K-MAC光纤光谱仪样本

OSP厚度测量仪(ST-4080 OSP)

OSP厚度测量仪(ST-4080 OSP)是K-MAC公司于2007年推出的OSP厚度测量系统。其主要客户面向PCB/PWB生产厂家和OSP研究机构。RoHS法规推行无铅制程要求后，OSP(有机可焊性保护膜)制程在PCB行业逐渐开始应用。ST-4080 OSP采用不损害样品表面的白光干涉法，具有自动调焦功能，可实时测量并提供平均厚度和详细三维表面轮廓信息。

OSP厚度测量仪(ST-2080 OSP)

OSP厚度测量仪(ST-2080 OSP)是K-MAC公司于2007年推出的OSP厚度测量系统。其主要客户面向PCB/PWB生产厂家和OSP研究机构。RoHS法规推行无铅制程要求后，OSP(有机可焊性保护膜)制程在PCB行业逐渐开始应用。ST-2080 OSP采用不损害样品表面的白光干涉法，提供平均厚度和详细三维表面轮廓信息，该手动型OSP测厚仪更适合普通客户的研究用测量。

薄膜厚度测量仪/测厚仪(ST系列)

研究用薄膜厚度测量仪ST系列是K-MAC公司于2000年推出的面向大学、研究所和中小企业推出的科研型薄膜测厚仪，其采用白光干涉法，不损害样品表面，使用简便，可快速测量100A至数十μm水准的厚度，最多测量膜层可达3层。ST系列测厚仪可用于半导体、平板显示、纳米技术、电子材料等众多领域的研究。

便携式表面等离子体共振分析仪(SPRmicro)

SPRmicro是K-MAC公司于2008年开发的微型低成本表面等离子体共振分析仪，其采用Krestschmann光学设计和微流控技术，通过测量折射率变化来检测生物大分子之间的相互作用。SPRmicro双通道微流模块可同时测量2个样品，通过USB接口与电脑连接后进行实验控制和数据采集分析。SPRmicro软件分为测量和分析部分，分析部分提供多种动力学拟合模型，方便不同类型反应的数据处理。