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牛津台式镀层测厚仪X-Strata920样本
2012-06-06 10:49
浏览：477次
分享：资料摘要：
快速可靠的X射线荧光镀层厚度测量及材料分析，低成本、高效率！
功能强大、性能可靠且操作简单的能量色散型X射线荧光光谱仪，确保品质的同时降低成本。
X射线荧光分析的优点
• 最少或无需样品制备
• 无损分析
• 可测元素范围广： Ti 22 to U92
• 可分析固体和溶液
• 分析快速：几秒内得到结果
• 定性、半定量和全定量分析
• 操作容易，只需要简单培训
• X射线荧光标准检测方法、规格和操作指导全球通用，可提高产品质量、
安全性，便于市场准入和贸易，增强客户信心。例如：
X-Strata920 符合：
–ASTM B568: X射线光谱仪测量镀层厚度的标准测试方法
–ISO 3497: 金属镀层 — X 射线光谱法测量镀层厚度
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