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用于CMM三坐标测量仪的粗糙度测量仪

2015-07-10 16:25

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CMM测试系统——用于CMM三坐标测量仪上的mini小型粗糙度测量仪,可测量样品的轮廓和粗糙度,可大幅度地降低测量成本。miniprofiler是现行最小的粗糙度测量设备。体积小、重量轻、测量速度快,适合各种形状的工件,特别适合在线测量
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