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瑞士梅特勒-托利多超越系列XP超微量天平/分析天平/电子天平

产地: 瑞士
型号: XP26/XP26DR/XP56/XP56DR
样本: 下载
报价: 面议
产品介绍

最大化节省样品成本

超越系列至尊型XP微量天平——高性能微量天平
梅特勒-托利多正在改变着微量天平世界。超越系列XP微量天平特别适用将微量样品直接加入大的去皮容器中。有效避免了样品转移过程中的误差,从而为您大大节省了样品成本,尤其是在称量昂贵样品时。

XP U微量天平 XP26 最大称量值:22g
可读性:0.001mg
重复性:±0.0025mg
线性误差:±0.006mg
校正技术:ProFACT
典型稳定时间:3.5s
秤盘尺寸:40*40mm
XP U微量天平 XP26DR 最大称量值:5.1/22g
可读性:0.002/0.01mg
重复性:±0.002/0.008mg
线性误差:±0.01mg
校正技术:ProFACT
典型稳定时间:3.5/2.5s
秤盘尺寸:40*40mm
XP U微量天平 XP56 最大称量值:52g
可读性:0.001mg
重复性:±0.0025mg
线性误差:±0.006mg
校正技术:ProFACT
典型稳定时间:3.5s
秤盘尺寸:40*40mm
XP U微量天平 XP56DR 最大称量值:11/52g
可读性:0.002/0.01mg
重复性:±0.002/0.014mg
线性误差:±0.03mg
校正技术:ProFACT
典型稳定时间:3.5/2.5s
秤盘尺寸:40*40mm

工商信息

企业名称

广州德菲科学仪器有限公司

企业信息已认证

企业类型

信用代码

440106000143019

成立日期

2004-07-12

注册资本

200

经营范围

联系我们
广西德尔菲仪器设备有限公司/德菲科学仪器有限公司为您提供梅特勒托利多瑞士梅特勒-托利多超越系列XP超微量天平/分析天平/电子天平XP26/XP26DR/XP56/XP56DR,梅特勒托利多XP26/XP26DR/XP56/XP56DR产地为瑞士,属于天平,除了瑞士梅特勒-托利多超越系列XP超微量天平/分析天平/电子天平的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供更多天平,德菲仪器客服电话,售前、售后均可联系。

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