分布、与ＴＥＭ估算结果（直方图）叠加结果图 。

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