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XRF在工业硅成分分析中的应用
2023/12/29 17:12
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方案摘要：
产品配置单：
浪声工业硅测试分析仪
型号： 工业硅测试分析仪
产地： 江苏
品牌： 浪声
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方案详情：
杂质元素的存在会影响工业硅的物理、化学性能及使用寿命。因此对工业硅中的成分进行分析至关重要。X射线荧光光谱法（XRF）被广泛应用于工业硅成分分析中，用于测定工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒等元素含量。适用于GB/T 14849.5-2014《工业硅化学分析方法 第5部分：杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法》 。
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