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CMOS传感器的光谱响应和量子效率测试解决方案+CMOS传感器+光谱响应和量子效率测试
2019/11/19 11:15
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方案摘要：
产品配置单：
成像传感器量子效率测试系统-Labsphere蓝菲光学积分球单色光源
型号： SPECTRA-QT
产地： 美国
品牌： 蓝菲光学
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方案详情：
利用近朗伯特性光谱辐射光源表征CMOS传感器的光谱响应和量子效率
技术方案
根据应用的不同，每个CMOS传感器都会对入射到其上的光线做出不同的响应。 造成这种情况的因素很多，包括波长，入射角，成像光学系统，光阑和有效光敏面积。 传感器被表征为一个不带成像光学系统的焦平面阵列(FPA)，然后在成像应用程序中测试它们的用途。其中表征其特性的一个值是其光谱响应度或量子效率（QE）。 CMOS成像传感器的光谱响应度和QE由传感器的耗尽区对光子的吸收能力所决定。
在这个区域，光子被转换成电荷，随后被形成像素的电场所控制。然后，耗尽区所控制的电荷被转移并以电子方式测量。为了表征传感器的特性，需要一个已知的近朗伯表面的光谱辐照度照射在传感器。
商业挑战
客户在其消费电子产品中大量使用传感器。传感器的初始性能表征和选择适当的器件集成到其产品中，对其产品的性能，可靠性和品牌至关重要。
蓝菲光学解决方案
图1 成像传感器量子效率测试系统
该公司寻求Labsphere来设计，建造和交付一个全自动光谱辐射计光源，用来提供均匀的光谱辐照度。校准系统由稳定的紫外-可见-红外光源、单色仪、带中性滤光片和空白档位的滤光轮(用于暗校正)、监控探测器、积分球、控制有效f数的开孔、参考光电二极管和信号调节电路。该系统采用实时，可溯源的探测器来监控在传感器光敏面的光谱辐照度，同时客户还可以自定义视场角（FOV）。
目标 | 优势 |
为OEM产品选择合适的传感器 | 可靠产品质量和性能 |
通过一个系统来测试用户自定义照明条件下多个传感器 | 使用设计好的应用几何结构表征量子效率 |
优化测试时间 | 使用一个通用系统，可以对每个被测设备进行多项测试 |
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