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基于CMOS平板探测器的X-Ray全自动盘料点数机应用

2017/11/07 13:31

阅读:196

分享:
应用领域:
其他
发布时间:
2017/11/07
检测样品:
检测项目:
物料点数
浏览次数:
196
下载次数:
参考标准:
CMOS平板探测器

方案摘要:

利用X光大角度透视的原理,得到盘料的X-Ray图像,通过软件分析,得到计数结果,相比传统的点料方式,大大的提高了工作效率,节约人工成本。

产品配置单:

分析仪器

CMOS平板探测器

型号: CMOS X射线相机

产地: 美国

品牌: Dexela

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方案详情:


一、基于X-Ray的盘料点数机和传统点料机区别


   

传统的点料方法:

 

1. 原理:

传统的盘装电子物料点数方法是将料盘上封装的物料一端拉出,连接到带有收料盘的装置上,经过不同方式的传感器,通过对封装物料相邻间差异的识别实现物料个体封装的识别和计数,从而实现物料点数工作。

 

2. 局限性:

 

1)此种方式点数周期长,若提高收料装置的牵引速度,可以一定程度上提高效率,但对物料包装的要求较高,以确保料带能够承受较大的拉力,物料的包装成本需要提高,所以由于牵引速度的限制,制约了点料速度的提高;

2)若封装空间里没有物料,此种方法会出现误判,从而影响点数精确度。

 

X-Ray点料方法:

利用X光大角度透视的原理,得到盘料的X-Ray图像,通过软件分析,得到计数结果,相比传统的点料方式,大大的提高了工作效率,节约人工成本。

              

  原理示意图

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 


 物料料盘                  X射线图像和软件分析结果

  

二、我司可以提供的产品

 

针对X-Ray点料机应用,我们可以提供高灵敏度和高动态范围的CMOS平板探测器,满足您多方面的需求。


 CMOS平板探测器,我们提供多种感应面积供选择,有12cmx7cm; 15cmx12cm; 23cmx7cm; 23cmx15cm; 29cmx23cm.最小像元尺寸75um

 

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