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用基本参数法对芯片进行定量分析

2015/09/07 15:27

阅读:199

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应用领域:
电子/电气
发布时间:
2015/09/07
检测样品:
检测项目:
浏览次数:
199
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参考标准:
00

方案摘要:

RoHs指令限制在电子电气设备中使用有毒物质。Xenemetrix公司研制的新一代的RoHS Vision运用高分辨率的探测器,软件集成相机以及具有可变光点尺寸的强大的X射线管来调节大小不一致的样品以及测量极低能级的限制物质。快速定量分析有助于生产商严格遵守新的规则。对不同基质,不同厚度,不同大小的样品自动识别基质成分并选择最佳采集参数。

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