2023/12/29 17:12
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产品配置单:
浪声工业硅测试分析仪
型号: 工业硅测试分析仪
产地: 江苏
品牌: 浪声
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杂质元素的存在会影响工业硅的物理、化学性能及使用寿命。因此对工业硅中的成分进行分析至关重要。X射线荧光光谱法(XRF)被广泛应用于工业硅成分分析中,用于测定工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒等元素含量。适用于GB/T 14849.5-2014《工业硅化学分析方法 第5部分:杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法》 。
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XRF在铝土矿中的主成分测定中的应用
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